第七章电化学暂态测试方法(1)课件.ppt

1、第第7章章 电化学暂态测试方法电化学暂态测试方法 各种电化学测试方法与所获得的参数及用途7.1 电化学暂态测试方法概述7.2 电化学极化下的恒电流暂态方法7.3 浓差极化下的恒电流暂态方法7.4 恒电流充电法研究电极表面复盖层7.5 电化学极化下的恒电位暂态方法7.6 浓差极化下的恒电位暂态方法7.7 动电位扫描法7.1 电化学暂态测试方法概述 电化学暂态过程：从电极开始极化到电极过程达到稳态这一阶段称为暂态过程。 原因：电极过程中任一基本过程，如双电层充电、电化学反应或扩散传质等未达到稳态都会使整个电极过程处于暂态过程中，电极电位、电极界面的吸附复盖状态或者扩散层中浓度的分面都可能处在变化之

2、中，因此暂态过程比稳态过程复杂得多：C=f(x) C=f(x,t), Fick 1 2。 电化学暂态测试方法（技术）：利用各基本过程对时间响应的不同，使所研究的问题得以简化，达到研究各基本过程和控制电极总过程的方法（技术） 。 操作方式：电化学暂态测试技术也称为电化学微扰测试技术，就是用指定的小幅度电流或电压讯号加到研究电极上，使电极体系发生微弱的扰动，同时测量电极参数的响应来研究电极反应参数。 黑箱的研究原理：扰动黑箱的研究原理：扰动 黑箱黑箱 响应响应分类：随极化方式不同，可分为恒电流暂态、恒电位暂态、动电位扫描、交流阻抗法等等。特点：快速、简便，特别适宜于测定快速电化学反应的参数。1)在

3、扩散控制成混合控制的情况下，达到稳态扩散之前，电极表面坠附近反应粒子的浓度同时是空间位置和进间的函数，反应物的扩散流量与极化时间有关，或者说，决定浓差极化特征的物理量除了浓度C、扩散系数D之外，还有极化时间t。因此在C、D不变的情况下，可以通过改变极化时间 t 来控制浓差极化。扩散控制的暂态过程中，有效扩散层厚度可用 来衡量。若 秒，则 (按扩散系数 )。在这样靠近电极的液层里，对流的影响可忽略不计，因此暂态法是研究浓差极化的一种好方法。2)更重要的是，暂态法对于测定快速电化学反应动力学参数非常有利。因为对于浓差极化的影响，很难用稳态法测量快速反应动力学参数。若用旋转电极来缩小扩散层有效厚度，

4、则要制造每分钟几万转的机械装置，这是相当不容易的。若用暂态法，缩短极化时间，使扩散层有效厚度变薄，可大大减小浓差极化的影响。譬如，若能将测量时间缩短到10-5秒以下，则瞬间扩散电流密度可达每平方厘米几十安培，这样就可使本来为扩散控制的电极过程变为电化学控制。 Dt1t 0.006Dtcm52110Dcm秒 计恒电流暂态过程分析 将极化电流突然从零跃至i并保持此电流不变，同时记录下电极电位 随时间的变化,就是恒电流阶跃法,也叫恒电流脉冲法。 极化后的暂态过程中输送到电极上的电量一部分用于双电层充电,改变电极电位；一部分消耗于电化学反应。也就是说，在暂态过程中通过金属/溶液界面的总电流 i 由两部

5、分组成：一部分为双电层充电电流ic,一部分为电极反应电流ir，即: 电极反应电流ir也叫法拉第电流，因为这种电流是由电极界面的还原(或氧化)反应受(授)电子所产生,遵循法拉第定律。 双电层充电电流ic是由双电层电荷的改变引起的，其电量不符合法拉第定律，所以也称为非法拉第电流。criii 双电层充电电流ic： 第一项为电极电位改变时引起的双电层充电电流，第二项为双电层电容改变时引起的双电层充电电流。 当表面活性物质在电极界面吸脱附时，双电层结构发生剧烈变化，因而Cd 有很大变化。这时第二项有很大的数值,表现为吸脱附电容峰。但在一般情况上，Cd 随时间变化不大，第二项可以忽略。 因 得：ddcdd

6、CdCdqdiCdtdtdtdtddd td tcddddiCCdtdt 随着双电层充电，过电位增加，因此电极反应随过电位增加而加速：得：0expexpranFnFiiRTRT0expexpddanFnFiCidtRTRT 即：恒电流暂态期间，虽然极化电流i不随时间发生变化，但充电电流和反应电流都随时间发生变化。 因此，电极/溶极界面相当于一个漏电的电容器，或者说相当于一个电容和一个电阻并联的电路。 电路Cd表示双电层电容，Rr 表示反应电阻，此电路称为电极/溶淮界面的等效电路。与稳态法相比，暂态法的优点：与稳态法相比，暂态法的优点：1、由于暂态法的极化时间很短，即单向电流持续的时间很短，大大

7、减小或消除了浓差极化的影响，因而可用于研究快速电极过程，测定快速电极反应的动力学参数。2、由于暂态法测量时间短暂，液相中的粒子或杂质往往来不及扩散到电极表面，因而有利于研究界面结构和吸附现象。也有利于研究电极反应的中间产物及复杂的电极过程。3、暂态法特别适用于那些表面状态变化较大的体系，如金属电沉积，金属腐蚀过程等。因为这些过程中由于反应物能在电极表面上积累或者电极表面在反应时不断受到破坏，用稳态法很难测得重现性良好的结果。 7.2 电化学极化下的恒电流暂态方法 恒电流暂态法也叫控制电流暂态法，就是控制电极极化电流按指定的规律变化，同时测定电极电位（ ）等参数随时间( t )的变化。再根据 关

8、系计算电极体系的有关参数或电极等效电路中各元件的数值。 当用小幅度的恒电流脉冲迅号对处于平衡状态的电极进行极化时，浓差极化往往可忽略不计，电极过程只受电化步步骤控制。在这种情况下，可用恒电流暂态法测定反应电阻 ，微分电容 和溶液电阻 。 下面就常用的几种恒电流暂态技术讨论其基本原理和测试操作。 trRdClR一、一、恒电流阶跃法恒电流阶跃法 将极化电流突然从零跃至I 并保持此电流不变，同时记录下电极电位 随时间的变化,就是恒电流阶跃法,也叫恒电流脉冲法。 (2-30) 溶液电阻不可忽略的等效电路溶液电阻不可忽略的等效电路: 恒定电流 I , 极化很小时(要求10mV以下，最好5mV) ： 恒电

9、流充电曲线方程式恒电流充电曲线方程式因此,可以依据曲线的初值与稳定值获得溶液电阻溶液电阻和反应电阻反应电阻。由曲线初始斜率获得Cd：0dtICd d tEIRpIRl 充电时间常数 是衡量体系达到稳态需要的时间 4t(/)rldrldrlR RCRR CRR= 充电时间常数 rdR C当极化时间 时，过电位达到稳态过电位的98%以上，可以认为达到稳态了。所以，要想不受双电层充电的影响，就必须在 后测定稳态过电位，再求得 4t4trRpp二、断电流法二、断电流法 用恒电流对电极极化，在电位达到稳定数值后，突然把电流切断以观察电位的变化，这种方法称为断电流法，是恒电流法的一种特例。 1()0did

10、Ctdt 切断电流要用快速开关，以便在断电后10-6秒或更短的时间内测量或记录电位的变化。欧姆降在断电后立即(10-12秒)消失，所以不会包括在电位的测量中。因此断电后立即测得的电位等于不包括任何欧姆降的稳态过电位： 但是，如果研究电极上的电流分布不均匀，或者双电层不是均匀带电的，特别是多孔电极，溶液中或是电极相中的欧姆降并不能立即消失，还会有一部分包括在断电后立即测量的电位中。 在电极表面上没有氧化膜的情况下，电容通常不小于10F/cm2，因此即使电流密度高达100mA/cm2，衰减速度也往往不会超过10mV/s。而对于较低的电流密度和较高的Cd值，衰减速度将相应的减小，因此使电流密度高达1

11、00mA/cm2，误差也不会大于10mV，而且如果能在断电后10-6秒内测定电位的话，则可得更小的误差。 1ri R 但在电极钝化的条件下，会有更高的衰减速度。因为跨越钝化膜的电压会迅速下降，这就要求用更快的电子开关和快速响应的示波器进行测量，不致引起太大的误差。 当电极表面上存在着复盖层(如氧化膜)时，电极等效电路如图。 C1Z1为金属为金属氧化物界面间的空间电荷电容和具有阻抗特氧化物界面间的空间电荷电容和具有阻抗特征的电荷传递元件征的电荷传递元件;CZ为表示氧化物为表示氧化物电解液界面间双电解液界面间双层空间电荷电容和法拉第阻抗层空间电荷电容和法拉第阻抗;CmZm为元件表示以氧化物为元件表

12、示以氧化物为介质的两个界面间附加的电容为介质的两个界面间附加的电容,并联电阻为氧化膜电阻。并联电阻为氧化膜电阻。 当极化电流切断时，由于并联的电容元件Cm的存在，Rm上的欧姆电位降实际上不能瞬即消失。 因此，跨越氧化物的欧姆电位降将在某种程度上包含在断电法测得的过电位中。 跨越氧化物的电位降的衰减速度将取决于RmCm，从而取决于氧化物的性质。 然而在有氧化层的体系中，也会遇到衰减速度达104伏/秒或者更大的情况。 三、方波电流法三、方波电流法溶液电阻电压降 等效电路 方波极化方程式 B点切线斜率等可求双电层电容，反应电阻：1/ 22/11tRcrdrTRCrdei RRedBiCdd trRi

13、 稳态极化曲线溶液电阻（电压降）的测定 为研究电极与鲁金毛细管尖咀间溶液电阻的电压降 用示波器读每个测试每个测试电流电流的突变电压降突变电压降四、双脉冲电流法四、双脉冲电流法 如前所述，对于快速电极过程，单电流脉冲法受到双电层电容充电的限制。因为在电极发生浓差极化之前的短暂时间内，电流的主要部分为双电层充电电流，因而影响 Rr 的测定。 为此提出了双电流脉冲法：即把两个矩形脉冲电流迭加后通过电极，使第一个电流脉冲的幅值i1很大而持续时间很短，用这个脉冲对双电层进行快速充电；然后紧接着加第二个是流脉冲，它的幅值i2较小而持续时间较长。 A至B电位突跃是Rl引起： B至C电位渐升是对Cd充电: 由

14、此式获得Cd C至D的电位突降是由于Rl的i1突降为i2引起的： 如果调节第一个脉冲的高度和时间(即脉宽)，使t曲线在D点的斜率为零(即切线为水平线)，此时双电层即不充电，也不放电，所以i2全部是法拉第电流，这时的活化过电位 ，所以 : 获得了获得了Rl、Rr和和Cd。 由于第一个电流脉冲可消除双电层充电的影响，因此这种由于第一个电流脉冲可消除双电层充电的影响，因此这种方法适用于测量较小的方法适用于测量较小的Rr即较快的电极反应。即较快的电极反应。 1BAli R1()()cBdCBi ttC12cDliiR2ri R22()DAllri RiRR 上面讨论的是浓差极化可忽略的情况，大致相当于

15、极化曲线中电化学极化的电流范围内。也就是说，所用的电流脉冲足够小(小幅度运用)，以致电极电位只从平衡电位发生不大的移动。过电位一般不超过10mV，基本上不包括浓差极化。 但是，如果所用的恒电流脉冲的幅值较大(大幅度运用)且脉宽(持续的时间)较长，则电极表面反应粒子的浓度可趋于零，相应的电极电位发生很大的变化。这时过电位包括电化学极化和浓差极化(混合控制时)或者主要是浓差极化(扩散控制时)。 在这种情况下，由于浓差极化随时间而增长的干扰，使电位很难达到稳定值，从而造成测量Rr的困难。因此需要研究扩散控制或混合控制下的恒电流暂态规律。 7. 浓差极化下的恒电流暂态方法 未达到稳态之前，即在暂态期间

16、，反应粒子或产物的浓度同时是空间位置（以离电极表面的距离来表示）和时间之间的函数，即: 对于平面电极而言，在忽略了对流和电迁的情况下，由扩散传质引起的物质流量为 ，相应的扩散电流密度为： 若知道C(x，t)，就可求出由扩散控制的扩散电流密度。而C(x，t)要通过解扩散微分方程式求得: 根据菲克扩散第二定律可知: ,CCx tCDx0 xCinFDx扩22CCDtx一、恒电流暂态过程分析一、恒电流暂态过程分析 这是一个二次偏微分方程，只有在确定了初始条件和两个边界条件事才有具体的解。一般求解时，常作如下假定：(1)扩散系数D为常数，即扩散系数不随扩散粒子浓度的变化而变化。(2)开始电解前扩散粒子

17、完全均匀分布在液相中，可作为初始初始条件条件，即t=0时， C(x，0) = C0 式中C0为反应粒子的初始浓度。(3)距离电极表面无限远处总不出现浓差极化，可作为一个边一个边界条件界条件。即t=时， C(，t) = C0(4)另一边界条件另一边界条件取决于电解时电极表面上所维持的具体极化条件。 在恒电流极化下，极化电流保持不变。由式在恒电流极化下，极化电流保持不变。由式可知，可知，这一边界条件这一边界条件为：为：0 xCinF Dx扩0 xCixnFD常数根据上述初始条件和边界条件，菲克第二定律的解为根据上述初始条件和边界条件，菲克第二定律的解为: 0C()2ixxxtCerfcnF DDt

18、，22exp()4txDD t 式中erfc() = 1-erf()，称为高斯误差函数erf()的共轭函数。erf()和erfc()的数值在一般数学用表中可查到 误差函数erf()的定义：dyeerfy022）（2 . 0 恒电流极化时电极表面液层中反应粒子浓差极化的发展 表面浓度随时间变化曲线表面浓度随时间变化曲线1.t=0, 2.t=/16, 3.t=/4, 4.t=9/16, 5.t= 由公式和图可看出电极附近的反应物浓度不但与时间t有关，而且与离电极的距离 x有关。 还可看出，图中各曲线在x=0处的斜率始终保持不变。这是由于采用了恒电流极化条件造成的。 可获得各种粒子的表面浓度: x=

19、0时, 反应粒子的表面浓度随t1/2而线性下降, 当 时, 反应粒子的表面浓度下降到零,只有依靠其它的电极反应才能维持极化电流密度不变。为了实现新的电极反应，电极电位要发生突然变化。02(0)itCtCnFD，2i1022inFCtD2i 自开始恒电流极化到电极电位发生突跃所经历的时间称为“过渡时间过渡时间”,以 表示，可得过渡时间计算式：过渡时间计算式： 代入表面浓度式得表面浓度随时间的变化式表面浓度随时间的变化式： 22022()4n FD Ci12001tCtC，二、过渡时间二、过渡时间 的测定及其应用的测定及其应用 时间电位法：时间电位法：恒电流暂态中，不管电极反应可逆与否，过过渡时间

20、计算式渡时间计算式都是适用的。所以实验测得后，在己知n、C0的情况下则可计算D，在己知n、D的情况下则可计算C0，或者利用C0正比于 的关系进行定量分析。这种方法称为时间电位法，时间电位法，电化学分析称为计时电位分析法计时电位分析法。 从恒是流暂态实验得到的电位时间曲线上确定过渡时间并不困难。因为当 t = 时，电极表面上反应物浓度下降到零，这时电极电位必须突变到另一电极反应(如析氢或放氧等的电位。电位突变阶段的曲线斜率决定于双电层电容的充电。由于双电层充电所需的电量一般远小于反应物消耗至零所需的电量，所以电位突变阶段的曲线电位突变阶段的曲线近乎垂直于时间轴。在斜率最大处作切线与时间轴的交点切

21、线与时间轴的交点即为过渡时间 。三、可逆电极反应恒电流极化下的电位三、可逆电极反应恒电流极化下的电位时间曲线时间曲线 设电极反应: 且R不溶，即 =常数 在纯扩散控制下，电极表面上的电化学平衡基本上没有受到破坏，仍为可逆电极，能斯特公式仍然适用： 可得： OneR0RCt，0(0)RT +ln(0)otRCtnFCt，平，1122012RT +lnttnF平 对于R是可溶的可逆反应，可导出： 电位-时间曲线：11221142lntR Ttn F 在 时，有 ，这一性质可与稳态极化曲线上的半小电位相类比。 如果用 对 或 作图，可得 一直线，根据直线的斜率 能求出 的数值。 4t14tt1122

22、12lgt112212lgt2.3RTnFn四、不可逆电极反应恒电流极化下的电位四、不可逆电极反应恒电流极化下的电位时间曲线时间曲线 在混合控制下，且电极反应完全不可逆时，由于 可得 ： 式中ik为恒定的极化电流密度， 时的反应速度常数： K为标准平衡电位下的反应速度常数，即标准速度常数。ikiii/0,kanFinFK Ct expRT平12/01expOktanFnFK CRT/K 为 = 平0K /expanFKRT平平/k可得：此式电位-时间曲线：1/02lnln 1OkknFK CRTRTtanFianF 双电层电容充电时间 将曲线外推到t=0处，则 即不发生浓差极化，此时 完全决定

23、于电化学步骤的速度，因此: 又若将 对 在半对数坐标上作图， 可得到一根直线，根据直线的斜率可以求出n 的数值，再代入(D)式可求出K/，进而又可求出K。12ln10t/00lnOkknFK CRTtanFi 121tk（D） 如果电极反应较快、以致通过恒定电流所引起的过电位数值不大 ，则逆反应的影响不能忽略。这种情况下的数学处理很复杂，但仍可将电位-时间曲线外推到t=0处，以求得不出现浓差极化时相应于给定 i 的过电位 。这样，利用不同强度的恒电流脉冲一一求出相应的 值，然后画出曲线，即是消除了浓差极化后的极化曲线，从而获得电化学动力学参数。 1 0 0n毫 伏0t0t 用暂态法缩短测量时间

24、，可以有效地消除浓差极极化的影响。但也不是说，只要讯号发生器给出的电流脉冲的上升时间足够短，测量仪器的响应时间足够快，就能任意缩短测量时间。因为时间足够短时，双电层充电效应就不可忽视了。双电层充电所占的时间决定于电极的时间常数 ，在t 时,充电电流占极化电流中的大部分，（D）式不适用。 如果电极反应不太快，而选的极化电流i又不太高，以至于c，这样就可利用c t 这一段曲线外推，求出 的正确值。 cc0t 但是，如果电极反应太快，就必须采用较高的极化电流，以致 ，这时全部曲线的形状都将受到充电过程的影响而歪曲，因而无法正确外推到t=0处。由于 1/i2而c 1/i，故增大 i 时要比c减小得快得

25、多，用这种方法测量反应速度常数的上限大约为K 1厘米/秒。 在利用恒电流法暂态电位-时间曲线测定电化学参数时，必须选择合适的极化电流。电流过大，则太小，容易由双电层效应引起误差。若电流太小，则的数值大，扩散层延伸过长，容易受对流的干扰。 c7.4 恒电流充电法研究电极表面复盖层 电极表面复盖层有吸附的，也有成相的，它们的生成或消失都通过电化学反应，需要的电量符合法拉等定律。复盖层的消失过程中，消耗了外电流的绝大部分，所以在恒电流极化曲线上出现了一个“平阶”。 以平阶的过渡时间乘以外加恒电流 i 即为消耗于覆盖层的电量Q ，根据Q可以计算吸附覆盖层的覆盖度，或计算成相膜的厚度l 。 吸附覆盖度的

26、计算公式：吸附覆盖度的计算公式： 式中n为反应电子数，qe=1.610-19库仑,为每个电子的电荷，qe= F/N 0 =96500/6.02 1023, N 0为阿佛加德罗常数。N为电极表面的金属原子数，假设每个金属原子为一个吸附空位，则N的大小可由电极金属的晶格常数计算。S为电极实际表面积。 NSnqQe 成相膜厚度的计算公式：成相膜厚度的计算公式： 式中M为成相膜物质的分子量，为其密度，S为电极实际表面积。 恒电流阳极溶解法测定金属镀层厚度和恒电流阴极还原法测定金属腐蚀产物膜的厚度都是根据这种方法进行的。 SnFMQl 除了吸附层和成相膜这两种情况可使充电曲线上出现平阶处，还可由溶液中反

27、应物的浓差极化引起，这种情况在上一节己讨论过了，这种平阶所需的电量Q为： Q = i = 必须指出，与Q不同， Q不是常数，而是反比于电流i。电流 i 越小，所需电量越大，这是因为溶液中的反应物可以源源补充到电极表面来的缘故。 n2F2 D(C0)24 i 如果用不同的 i 进行恒电流极化，则可以测得一系列的Q值，以Q对 作图，可以得到通过原点的直线。 直线的斜率为： 根据直线的斜率及n、D可求出 C0。 i12022)(41CDFniQc 此关系式与电极反应的可逆性及机理无关，只要反应物来自溶液中，便有以上的特征（Q ）。( (图中曲线图中曲线1 1) ) 如果反应物不是来自溶液中，而是予先

28、吸附在电极上或者以异相膜的形式存在于电极表面，则这些反应物消耗至零所需的电量Q为一常数，与i无关，在Q对 作图时应为平行于轴的直线。利用这种不同的特征可以判别反应物的来源。( (图中曲线图中曲线2 2) ) 对于兼有上述两种来源的反应物的情况， ( (图中曲线图中曲线3 3) ) 可见，当恒电流暂态电位-时间曲线上出现平阶时，可用上述方法判别属于哪种情况。至于是成相膜还是吸附层，一般可根据Q的大小来判别。因为成相膜消长所需之电量往往远大于单分子吸附层的电量。但吸附和成相也经常难以区分。 i1i122204nFDCQQi光亮鉑电极在酸性溶液中的阳极充电曲线光亮鉑电极在酸性溶液中的阳极充电曲线 光

29、亮铂电极在酸性溶液中的阳极充电曲线如图。H平阶的电量Q =i H 与实验所用的电流大小有关。这可能是实验前铂电极阴极极化时电极表面吸附了氢原子，溶液中有氢分子，铂固相内部也会有氢原子。当加上阳极电流时，电位-时间曲线出现“平阶”。这时即有H吸原子的氧化，也有溶液中氢分子的氧化以及鉑电极固体内部 H 的供应。为了使后者忽略不计，通常要用较大的电流（因Qi-1）、最好用一系列i测得不同的Q值，做 Q i-1图，外推到i-1 0，求得吸附氢的电量Q 。吸附层电位-时间曲线上平阶的形状与电极表面的不均一性以及吸附物粒子间的作用力有关。如吸附自由能不一（表面活性不一），就会造成“平阶”变斜，如前述的光亮

30、铂电极在酸性溶液中的阳极充电曲线图。成相层消失的电位-时间曲线的平阶一般比较平，因为成相层的活度为常数。但当成相层的厚度增长时，固相电阻也增加，所以在较大电流时，欧姆电压降的曾加将导致曲线变斜，斜率与i有关。在成相层开始形成时，有时因新相形成需要附加过电位，而造成电位-时间曲线平阶开始有极大点现象。 Ag-e=Ag2OAg2O-e=AgOO2氢析出反应过程及其机理实验研究 氢的阴极还原步骤与可能的机理（1）两个水化氢离子同时在同一位置上放电生成氢分子的几率极小，故电化学反应首先生成原子氢。（2）原子氢具有高度活性能在电极表面吸附。（3）吸附在电极表面的氢原子，通过脱附而生成分子氢。氢离子在阴极

31、上的还原过程1、液相传质步骤：2、电化学反应步骤：（电极表面附近液层）溶液本体）OHOH33(水化氢离子水化氢离子OHMHeOH23阴极接阴极接受电子受电子电极表面生成电极表面生成吸附氢原子吸附氢原子(Volmer, b=118mV)3、随后转化步骤：吸附氢原子以两种可能的方式从电极表面脱附（1）复合脱附（2）电化学脱附（包含电化学过程）4、新相生成步骤：2HMHMHOHHeOHMH223(Tafel, b=29.5mV)(Heyrovsky, b=39mV)气泡）(22HnH 两种最基本的反应历程两种最基本的反应历程 2+(1)：电化学反应步骤 +复合脱附步骤 VolmerTafel反应 2

32、+(2)：电化学反应步骤 +电化学脱附步骤 VolmerHeyrovsky反应 四种反应机理方案四种反应机理方案 再考虑每个步骤均可成为控制步骤，则有四个反应机理方案。1）电化学反应步骤（快） +复合脱附步骤（慢）2）电化学反应步骤（慢） +复合脱附步骤（快）3）电化学反应步骤（快） +电化学脱附步骤（慢）4）电化学反应步骤（慢） +电化学脱附步骤（快） 1）称为）称为“（缓慢）复合机理；（缓慢）复合机理；2）、）、4）称为）称为“缓缓慢放电机理慢放电机理”；3）称为）称为“电化学脱附机理电化学脱附机理” 四种反应机理可以实现的四种反应机理可以实现的条件条件1）i0V i0T i0H ；2）i

33、0T i0V ，i0H ；3） i0V i0H i0T ；4） i0H i0V ，i0T 。析氢反应过程的机理 根据析氢过程控制步骤推断的形成各种机理 迟缓放电机理 电化学反应是控制步骤 迟缓复合机理 复合步骤是控制步骤 电化学脱附机理 电化学脱附是控制步骤1、迟缓放电机理（1）理论内容： 因为氢离子与电子结合的还原反应需要很高的活化能，所以离子放电步骤成为析氢过程的控制步骤，析氢过电位是由电化学极化引起。OHMHeOH231、迟缓放电机理（2）理论推导： 由于电化学步骤是整个电极过程的控制步骤， 所以电化学极化方程适用于氢离子放电还原过程。 当 时，可得：0jjccHjFRTjFRTlnln

34、0（7.3）cHjFRTjFRTlog3 . 2log3 . 20（7.4）1、迟缓放电机理将 代入 得：5 . 0（7.4）cHjFRTjFRTlog23 . 2log23 . 20（7.5）abcHjbalog（7.7）符合塔菲尔关系符合塔菲尔关系1、迟缓放电机理由0log23 . 2jFRTa电极材料电极材料电极表面状态电极表面状态溶液组成溶液组成FRTb23 . 2mVbCT118250与大量实验事实相符：如汞电极上在10-10102 A/cm2范围变化时氢析出反应的半对数曲线为直线，斜率为0.110.12V,表明为迟缓放电机理。相关相关实验事实 在很宽的电流密度范围内有：jbalog

35、析氢过电位析氢过电位电流密度电流密度V14. 01 . 0溶液组成、温度有关面状态、与金属材料的性质、表时的析氢过电位2/1cmAj 迟缓放电机理的适用范围 迟缓放电机理的推导是在汞电极上进行的。 该机理适用于吸附氢原子覆盖度很小的Pb、Cd、Zn和Tl等高过电位金属。迟缓放电理论的前提条件（1）吸附氢离子的表面覆盖度很小，可以用吸附氢离子的表面覆盖度代替表面活度。（2）汞电极表面均匀，氢离子放电可以在整个电极表面上进行。 许多金属不符合上述条件。 例如：Pd、Pt、Ni、Fe等低过电位金属%83/12cmmAj迟缓放电机理不能解释的实验现象（1）镍电极切断阴极极化电流后，需要较长时间电极电位

36、才能恢复到平衡电位。说明电极表面吸附了大量氢原子，如果复合形成氢分子的速度很快，不可能有大量吸附氢离子。（2）金属的氢脆现象也是由于有大量的吸附氢原子存在，并向金属内部扩散。 上述现象说明迟缓复合机理和电化学复合机理对某些金属的适用性。不同金属上的析氢常数高过电位金属中过电位金属低过电位金属Va5 . 10 . 1Va7 . 05 . 0Va3 . 01 . 02、电化学脱附机理 如果假定电化学脱附步骤为控制步骤 反应式为 吸附氢原子浓度 氢离子浓度 则:2HeHMHMH)exp(HHRTFc)exp(2HMHHcRTFckFj(7.14)电化学脱附反应速度方程：电化学脱附反应速度方程： 将

37、代入(7.14)得:)exp(0HMHRTFMHcHjFRTlog)1 (3 . 2常数(7.15)mVb395 . 0时，相当于大多数实验值的相当于大多数实验值的1/33、迟缓复合机理 如果假定复合脱附步骤为控制步骤， 可以用氢的吸附覆盖度代替吸附氢原子的活度，则有：)exp(lnlnln00000HMHMHMHHMHHHMHHHRTFFRTaFRTaFRTMH平平平衡电位平衡电位极化电位极化电位析氢过电位析氢过电位氢吸附覆盖度氢吸附覆盖度（7.11）2HMHMH当 时，略去逆反应不计，有：0jjc22MHcFkj复合反应常数复合反应常数cHjFRTlog23 . 2常数mVFRTb5 .2

38、923 . 2只相当于大只相当于大多数实验值多数实验值的的1/4代入（7.11)整理得：（7.12）复合脱附反应速度方程：复合脱附反应速度方程： 双原子反应双原子反应测试例测试例: 恒电流暂态法研究氢在铂电极上析出的控制步骤恒电流暂态法研究氢在铂电极上析出的控制步骤 关于氢的析出机理己进行了大量研究。在不同金属上析出机理不同:1)在高过电位的金属上氢的析出符合“迟缓放电机理”;2)在低过电位金属如光滑铂电极上，符合“复合理论”，即电极过程受吸附氢原子的复合步骤控制。 作为恒电流暂态法的应用实例，也为这一理论提供了证据。 如果氢离子放电反应: 是析氢反应中的控制步骤，则电极表面上氢原子的浓度是很

39、小的，氢原子的吸附复盖度H 应远小于0.01。 如果吸附氢原子的复合步骤: 是控制步骤，则应有0.1 H 1，即氢原子的吸附复盖度应当比较大。 因此, 可以根据测得的H 来推断氢的析出机理。HeH吸H+H)2吸吸（H经典恒电流脉冲法测定鉑电极上氢原子的吸附复盖度 以1mA/cm2的恒电流密度对鉑电极进行阴极极化，也就是说鉑电极上是以1mA/cm2的速度进行的氢反应。 H 当反应达到稳态时，用快速电子开关把电极从稳态阴极极化变到阳极极化，并恒定于40mA/cm2 。这种换向速度必须很快，要在10-6秒或更短的时间内完成。以保证在电流换向的时间内表面上氢原子的浓度（即阴极反应物）来不及发生有意义的

40、变化。与此同时，在示波器上可得到电位随时间变化的波形图。CD双电层充电区双电层充电区 BC吸附氢氧化区（平阶）吸附氢氧化区（平阶） DE氧化物形成或氧析出区氧化物形成或氧析出区AB双电层充电区双电层充电区 BC段为吸附氢原子离子化区域而没有其它的电极反应，在时间内，加到电极上的恒电流只用于吸附氢原子的离子化。由图测得： = 510-3 秒，则电量为： Q = i = 40 510-3 = 0.2 mC/cm2 = 2 C/m2 1个电子的电荷qe = 1.610-19 C ，1个吸附氢原子放出1个电子，因此吸附氢原子总数为： N = Q / qe = 2 / 1.610-19 =1.25 1019 个H吸 / m2 用x射线测得Pt的晶格常数（即两个相邻原子间的距离）为3.942埃，对于密排结构可算出表面上Pt原子的数目为1.51019个Pt原子/m2 。假定每个H吸与一个Pt原子结合，则吸附氢的表面复盖度H 为： H = （H吸 的数目 / 铂原子的数目） =1.25/1.5=0.83 即铂表面几乎被吸附氢原子完全复盖，这是氢复合理论的即铂表面几乎被吸附氢原子完全复盖，这是氢复合理论的证据之一证据之一 。作业： 1.暂态法有何特点？ 2.试述各种恒电流暂态法的特点、原理和应用.