1、送電用用塩霧室試験用丸棒試料水浸劣化及乾燥回復過程評価重量変化、表面粗、接触角、撥水性及水浸液表面張力導電率6観点検討-0.6-0.60.00.00.60.60 0200200400400600600800800経過時間経過時間重量変化率%重量変化率%75水浸水浸98水浸水浸1回目回目2回目回目3回目回目4回目回目5回目回目6回目回目-0.6-0.60.00.00.60.60 0101020203030乾燥時間 h乾燥時間 h0.50.5 重量変化率重量変化率1回目回目2回目回目3回目回目4回目回目5回目回目6回目回目 75乾燥乾燥98乾燥乾燥0.00.00.50.51.01.01.51.52
2、.02.02.52.50 0200020004000400060006000経過時間 t h経過時間 t h算術平均粗 算術平均粗 75水浸75水浸75水浸75水浸98水浸98水浸98水浸98水浸0.00.00.50.51.01.01.51.52.02.02.52.50 0200020004000400060006000乾燥時間 t h乾燥時間 t h算術平均粗 算術平均粗 75乾燥75乾燥75乾燥75乾燥98乾燥98乾燥98乾燥98乾燥0 02525505075751001000 01000100020002000300030004000400050005000経過時間経過時間接触角接触角7
3、5水浸75水浸98水浸98水浸75乾燥75乾燥98乾燥98乾燥0 02525505075751001000 01000100020002000300030004000400050005000乾燥時間 t h乾燥時間 t h接触角 接触角 75乾燥75乾燥75乾燥75乾燥98乾燥98乾燥98乾燥98乾燥0 02002004004006006000 01010202030304040505060607070水浸時間 水浸時間 0.50.5 導電率 S導電率 S水浸水浸水浸水浸水浸水浸水浸水浸(a)75,0 h h(d)98,0 h h(b)75,23,2305 h h(c)75,4270 h,42
4、70 h(e)98,23,2305 h h(f)98,4270 h,4270 h(a)0 h h(b)0 h h()288 288 hh()864 864 hh()1368 1368 hh()1728 1728 hhDDDWW(a)0 h h(b)144 h h()288 288 hh()1416 1416 hh(e)2040 h 2040 h(f)2520 h 2520 hWDWDWl重量変化率水浸及乾燥温度高差振幅大。場合、部分吸水及乾燥加変化。l表面粗水浸及乾燥部分一時的大、後小。温度違見。l水浸用液体表面張力及導電率、端部98水浸試料、特大変化見。l乾燥部撥水性成分溶出低下。、水浸部水
5、浸時撥水性低下、乾燥時回復。回復程度温度方。l接触角水浸部水浸劣化過程全体的低下、乾燥過程回復接触角方大。、乾燥部接触角大一定。l塩霧室試験用丸棒試料切、部直接的影響無状態各特性測定。l表面張力、導電率変化与成分界面成分抽出。0 020204040606080800 01000100020002000300030004000400050005000経過時間 経過時間 表面張力 表面張力 水浸水浸水浸水浸水浸水浸水浸水浸0.0E+000.0E+005.0E-115.0E-111.0E-101.0E-101.5E-101.5E-102.0E-102.0E-102.5E-102.5E-101回目1回目2回目2回目3回目3回目4回目4回目5回目5回目6回目6回目乾燥回数乾燥回数拡散定数 cm拡散定数 cm2 2/sec/sec試料試料(7 5 乾 燥)(7 5 乾 燥)試料試料(7 5 乾 燥)(7 5 乾 燥)試料試料(9 8 乾 燥)(9 8 乾 燥)試料試料(9 8 乾 燥)(9 8 乾 燥)
