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第七章-程序升温分析技术下课件.ppt

1、2. TPD法应用实例2.1 金属催化剂 TPD法是研究金属催化剂的一种很有效的方法。 可以得到有关金属催化剂的活性中心性质、金属分散度、合金化、金属与载体相互作用; 结构效应和电子配位体效应等重要信息。2.1.1 Interrupted TPD法研究金属催化剂的表面性质 金属催化剂(负载或非负载)的表面能量一般不均匀,存在能量分布(即脱附活化能分布)问题,下面介绍用Interrupted TPD(ITR-TPD)法求Ed分布。 方法的理论基础仍是Wagner Polanyi的脱附动力学方程,其前提为过程的控制步骤是脱附过程。当表面均匀(只有一个规范TPD峰)时,nd)(exp)(ddRTET

2、)(ln(+)d(-=dd-lnrRTETn2.1.1 Interrupted TPD法研究金属催化剂的表面性质 对 作图得到一直线, 从直线斜率可求出Ed, 从截距可求出。 如果脱附峰是重叠峰或弥散峰,即Ed存在不同强度分布,这时可用下式来描述。 p(E d)是脱附活化能的密度分布函数(Density Distribution Function of Activation Energy)。 下面介绍p(E d)的实验测定方法。)(d)(d- =dd-ddETETpdd-lnnTT12.1.1.1 实验条件的控制在分析TPD曲线时,一定要排除再吸附、内扩散等的影响,如前所述可做如下实验。改变催

3、化剂质量W(0.150.05g)或载气流速Fc,如果TPD曲线的Tm不随W或Fc的改变而改变,表明再吸附现象不存在,否则可通过减少W、加大F c来摆脱再吸附的干扰。改变催化剂的粒度d(0.50.25mm)和粉末催化剂做比较,如果两者的TPD曲线一样。表明实验摆脱了内扩散的干扰,否则要继续减小催化剂的粒度。改变升温速率,将低和高测得的TPD曲线做比较,如果在低时测得的Ed值和高时所得的Ed值一样,表明实验已在动力学区进行。2.1.1.2 实验步骤ITRTPD示例负载型Ni催化剂:样品先升温到某温度TO,维持该 温度直到不发生脱附;降至室温后,做TPD直到测得其Tm并至TPD脱附曲线不变。 图1

4、质量分数为7Ni/SiO2 上H2的 ITRTPD2.1.2 程序升温吸附脱附法以含有吸附质的惰性气体(如含体积分数为5%的H2的N2气)为载气;从室温(或更低温度)开始均匀升温,这时升温过程中将在不同温度区发生吸附脱附过程,这种方法可称为程序升温吸附脱附(TPAD);以N2-H2为载气所得的Pt/Al2O3催化剂的H2-TPAD曲线,见图4。2.1.2 程序升温吸附脱附法上述H2-TPAD曲线按下面实验得到,催化剂先用H2还原(Tr=450), 降至室温后改通N2气,并升至550时恒温30min,以赶走催化剂表面的氢,然后降至室温;引入氢气直到吸附达到平衡,然后改通N2-H2 (5% H2)

5、,在=10K/ min、Fc=30ml/min条件下做TPAD实验。升温开始后,在较低温度区出现吸附氢的脱附峰,在较高温度区出现吸附峰。这显示催化剂发生活化吸附H(有两个吸附峰,Tmax360的峰为峰;Tmax460的峰为峰)。TPAD曲线反映恒压下催化剂吸附氢速率随温度变化的规律。TPAD曲线实质上是动态的微分吸氢等压线,经转换可得动态的积分吸附氢等压线(即吸氢量与温度的关系),见图5。 图5是根据TPRD曲线直接转换的,为催化剂的动态的总积分吸附氢等压线。总吸氢量包含不可逆吸附氢和可逆吸附氢量,在惰性气体为载气的条件下,可以用脉冲吸附氢的办法,测出在不同温度下的不可逆吸附的量(图5b),图

6、5a、图5b之差则是可逆吸附H的等压线(图5c)。TPRD法是研究金属催化剂表面吸附中心类型的好方法,和催化剂反应性能进行关联,即可得到吸附中心和催化剂活性中心之间的对应关系。2.1.2 程序升温吸附脱附法TPD 法广泛用于研究金属催化剂(含单晶、非负载多晶的负载型金属催化剂)的表面性质,曾用TPD 法和低能电子衍射法相结合研究Ni单晶表面渗有C后表面能量的变化情况;研究Pt黑时发现,其表面存在3种不同吸附H中心,对应于Tm1=-20,Tm2=90,Tm3=300以后又发现其余两种吸附中心,对应于Tm4=400,Tm5=500。除Pt; 以外其它金属如Ru、Ni、Co、Rh、Ir、Pd 等也存

7、在着多种吸附中心,这些金属表面存在着复杂的能量分布,但大体上有两个区域: 一个是和低覆盖度时对应的高能量区(Ed83.68kJ/mol),H2吸附在这个区域时发生解离吸附(即脱附级数n=2); 另一个区域是覆盖度大于0.3 时的低能量区(Ed83.68kJ/mol),在这个区脱附级数等于1。TPD法还能有效研究合金催化剂表面性质,它不仅可以得到合金中金属组分之间的相互作用的信息,也可以得到金属集团大小和表面组成的信息。 2.1.2 程序升温吸附脱附法说明:CO在Pt、Pt3Sn和PtSn上的TPD曲线Pt和Sn形成合金后,TPD峰向低温方向位移,Sn的含量增加后,高温峰消失。该现象表明, Pt

8、和Sn之间产生了电子配位体效应,Sn削弱 了Pt吸附CO的性能。从TPD曲线下面积的变化表明,Sn对Pt还能 起稀释作用并于表面富集,由于表面上Pt量 减少,使Pt吸CO量也减少,这是Sn对Pt表现 出来的集团效应。根据Pt-Sn 合金吸附CO量,可以推算合金表 面的组成。如果合金中的惰性成分对活性金 属不起电子配位体效应,TPD 曲线的变化情 况将与上述不同。由于吸附分子之间的相互排斥作用,用TPD 法应该得到Ed随覆盖度增加而变小,即Tm, 随的增加而变小的信息。反之,Tm,随的减 少而变大。2.2 酸性催化剂 日本催化学会甚至认为NH3-TPD可作为表征分子筛的标准方法。TPD法表征酸性

9、催化剂常用的吸附物为NH3吡啶、正丁胺等。 酸性催化剂中分子筛类催化剂应用最广,分子筛具有比较规整的孔道,表面酸性分布比较均匀,所以TPD法的研究效果很好2.2.1 分子筛类 这里介绍的是以NH3为吸附质,从TPD曲线测定分子筛的酸量、酸强度和酸强度分布的方法。实验条件:样品量0.1g;活化条件:在真空中,在773K下加热1h;NH3吸附条件:373K,13.3 Kpa,30min;脱除过剩的NH3:373K,30min;载气流量和压力:60cm3/min,13.3Kpa,即真正的流量为8.010-6m3/s(在13.3kPa压力下);样品池压力(13.3kPa,=10K/min,得37387

10、3K的TPD图(见图7),图中r=n(Na)/n(Al)。说明: 对NaMOR(r=1的钠型丝光沸石)只有一个TPD峰(低温峰); H-MOR(r=0.04氢型丝光沸石),有两个TPD峰,即低温峰(L)和高温峰(H), 低温峰一般被认为是和由于分子筛中的H键引起的弱吸附NH3相对应,所以它不是酸中心,高温峰才是和酸中心对应的。2.2.2.1 单点法测定酸强度其中Ao酸中心的浓度A0对TPD曲线的影响说明:A0值分别为a:0.2,b:0.4,c:0.6,d:0.8,e:1.0,f:1.2mol/kg。随着A0增加,TPD的最高峰向高温方向位移。 ) (NH)NH(33goog11cpRTppKp

11、tWAcFdd-0gcpKRTptWFAcoc0g1dd)exp()exp(dRSRTHKp 考察对TPD曲线的影响说明:值分别为a:120,b:130, c:140,d:150,e:160kJ/mol 随着Hd 增加,TPD的最高峰向 高温方向位移。2.2.2 Al2O3 以NH3为吸附质Al2O3的TPD图,虽然因Al2O3制备方法不同呈现不同的TPD图,但其表现为峰形弥散又相互重叠则是共同的特点。这说明Al2O3表面酸性强度分布很不均匀。从定性来说,低温脱附峰(Tm298 73K)相应于弱酸中心,中温峰(Tm473673K)相应于中等酸中心,高温峰(Tm673K)相应于强酸中心。为了得到

12、定量或半定量的酸强度分布数据,Delmon等提出所谓分段计算脱附峰法,即把NH3全程脱附曲线分成若干温度段(图12),每段相隔50K,例如373K为第一段,以下依次各段为373423K,423473K每一段温度区有相应的脱附峰面积,将其换算成NH3脱附量(即酸量,mmol/g),作酸量对脱附温度图,此图即为酸强度分布图(图13)。2.3 氧化物2.3.1 氧化物催化剂的TPD A类氧化物在823K以下没有氧脱附, B类脱附少量氧, C类脱附极少氧。 在823K以下,B、C类氧化物脱附的氧只相当于百分之几的覆盖度,因此推测吸附中心为表面氧空穴。 实验证明,A类氧化物为选择氧化催化剂,B类为烯烃完

13、全氧化催化剂,C类即介于A类和B类之间,兼有选择氧化和完全氧化的性能。 2.3.2 还原NO的氧化物催化剂的TPD2.3.2 还原NO的氧化物催化剂的TPD说明: LaxCeyFeO3、LaxCeySrzFeO3和LaxSrzFeO3的NO-TPD图。uNO的吸附条件:在500下通入0.5%混合气20min,然后降温至室温。uLa0.5Ce0.5FeO3只有两个TPD峰:一个低温峰(Tm=75),另一个为带肩峰的大面积的高温峰,Tm=410(图14a)。u当Ce被Sr取代,T250的低温峰显著增大,而高温峰变小(图14b);u当Sr的取代量继续增加,得到了完全不同于a、b的峰(图14c.),出

14、现了3个分离的大峰及和第3个峰成肩峰的高温峰。 出现覆盖度大于1的结果,这表明发生次层晶格氧的扩散和脱附O2的脱附量随Sr取代量的增加单调上升。3. 程序升温还原TPR 发生还原反应的化合物主要是氧化物,在还原过程中,金属离子从高价态变成低价态直至变成金属态,对催化剂最常用的还原剂是H2气和CO气。 双金属组分是否形成合金(或金属簇)即是人们最关注的理论问题,因为此问题乃金属催化的核心理论问题。3.1 CuO-NiO/SiO2的TPR研究 氧化态的CuO(0.75%Cu)-NiO(0.25 % Ni)/SiO2的TPR表明,Tr=200220为CuO的还原峰,Tr=500为NiO的还原峰; 而

15、还原后的CuO(0.75%Cu)-NiO(0.25 % Ni)/SiO2(此时已变为CuO-NiO/SiO2),通入空气500焙烧后的TPR,只有一个Tr=200的还原峰。这一事实说明还原后Cu、Ni形成了合金。3.2 Pt-Re/Al2O3的TPR研究 说明:(1)Pt的存在使Re2O3更易还原;(2)Re含量的增加,TPR峰面积增加。这说明Pt和Re有相互作用。把图18上所示的催化剂在100时再氧化后作TPD得到图19的结果:(1)ReAl2O3还原温度降为200300(2)PtAl2O3还原后再氧化,再0时j就能被还原;(3)随着Re含量增加,TPR峰面积增加,还原温度也逐步升高,PtR

16、e形成合金 3.2 Pt-Re/Al2O3的TPR研究3.3 MoO3、WO3系列催化剂的TPR研究以MoO3为例,MoO3在Al2O3表面的状态比较复杂有以四面体配位状态存在的单分子分散态,这种MoO3和Al2O3的作用很强;有以八面体配位状态存在的多层分散态,这种MoO3和Al2O3的作用较弱;还有结晶态MoO3。配合其它方法TPR法能对上述各种状态MoO3作出判断。单分子层分散态MoO3的还原温度很高(670),多层分散态MoO3还原温度较低(360380) ,体相MoO3( 即结晶状MoO3)还原温度最高(700)。4. 程序升温氧化(TPO) 催化剂在使用过程中,活性逐渐下降,其中原

17、因之一是催化剂表面有积碳生成,TPO 法是研究催化剂积碳生成机理的有效手段。以TPO法研究Pt/Al2O3催化剂积碳机理为例。积碳后的Pt/Al2O3其TPO图呈现为两个峰,即To1440,To2530。当把积碳催化剂部分氧化(即氧化第一个积碳峰)后,催化剂吸附H2的量可恢复到新鲜催化剂吸附H2量的水平,而且催化剂的活性也基本恢复。证明这部分积碳发生在Pt金属表面,由此也可以推断高温氧化C 峰相应与载体上积碳的氧化。5 程序升温硫化(TPS) HDS过程以Mo(W)-Co(Ni)/Al2O3为催化剂。这种催化剂要预先硫化才有HDS活性。HDS催化剂活性相本质的研究一直是理论研究的热点。lTPS

18、以H2S-H2为硫化气,从室温开始等速升温,在升温过程中催化剂被硫化,用检测器(热导池、四极质谱)将随温度变化的H2S浓度记录下来即得到TPS曲线。l研究证明,硫化温度低的(Ts=400500K)为HDS的主要活性部位,而硫化温度高的(Ts=500600K)MoO3归属于体相MoO3,其活性低。6 程序升温表面反应(TPSR) 固体表面吸附物和另一种物质发生催化反应,或吸附物发生反应(如脱氢、氢解、脱氢芳构化等)都属于TPSR 的研究对象。通过这些研究可以揭示活性中心性质和表面反应机理。 Pt/Al2O3催化剂活性中心性质的研究Pt/Al2O3的正庚烷脱氢芳构化(DHA)活性中心实验Pt/Al

19、2O3上预先吸附正庚烷,然后令其等速升温,得到如图20所示的TPSR 图。T=95处证明是正庚烷的脱附峰,T=160260处为甲苯峰,T=300为苯峰。预先吸附甲苯、苯,从所得的TPD图证明甲苯的脱附温度为110,而苯的脱附温度为120。T=160260峰是正庚烷脱氢芳构化反应中心的特征峰,而T=300 即为脱烷基反应中心的特征峰。 上述结果也证明了反应的控制步骤是表面反应。 说明: A、B、C、D表示在4种Pt表面积不同的催化剂上所得的TPRS 图,从A 至D,Pt的表面积依次减小。 这是由于预处理催化剂的温度依次增高所致,高温使Pt表面烧结,其活性也随之降低,特别是使过强的中心即能进行脱甲

20、基的中心消失。 从A 至D苯峰依次减小,在催化剂D上没有苯峰证明了上述结论。 TPRS法在研究Pt/Al2O3催化剂的活性中心性质时发现,该催化剂存在两类脱氢环化反应中心:低温中心和高温中心。 TPSR 的实验条件:升温速度16/min,载气流量30ml/min。以N2气为载气,以正己烷为吸附质,TPSR峰经检验都是苯峰。(1)在室温下预吸附正己烷:其TPSR图只出现一个峰(图21a)(2) 从350到室温中预吸附正己烷:出现两个与Tm1=330340、Tm2=430450相应的峰(图21b)低温中心Tm1=3303401、高温中心Tm2=4304506.2 TPSR法研究反应动力学和反应机理

21、TPSR法可用于研究表面反应动力学。预先吸附在催化剂表面的反应物在室温过程中发生了反应,记录下来的TPSR峰的位置(Tr)和峰形由反应动力学参数所决定。表面反应的情况比脱附过程复杂得多,这里只讨论较简单的情况。设反应按如下机理进行:6.2 TPSR法研究反应动力学和反应机理设反应的控制步骤是表面反应,且 , , 分别表示反应物的脱附速率常数、产物的脱附速率常数和表面反应速率常数。表面反应的速率方程为如果表面是均匀的,反应为一级,即可用TPD动力学方程一样的推导过程推导TPSR 方程,如下:改变不同值得到相应的Tr值, 对 作图,从所得直线斜率可算出反应活化能Er,由直线截距和Er可算出频率因子k0r。lglg2rTr/1 T

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