补偿密度测井仪器讲课课件.ppt

1、补偿密度测井仪补偿密度测井仪 讲课提纲讲课提纲 仪器简介仪器简介测井原理测井原理 探测器探测器 电路简介电路简介 仪器刻度仪器刻度仪器构成仪器构成仪器简介仪器简介微球密度微球密度组合探头组合探头液压液压推靠推靠器器微球电子微球电子线路舱线路舱仪器简介仪器简介 双源距补偿密度测井仪是测量地层体积双源距补偿密度测井仪是测量地层体积密度的理想仪器，仪器滑板借助推靠器紧贴井密度的理想仪器，仪器滑板借助推靠器紧贴井壁，装在滑板下端的放射源放射出中等能量的壁，装在滑板下端的放射源放射出中等能量的伽马射线射向地层，并与地层物质的电子发生伽马射线射向地层，并与地层物质的电子发生康普顿散射。离放射源一定距离的探

2、测器，所康普顿散射。离放射源一定距离的探测器，所记录的散射伽马强度与岩石电子密度有关，而记录的散射伽马强度与岩石电子密度有关，而电子密度与地层的体积密度成非常近似的正比电子密度与地层的体积密度成非常近似的正比关系，因此，密度测井仪所记录的散射伽马射关系，因此，密度测井仪所记录的散射伽马射线的强度是岩石体积密度的函数，为了消除泥线的强度是岩石体积密度的函数，为了消除泥饼的影响，采用了饼的影响，采用了长、短两种不同源距的探测长、短两种不同源距的探测器。器。仪器测量范围：仪器测量范围：1.50-3.00 g/cm1.50-3.00 g/cm3 3 ；仪器测量精度：仪器测量精度：0.03 g/cm0.

3、03 g/cm3 3 ；重复误差：重复误差：0.03g/cm0.03g/cm3 3(井壁平整处井壁平整处)；可同时测量可同时测量 b b、井径三条曲线；、井径三条曲线；仪器温度性能：在仪器温度性能：在155155 C C条件下正常工作条件下正常工作 1 1小时，高温时的计数率相对室温变化范小时，高温时的计数率相对室温变化范 围在围在 5%5%以内；以内；仪器技术指标仪器技术指标仪器技术指标仪器技术指标泥饼补偿：泥饼补偿：地层密度地层密度2.2 g/cm2.2 g/cm3 3时，泥饼厚度时，泥饼厚度 20mm20mm；地层密度地层密度2.2 g/cm2.2 g/cm3 32.5 g/cm2.5

4、g/cm3 3时，时，泥饼厚度泥饼厚度15mm15mm；地层密度地层密度 2.5 g/cm2.5 g/cm3 3时，泥饼厚度时，泥饼厚度5mm5mm。仪器技术指标仪器技术指标 仪器最大外压：仪器最大外压：100Mpa100Mpa 仪器最大测速：仪器最大测速：560m/h 560m/h 测速与源强有关。测速与源强有关。仪器使用电缆长度仪器使用电缆长度 7000m7000m 仪器测量范围仪器测量范围:1.50-3.00 g/cm:1.50-3.00 g/cm3 3 仪器耐温：仪器耐温：1551550 0 仪器的放射源和探测器装在压向井壁的滑仪器的放射源和探测器装在压向井壁的滑板上，测井时伽马源向地

5、层发射伽马光子，经板上，测井时伽马源向地层发射伽马光子，经地层散射吸收后，有部分经过散射的光子由密地层散射吸收后，有部分经过散射的光子由密度测井仪器的两个探测器接收。源和探测器之度测井仪器的两个探测器接收。源和探测器之间由屏蔽体隔开，使源发射的伽马光子不能直间由屏蔽体隔开，使源发射的伽马光子不能直接射到探测器。仪器背向地层的一侧也加以屏接射到探测器。仪器背向地层的一侧也加以屏蔽，以减小井眼的影响。距离源近的探测器叫蔽，以减小井眼的影响。距离源近的探测器叫短源距探测器，距离源远的叫长源距探测器。短源距探测器，距离源远的叫长源距探测器。地层的密度不同，对伽马光子的散射和吸收能地层的密度不同，对伽马

6、光子的散射和吸收能力不同，探测器记录到的读数也不同。力不同，探测器记录到的读数也不同。密度测井核物理基础密度测井核物理基础 伽马射线与物质的相互作用主要有电子对伽马射线与物质的相互作用主要有电子对效应、康普顿效应和光电效应，而其中只有康效应、康普顿效应和光电效应，而其中只有康普顿效应才与地层的密度成正比关系。因此密普顿效应才与地层的密度成正比关系。因此密度的测井原理和技术手段，首先要保证被探测度的测井原理和技术手段，首先要保证被探测到的伽马射线的强度主要反映光子在地层中的到的伽马射线的强度主要反映光子在地层中的康普顿散射过程。密度测井选用康普顿散射过程。密度测井选用C Cs s137137为伽

7、马源，为伽马源，它发射能量为它发射能量为0.661MeV0.661MeV的伽马光子，这就排除的伽马光子，这就排除了形成电子对的可能性。了形成电子对的可能性。密度测井核物理基础密度测井核物理基础 如果将记录伽马射线的阀值定为如果将记录伽马射线的阀值定为0.10.10.2MeV0.2MeV，也就是说只记录那些能量较高，也就是说只记录那些能量较高的一次散射或多次散射伽马射线，那就很的一次散射或多次散射伽马射线，那就很大程度上避免了光电吸收的影响。在满足大程度上避免了光电吸收的影响。在满足上述条件下，对中等原子系数的原子组成上述条件下，对中等原子系数的原子组成的一般地层来说，在伽马光子与地层的相的一般

8、地层来说，在伽马光子与地层的相互作用中，康普顿占绝对优势。互作用中，康普顿占绝对优势。密度测井核物理基础密度测井核物理基础 探测器和源的距离叫源距。当源强和源距探测器和源的距离叫源距。当源强和源距选定后，探测器接收到的散射伽马射线的强度选定后，探测器接收到的散射伽马射线的强度决定于两个作用过程：（决定于两个作用过程：（1 1）由源发射出的伽）由源发射出的伽马光子经地层一次或多次散射使部分伽马光子马光子经地层一次或多次散射使部分伽马光子射向探测器；（射向探测器；（2 2）射向探测器的伽马光子，）射向探测器的伽马光子，有一部分被再散射而改变方向或者被吸收。当有一部分被再散射而改变方向或者被吸收。当

9、源距很小时，上述第一个过程是主要的，因而源距很小时，上述第一个过程是主要的，因而地层密度越大，计数率也越高。当源距很大时，地层密度越大，计数率也越高。当源距很大时，第二个过程的作用超过了第一个过程的作用，第二个过程的作用超过了第一个过程的作用，因而地层密度越大，探测器接收到的光子越少，因而地层密度越大，探测器接收到的光子越少，计数率也越小。计数率也越小。密度测井的核物理基础密度测井的核物理基础密度测井的核物理基础密度测井的核物理基础 在密度大的地层中，计数率随源距的增在密度大的地层中，计数率随源距的增大下降得快，而在密度小的地层中，计数率大下降得快，而在密度小的地层中，计数率随源距增大下降得慢

10、。很明显，在不同的地随源距增大下降得慢。很明显，在不同的地层中，计数率随源距的衰减的曲线会有一个层中，计数率随源距的衰减的曲线会有一个交点。相应的源距叫零源距。当仪器的源距交点。相应的源距叫零源距。当仪器的源距为零源距时，不同密度的地层具有相同的计为零源距时，不同密度的地层具有相同的计数率，仪器对地层的密度的灵敏度为零。密数率，仪器对地层的密度的灵敏度为零。密度测井均采用正源距。因此，密度仪器记录度测井均采用正源距。因此，密度仪器记录的脉冲信号计数率与地层密度值之间成反比的脉冲信号计数率与地层密度值之间成反比关系。关系。仪器特点仪器特点 本仪器由探测器、前置放大电路、信号处本仪器由探测器、前置

11、放大电路、信号处理电路以及高压电路组成。探测器由理电路以及高压电路组成。探测器由NaINaI晶体晶体和光电倍增管组成，它接收由伽马源轰击地层和光电倍增管组成，它接收由伽马源轰击地层后地层散射的伽马射线；前置放大电路是把来后地层散射的伽马射线；前置放大电路是把来自光电倍增管的脉冲信号进行放大；信号处理自光电倍增管的脉冲信号进行放大；信号处理电路是一个高温混合电路模块，它把放大后的电路是一个高温混合电路模块，它把放大后的信号进行鉴别、分频、整形，然后输出给遥测信号进行鉴别、分频、整形，然后输出给遥测短节；高压电路是由两个高压模块组成，分别短节；高压电路是由两个高压模块组成，分别提供长、短两个探测器

12、所需要的高电压，它输提供长、短两个探测器所需要的高电压，它输出的高压为负高压。出的高压为负高压。密度仪器调试注意事项密度仪器调试注意事项 补偿密度仪器中有高压电源，高压接近补偿密度仪器中有高压电源，高压接近2KV2KV。调试过程中要注意避免被高压击伤。调试过程中要注意避免被高压击伤。仪器通电后，即使关掉电源，在高压隔仪器通电后，即使关掉电源，在高压隔直电容和滤波电容上在短时间内仍然残留高直电容和滤波电容上在短时间内仍然残留高压电位。调试过程中容易造成触电。需要注压电位。调试过程中容易造成触电。需要注意安全。意安全。电烙铁使用完后及时放回原位，以免在电烙铁使用完后及时放回原位，以免在维修中造成烫

13、伤。探测器是精密部件，制造维修中造成烫伤。探测器是精密部件，制造过程过程中安装、拆卸的时候要轻拿轻放，过程过程中安装、拆卸的时候要轻拿轻放，不能碰撞，以免损坏。不能碰撞，以免损坏。在拆卸、安装密度探头时，由于密度在拆卸、安装密度探头时，由于密度探头较重，在拆卸、安装过程中要注意人探头较重，在拆卸、安装过程中要注意人身安全。身安全。往密度滑板里放入线路骨架时，手指往密度滑板里放入线路骨架时，手指千万不能伸入滑板上的圆孔。千万不能伸入滑板上的圆孔。在维修液压推靠器时，要防止由于推在维修液压推靠器时，要防止由于推靠器的自锁故障而造成的推靠器付臂突然靠器的自锁故障而造成的推靠器付臂突然崩开。崩开。密度

14、仪器调试注意事项密度仪器调试注意事项 电阻：电阻：补偿密度测井仪采用的电阻和高温精补偿密度测井仪采用的电阻和高温精密电阻，要求电阻的精度在密电阻，要求电阻的精度在5 5以下。电以下。电阻采购回来后，进行抽样检查，确保精度阻采购回来后，进行抽样检查，确保精度。电阻抽样检查合格后，须进行高温老电阻抽样检查合格后，须进行高温老化。把电阻放入烘箱内加温至化。把电阻放入烘箱内加温至175175C C，并，并且恒温二个小时。反复两次后再对电阻进且恒温二个小时。反复两次后再对电阻进行抽样检查，保证电阻精度后方可使用。行抽样检查，保证电阻精度后方可使用。密度仪器对电子元器件的要求密度仪器对电子元器件的要求密度

15、仪器对电子元器件的要求密度仪器对电子元器件的要求 电容电容 对胆电容要检查其耐压值是否适合电路要对胆电容要检查其耐压值是否适合电路要求，并经过温度试验检查其温漂。要求求，并经过温度试验检查其温漂。要求175175C C时电容的容量下降幅度不超过时电容的容量下降幅度不超过3030。对高压隔直电容要检查其漏电流的大小，对高压隔直电容要检查其漏电流的大小，并经过温度试验检查其温漂和漏电流。要求并经过温度试验检查其温漂和漏电流。要求175175C C时电容的容量下降幅度不超过时电容的容量下降幅度不超过3030。密度测井仪采用的贴片电容和其它电容，密度测井仪采用的贴片电容和其它电容，须进行高温老化。把电

16、容放入烘箱内加温至须进行高温老化。把电容放入烘箱内加温至175175C C，并且恒温二个小时。反复两次后方，并且恒温二个小时。反复两次后方可使用。可使用。密度仪器对探测器的要求密度仪器对探测器的要求 探测器晶体（探测器晶体（NaINaI）尺寸筛选尺寸筛选：密度仪器使用的晶体尺寸为密度仪器使用的晶体尺寸为22502250，17221722。外观检查：外观检查：正常的晶体是无色透明，如果晶体发黄正常的晶体是无色透明，如果晶体发黄，则表示晶体已经潮解，不能使用。另外，晶体，则表示晶体已经潮解，不能使用。另外，晶体上不能有破裂或气泡。高温老化：上不能有破裂或气泡。高温老化：将将NaINaI晶体放入烘箱

17、中加温至晶体放入烘箱中加温至175175C C，并且，并且恒温二个小时。冷却后观察晶体，应该与加温前恒温二个小时。冷却后观察晶体，应该与加温前一样。晶体的高温老化必须做两次。一样。晶体的高温老化必须做两次。探测器探测器 高温筛选闪烁探测器的方法和步骤：高温筛选闪烁探测器的方法和步骤：高温坪区筛选高温坪区筛选 将光电倍增管和晶体耦合好，置于将光电倍增管和晶体耦合好，置于黑暗的烘箱内，晶体附近放一颗高温检查源黑暗的烘箱内，晶体附近放一颗高温检查源(伽马伽马源源)，接好高压线，信号线及相应的测试设备。，接好高压线，信号线及相应的测试设备。在常温下，从在常温下，从1000V1000V开始，高压每升高开

18、始，高压每升高50V50V，记录一组计数率，以电压为横坐标，计数率为纵坐记录一组计数率，以电压为横坐标，计数率为纵坐标，画出一条坪曲线，烘箱升温到标，画出一条坪曲线，烘箱升温到175175时，再测时，再测一条坪曲线。一条坪曲线。探测器简介探测器简介 在在175175恒温一小时后，再测一条坪曲线恒温一小时后，再测一条坪曲线。对比三条坪曲线，选一段重合较好，也就对比三条坪曲线，选一段重合较好，也就是高温计数相对常温计数变化较小的，确定出是高温计数相对常温计数变化较小的，确定出合适的工作高压。然后再看在该高压情况下，合适的工作高压。然后再看在该高压情况下，恒温一小时后的计数与常温时的计数相对变化恒温

19、一小时后的计数与常温时的计数相对变化范围是否小于范围是否小于5%5%，若满足则可确定其高压。，若满足则可确定其高压。光电倍增管的坪宽在光电倍增管的坪宽在150V150V左右。坪宽太低（左右。坪宽太低（低于低于50V50V）的光电倍增管将不能使用。）的光电倍增管将不能使用。密度仪器电路简介电路简介电路简介密度密度探测探测器器1 1密度密度探测探测器器2 2密度密度源室源室密度电子密度电子线路舱线路舱高压电路高压电路123412345656R?R21R?R23HV-LHV-SU5U6R?R22R?R24HCTED01-J1HCTED01-J1HCTEDO1-J1HCTEDO1-J110000pC1

20、910000pC20 高压部分采用的是高压部分采用的是HVC175PB12-02HVC175PB12-02超小型电源模超小型电源模块。它可带块。它可带7M7M以上负载，且可开路（相当负载为无以上负载，且可开路（相当负载为无穷大）使用。负载电阻越大，高压输出的纹波就越小穷大）使用。负载电阻越大，高压输出的纹波就越小，中子仪器高压输出纹波，中子仪器高压输出纹波30mV30mV。高压模块的输入电压为高压模块的输入电压为12V12V，输出电压最高为，输出电压最高为+2000V+2000V，工作电流小于，工作电流小于30mA30mA。输出电流为。输出电流为250250 A A。高压模块的输出电压由高压模

21、块的输出电压由2 2个电阻来调节，如图，个电阻来调节，如图，R21R21调节长源距的输出高压，此电压一般调节在调节长源距的输出高压，此电压一般调节在1550V1700V1550V1700V之间，再由之间，再由R23R23调节短源距高压，此电调节短源距高压，此电压一般选在压一般选在+1100V1250V+1100V1250V，实际工作电压由探测器，实际工作电压由探测器的坪曲线决定的坪曲线决定 高压电路高压电路仪器电路简介仪器电路简介前放电路前放电路32671548U1HA-2510510RR210KR333KR5100RR6100RR70.01uC110pC30.1uC55.1pC20.1uC4

22、0.1uC651KR1GDB-L10KR4-12VTP3TP1+12VTP12LH117068-12由碘化纳晶体和光电倍增管组成的探测器将接收到的伽马射线转换成电脉冲，经电容C1耦合到HA2510运算放大器。以长道电路为HA2510HA2510的工作电压为的工作电压为DCDC12V12V，电阻，电阻R6R6、R7R7，电容电容C4C4、C5C5分别构成滤波网络对电源进行滤波。分别构成滤波网络对电源进行滤波。电阻电阻R1R1负责收集光电倍增管来的脉冲信号，负责收集光电倍增管来的脉冲信号，并且产生压降输出。并且产生压降输出。电阻电阻R4R4、R5R5和和HA2510HA2510对信号进行放大，一般

23、对信号进行放大，一般调整电阻调整电阻R5R5来实现所需要的放大倍数。密度仪器长来实现所需要的放大倍数。密度仪器长、短道放大倍数都为、短道放大倍数都为K=4K=4。从光电倍增管输出的光电峰（观察点从光电倍增管输出的光电峰（观察点TP1TP1）一）一般为般为1-2V1-2V的负脉冲，脉冲宽度在的负脉冲，脉冲宽度在5 5 S S左右，经放大左右，经放大电路放大后，输出幅度（观察点电路放大后，输出幅度（观察点TP3TP3）为）为7-8V7-8V的负的负脉冲，脉宽在脉冲，脉宽在3 3 S S左右。左右。前放电路前放电路信号处理电路信号处理电路1242233224215206197188179161015

24、11141213U239KR9R?R8100RR100.1uC60.1uC70.1uC8+12VJ1-8TP5TP7816TP10HA2510-6信号处理电路信号处理电路密度仪器的信号处理电路只有一块高温混合电路密度仪器的信号处理电路只有一块高温混合电路LH117068LH117068，它，它集跟随、鉴别、分频、整形为一体，外围元件只有两个调鉴别门槛集跟随、鉴别、分频、整形为一体，外围元件只有两个调鉴别门槛的电阻，以的电阻，以L L道电路为例。道电路为例。LH117068LH117068采用采用DC+12VDC+12V单电源供电，工单电源供电，工作电流为作电流为10mA10mA。电路中电阻电路

25、中电阻R8R8、R9R9起调节鉴别门槛的作用，如果电阻起调节鉴别门槛的作用，如果电阻R9R9固定在固定在39K39K，电阻，电阻R8R8应该在应该在3.9K3.9K左右，最终鉴别电压应该以电阻左右，最终鉴别电压应该以电阻R8R8两端电两端电压为准，电阻压为准，电阻R8R8两端电压应（两端电压应（TP5-TP10TP5-TP10）该调整到）该调整到U=0.70VU=0.70V。为防止电缆漏计和消除整形电路可能产生的阻塞现象，所以采为防止电缆漏计和消除整形电路可能产生的阻塞现象，所以采取了分频措施。为方便起见，在电路印制板上的分频部分引出了两取了分频措施。为方便起见，在电路印制板上的分频部分引出了

26、两个端子，分别为个端子，分别为8 8分频和分频和1616分频。仪器出厂时为分频。仪器出厂时为8 8分频，如果需要分频，如果需要1616分频，把分频，把LH117068LH117068的的2222脚的引出端与脚的引出端与LH117068LH117068的的2 2脚的引出端短路脚的引出端短路即可。即可。LH117068LH117068的输出信号为幅度：的输出信号为幅度：+10V+10V，脉宽：，脉宽：35-40S35-40S的方波。的方波。此信号直接传输到此信号直接传输到DTBDTB接口。接口。信号处理电路的主要波形图信号处理电路的主要波形图输入信号，HA2510的3脚HA2510的6脚信号模块的

27、输出波形15V4-8V1-2V37uS5uS5uS井径电路井径电路T1GND462.2K100u100u50R1K2CW58D2C4C5R1R5D4RW井径测量电路原理井径测量电路原理井径测量电路由井径电源和井径电位器组成。井径测量电路由井径电源和井径电位器组成。井径电源由单独的电源提供，它通过整流、稳压和井径电源由单独的电源提供，它通过整流、稳压和滤波获得滤波获得10V10V的直流电压。井径电位器是一个三端的直流电压。井径电位器是一个三端可调的拉杆电位器，调节范围在可调的拉杆电位器，调节范围在02K02K之间。仪器之间。仪器在井下所反映的井径的变化，直接从井径电位器的在井下所反映的井径的变化

28、，直接从井径电位器的可变端上的电压的变化所获得。此电压的变化量接可变端上的电压的变化所获得。此电压的变化量接到电压变压器输入端的中心抽头上，由地面仪器采到电压变压器输入端的中心抽头上，由地面仪器采样得到。样得到。仪器常规检查仪器常规检查 1.1.给井下仪器供电给井下仪器供电AC180V(AC180V(电流约为电流约为50mA)50mA)，观察本底计数，长源距每分钟为观察本底计数，长源距每分钟为80805 5个，个，短源距每分钟为短源距每分钟为10102 2个。如果有标准源，个。如果有标准源，则在仪器上固定位置，取下标准数，以后则在仪器上固定位置，取下标准数，以后 检查对照，效果更好。检查对照，

29、效果更好。2.2.推靠器放开过程中，电流不超过推靠器放开过程中，电流不超过100mA100mA。3.3.推靠器收拢过程中，电流不超过推靠器收拢过程中，电流不超过200mA200mA。4.4.推靠器在放开、收拢过程中应当很平稳，推靠器在放开、收拢过程中应当很平稳，不能出现发卡和自锁锁不住现象。不能出现发卡和自锁锁不住现象。仪器常见故障检查仪器常见故障检查 观察本底时，计数不稳，有跳动现象观察本底时，计数不稳，有跳动现象,此此时可检查探测器避光是否良好，管座是否干时可检查探测器避光是否良好，管座是否干净，高压是否稳定，在排除了上述诸方面原净，高压是否稳定，在排除了上述诸方面原因外，可检查电路板，更

30、换相应元件，当然因外，可检查电路板，更换相应元件，当然认真检查引入引出的信号线是否破坏也是十认真检查引入引出的信号线是否破坏也是十分必要的。分必要的。仪器常见故障检查仪器常见故障检查 密度仪器的探测器和电路在滑板之中密度仪器的探测器和电路在滑板之中,维修维修时需从滑板中拆卸时时需从滑板中拆卸时,应先把滑板和挂臂头连接应先把滑板和挂臂头连接的两个顶丝卸下，用螺丝刀把挂臂接头和滑板的两个顶丝卸下，用螺丝刀把挂臂接头和滑板分离，这时再从滑板尾端卸去小顶丝，探测器分离，这时再从滑板尾端卸去小顶丝，探测器和线路此时才能从滑板中旋转卸出。和线路此时才能从滑板中旋转卸出。仪器在室内正常，但测井资料不好，很可

31、仪器在室内正常，但测井资料不好，很可能是井下仪器相应得水密插头绝缘破坏造成。能是井下仪器相应得水密插头绝缘破坏造成。井径曲线测不好，可能是井径电位器接触井径曲线测不好，可能是井径电位器接触不良。不良。仪器常见故障检查仪器常见故障检查密度仪器的探测器和电路部分卸出后，密度仪器的探测器和电路部分卸出后，若要通电检查，则需对探测器若要通电检查，则需对探测器(光电倍增管和光电倍增管和碘化纳晶体碘化纳晶体)进行避光，一般是用黑布将探测进行避光，一般是用黑布将探测器部分罩起来。若只需检查电路时，可将探器部分罩起来。若只需检查电路时，可将探测器的高压断开，这时可不必对探测器采取测器的高压断开，这时可不必对探

32、测器采取避光措施。避光措施。探测器维修使用注意事项探测器维修使用注意事项 在拆卸和安装光电倍增管时一定要小心，注在拆卸和安装光电倍增管时一定要小心，注意轻拿轻放。光电倍增管和晶体是放在一个铝合意轻拿轻放。光电倍增管和晶体是放在一个铝合金做的圆筒里，为了使光电倍增管和晶体间贴和金做的圆筒里，为了使光电倍增管和晶体间贴和好，在光电倍增管的一端和圆筒的内壁里加入了好，在光电倍增管的一端和圆筒的内壁里加入了一个波纹弹簧片，安装光电倍增管时一定要注意一个波纹弹簧片，安装光电倍增管时一定要注意波纹弹簧片不要受力太大，刚好顶住光电倍增管波纹弹簧片不要受力太大，刚好顶住光电倍增管使它在里面不活动就行，否则容易

33、把光电倍增管使它在里面不活动就行，否则容易把光电倍增管顶碎。顶碎。推靠器使用注意事项推靠器使用注意事项 密度仪器放开或收拢推靠器时，井下仪密度仪器放开或收拢推靠器时，井下仪器位置要端正，使滑板正面朝上，以免放开器位置要端正，使滑板正面朝上，以免放开时，因滑板重量大而倾倒。同时要认真注视时，因滑板重量大而倾倒。同时要认真注视电流表，万一电流过大电流表，万一电流过大(超过超过250mA)250mA)要立即断要立即断电，以免传动机构的部分器件损坏。电，以免传动机构的部分器件损坏。仪器刻度仪器刻度 密度仪器调试完成后，需要对仪器进行刻度才密度仪器调试完成后，需要对仪器进行刻度才能用于测井。由于成批仪器

34、的机械结构和元器件能用于测井。由于成批仪器的机械结构和元器件的不一致性，所以生产出的每支仪器都必须进行的不一致性，所以生产出的每支仪器都必须进行二级刻度。二级刻度。要对密度仪器进行二级刻度，至少需要两种不要对密度仪器进行二级刻度，至少需要两种不同密度的标准地层或刻度块作为刻度标准，并需同密度的标准地层或刻度块作为刻度标准，并需要至少两种比重不同的模拟泥饼对仪器进行泥饼要至少两种比重不同的模拟泥饼对仪器进行泥饼补偿实验。本节介绍的刻度方法是用标定过的已补偿实验。本节介绍的刻度方法是用标定过的已知密度的标准地层和比重不同的两种模拟泥饼对知密度的标准地层和比重不同的两种模拟泥饼对仪器进行二级刻度。仪

35、器进行二级刻度。二级刻度器二级刻度器密度探头放置密度探头放置在此，滑板面在此，滑板面必须与模块贴必须与模块贴和很好。和很好。密度半密度半空间模空间模块块仪器刻度准备仪器刻度准备密度探头必须严格按上述调试方法调试好，保密度探头必须严格按上述调试方法调试好，保证仪器工作正常。证仪器工作正常。把模块表面擦拭干净，尤其是模块与仪器滑板把模块表面擦拭干净，尤其是模块与仪器滑板的接触面要保持绝对干净，不能有细沙子和泥土。的接触面要保持绝对干净，不能有细沙子和泥土。并且刻度模块要放置在清水中，清水必须淹没模块并且刻度模块要放置在清水中，清水必须淹没模块表面。表面。由于密度探头要放入清水中，所以仪器要做好由于

36、密度探头要放入清水中，所以仪器要做好绝缘，密度探头与稳压电源和定标器的引线要用水绝缘，密度探头与稳压电源和定标器的引线要用水密插头与探头连接。密插头与探头连接。刻度注意事项刻度注意事项 把密度探头放在刻度模块的半圆把密度探头放在刻度模块的半圆槽内密度滑板面（测井时贴靠井壁的槽内密度滑板面（测井时贴靠井壁的一面）朝下，与刻度模块完全贴和好。一面）朝下，与刻度模块完全贴和好。并且密度探头的源仓要与刻度模块的并且密度探头的源仓要与刻度模块的垂直端面保持至少垂直端面保持至少15cm 15cm。车间刻度原理车间刻度原理 刻度过程刻度过程:在描述密度探头刻度过程中，我们以中国石油在描述密度探头刻度过程中，

37、我们以中国石油测井技术中心产业化部现有的标定过的已知密度的测井技术中心产业化部现有的标定过的已知密度的标准地层模块为例，测井技术中心产业化部共用三标准地层模块为例，测井技术中心产业化部共用三种刻度模块来刻度补偿密度仪器，它们的密度值分种刻度模块来刻度补偿密度仪器，它们的密度值分别为：别为：2.699 g/cm2.699 g/cm3 3、2.374 g/cm2.374 g/cm3 3、2.185 g/cm2.185 g/cm3 3,我我 们们分别用分别用 2.6992.699、2.3742.374、2.1852.185来表示它们。来表示它们。车间刻度步骤车间刻度步骤把仪器放置在把仪器放置在 2.

38、6992.699的刻度模块上，给仪器加电预的刻度模块上，给仪器加电预热热20203030分钟，此时注意观察仪器的本底计数，分钟，此时注意观察仪器的本底计数，仪器工作正常后进行下一步。仪器工作正常后进行下一步。仪器装上测井用源，记录仪器装上测井用源，记录L L、S S道的计数，每组道的计数，每组数采样时间要求数采样时间要求3030秒以上，再平均出每秒的计秒以上，再平均出每秒的计数，记录下来。每道不少于五组数，再算出各数，记录下来。每道不少于五组数，再算出各道计数的平均数，道计数的平均数，N NL2.699L2.699和和N NS2.699S2.699 。使用现场刻度器的注意事项使用现场刻度器的注

39、意事项 把探头依次移到把探头依次移到 2.3742.374和和 2.1852.185两个模块上，记录两个模块上，记录探头在各个模块上的计数，要求同上步，分探头在各个模块上的计数，要求同上步，分别用别用N NL2.374L2.374、N NS2.374S2.374和和N NL2.185L2.185、N NS2.185S2.185表示。表示。在对数坐标纸上以在对数坐标纸上以S S道计数为横坐标，以道计数为横坐标，以L L道道计数为纵坐标建立坐标系。这个坐标系就是计数为纵坐标建立坐标系。这个坐标系就是密度仪器的脊肋图。把上面三个模块上的点密度仪器的脊肋图。把上面三个模块上的点点在坐标里。分别用点在坐

40、标里。分别用A A、B B、C C表示表示 2.6992.699、2.3742.374和和 2.1852.185 。A A、B B、C C三个点应该在一条直线上。三个点应该在一条直线上。这条直线就是密度仪器的脊线。如图所示：这条直线就是密度仪器的脊线。如图所示：使用现场刻度器的注意事项使用现场刻度器的注意事项2003004005006007004005006007008009001000ABCNLNScps/秒cps/秒（2.699）（2.374）（2.185）轻0.5轻0.5轻1.0轻1.0轻1.5轻1.5轻2.0重2.0重1.5重1.5重1.0重1.0重0.5重0.5重0.5补偿密度测井仪

41、刻度原理补偿密度测井仪刻度原理 众所周知，在无泥饼条件下，用不同源距的两个探测器进众所周知，在无泥饼条件下，用不同源距的两个探测器进行测量，它们的计数率与地层密度关系：行测量，它们的计数率与地层密度关系：=1/A(lnN=1/A(lnNB)B)现分别用角码现分别用角码S S及及L L表示短源距和长源距则有：表示短源距和长源距则有：L L=1/A=1/AL L(lnN(lnNL LB BL L)S S=1/A=1/AS S(lnN(lnNS SB BS S)因无泥饼影响因无泥饼影响 L L=S S=b b 两式和并有两式和并有 (lnN(lnNL LB BL L)=A)=AL L/A/AS S(

42、lnN(lnNS SB BS S)即即lnNlnNL L 与与lnNlnNS S关系为一直线，其斜率为关系为一直线，其斜率为 A AL L/A/AS S，我们把这条，我们把这条线称为脊线，线称为脊线，=arctg(A=arctg(AL L/A/AS S)称为脊角，称为脊角，A=dlnN/A=dlnN/b b=U Um m.D.D为仪器对地层的灵敏度，与源距成正比，因此，脊角为仪器对地层的灵敏度，与源距成正比，因此，脊角与长、短探测器的源距有很大的关系。与长、短探测器的源距有很大的关系。补偿密度测井仪刻度原理补偿密度测井仪刻度原理 由式由式 b b=1/A=1/AL L(lnN(lnNL LB

43、BL L)+1/K(lnN)+1/K(lnNL LB BL L)A AL L/A/AS S(lnN(lnNS SB BS S)在有泥饼影响时，即在有泥饼影响时，即0 0 则有：则有：(lnN(lnNL LB BL L)=1/(K+1)=1/(K+1)A AL L/A/AS S(lnN(lnNS SB BS S)+KA)+KAS S/(K+1)/(K+1)b b每给定一个每给定一个 b b值就能做出一条斜率为值就能做出一条斜率为1/1/（K+1K+1）A AL L/A/AS S的关的关系 式，即 一 条 肋 线，其 与 水 平 线 的 夹 角 为系 式，即 一 条 肋 线，其 与 水 平 线 的

44、 夹 角 为 ，tgtg=1/(K+1)=1/(K+1)A AL L/A/AS S=1/(K+1)=1/(K+1)tgtg，由此式可知肋角与系数由此式可知肋角与系数K K和脊角有关。和脊角有关。K K为常数是近似为常数是近似处理的结果，若要扩大补偿的线性范围和改变肋角还需采处理的结果，若要扩大补偿的线性范围和改变肋角还需采取一些技术措施，如在短源距探测器外面加射线过滤器等取一些技术措施，如在短源距探测器外面加射线过滤器等，在此我们采用了加隔片来滤去低能量的伽玛射线来满足，在此我们采用了加隔片来滤去低能量的伽玛射线来满足仪器肋角的设计指标。仪器肋角的设计指标。=55=55。通过对短源距探测器加不

45、。通过对短源距探测器加不同厚度隔片的试验，最后定为同厚度隔片的试验，最后定为L=0.5mmL=0.5mm，S=3mmS=3mm。补偿密度测井仪刻度原理补偿密度测井仪刻度原理肋线作为直线处理方式肋线作为直线处理方式(即通常的补偿方程即通常的补偿方程)通常所说的密度测井响应方程，是由脊肋图实验资料导出，在假设肋线是直通常所说的密度测井响应方程，是由脊肋图实验资料导出，在假设肋线是直 线的情况下，可以通过三点刻度的方法求出方程中的五个系数，其中线的情况下，可以通过三点刻度的方法求出方程中的五个系数，其中K K值是值是近似的处理结果，只有在肋线为直线时，才近似为一常数，其处理方法如下近似的处理结果，只

46、有在肋线为直线时，才近似为一常数，其处理方法如下：=A=ABlnNBlnN 对长短分别有对长短分别有 L L=A=AL LB BL LlnNlnNL L S S=A=AS SB BS SlnNlnNS S b b=L L+1/K(+1/K(L L S S)当放当放mgmgA AL L时：时：LmgLmg=A=AL LB BL LlnNlnNLmgLmg LALLAL=A=AL LB BL LlnNlnNLALLAL SmgSmg=A=AS SB BS SlnNlnNSmgSmg SALSAL=A=AS SB BS SlnNlnNSALSAL 分别求出分别求出 A AL L A AS S B B

47、L L B BS S 再放倒再放倒mgmg：据据=1/K(=1/K(L L S S)求出求出K=K=？则则 b b=(A=(AL LB BL LlnNlnNL L)+1/K(A)+1/K(AL LB BL LlnNlnNL L)(A(AS SB BS SlnNlnNS S)补偿密度测井仪刻度原理补偿密度测井仪刻度原理 肋肋线作为曲线处理方式（一点刻度方式）线作为曲线处理方式（一点刻度方式）实际上，当地层的泥饼加厚时，即密度校正量较大时，肋线将开始弯曲，肋线不能看成实际上，当地层的泥饼加厚时，即密度校正量较大时，肋线将开始弯曲，肋线不能看成 直线，这时如用直线处理就会产生误差，通常用多项式和分等

48、函数来拟合肋线弯曲的背直线，这时如用直线处理就会产生误差，通常用多项式和分等函数来拟合肋线弯曲的背肋图，这样刻度变得更为简单，操作起来更为方便，即一点刻度方式。肋图，这样刻度变得更为简单，操作起来更为方便，即一点刻度方式。强源处理方式与数据：强源处理方式与数据：=A=ABlnNBlnN则长短源距分别有则长短源距分别有 L L=A=AL LB BL LlnNlnNL L S S=A=AS SB BS SlnNlnNS S当放当放 b b=2.30g/cm=2.30g/cm3 3的的MgMg块时则块时则 有有 L L=2.30=2.30B BL LlnNlnNL2.30L2.30/N/NL L S

49、 S=2.30=2.30B BS SlnNlnNS2.30S2.30/N/N2.302.30当当 S S/L L11时时 =-270.156=-270.156S S/L L 3 3+792.303+792.303S S/L L 2 2-776.515-776.515S S/L L+254.37+254.37当当 S S/L L1 1时时 =-262.435=-262.435S S/L L 3 3+823.3+823.3S S/L L 2 2-863.137-863.137S S/L L+302.27+302.27 b b=L L+L L=2.30=2.30B BL Lln(Nln(N2.302

50、.30/N/NL L)S S=2.30=2.30B BS Sln(Nln(NS2.30S2.30/N/NS S)从上面的处理过程可以得出结论：江汉测井研究所密度的泥饼补偿精度明显提高，从上面的处理过程可以得出结论：江汉测井研究所密度的泥饼补偿精度明显提高，泥饼补偿范围明显增大。泥饼补偿范围明显增大。使用现场刻度器的注意事项使用现场刻度器的注意事项 a)用量角器量出脊线与水平线的夹角，这个用量角器量出脊线与水平线的夹角，这个夹角夹角 就是仪器的脊角，密度探头的脊角应该就是仪器的脊角，密度探头的脊角应该70701 1。b)b)用公式验证脊角：用公式验证脊角：LnLn（N NL2.185L2.185