CPK简介温学兰课件.ppt

1、簡報者：溫學蘭簡報者：溫學蘭DHBU-QADHBU-QA2006/06/262006/06/26何谓制程能力何谓制程能力制程能力指標制程能力指標CaCpCpkCp和和Cpk計算舉例計算舉例Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)所谓制程能力，是指製程在管制狀態下所呈現之質與量的能力。故製程能力可以產量、效率表示，也可以成品、半成品、零件等之品質特性來表示，也可以不良率或缺點數來表示。Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)慾判斷一個群體品質

2、好壞有三個主要數據：1）平均數代表其集中趨勢；2）標準差代表其離散趨勢；3）超出規格之不良率。制程能力評價也從這三個方面來評價：1.制程準確度Ca(Capability of accuracy)2.制程精確度Cp(Capability of precision)3.制程能力指數Cpk(Capability indies of process)Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)制程準確度Ca-Capability of accuracy設定工程規格中心值的目的，在於希望該工程製造出來的各種產品的實際值，能以規格中

3、心為中心，成左右對稱的正態分佈，而製造時也應以規格中心值為目標，工程準確度評價之目的就在於衡量制程平均與規格中心的一制程度。Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)制程平均值與規格中心值之間偏差程度-制程準確度Ca計算公式：客户要求规格下限规格下限 过程分布 -3s+3s规格上限规格上限Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)規格公差T=Su-Sl=規格上限-規格下限 由上可知當M與差愈小，也就是品質接近規格要求的水準。K值為負時，表示實際

4、值偏低，K值為正時表示偏高。在單邊規格的情形下，即只有規格上限Su或者只有規格下限Sl，因沒有規格中心值，故不能計算制程準確度Ca.在一般應用上Ca如果不良時,其對策方法是制造單位為主,技術單位為副,品管單位為輔.Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)等級 Ca值 處置原則 A|Ca|12.5%作業員遵守作業標準操作并達到規格之要求須繼續維持 B12.5%|Ca|25%有必要盡可能將其改進為A級 C25%|Ca|50%作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標準 D 50%Cp 1.67 优,应当保持之

5、A1.67Cp1.33 良,能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A级 B1.33Cp1.0 一般,状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C1.0Cp0.67 差,制程不良较多，必须提升其能力 D0.67Cp 不可接受,其能力太差，应考虑重新整改设计制程 Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)制程能力指數Cpk-Capability Indies of Process 製程能力指數/工序能力指数/过程能力指数 是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

6、它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素(5M)综合作用的过程也就是产品质量的生产过程。产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。对于任何生产过程，产品质量总是分散地存在着。若工序能力越高，则产品质量特性值的分散就会越小；若工序能力越低，则产品质量特性值的分散就会越大。Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)Cpk計算公式：CPK=(1-|Ca|)Cp=Min(USL-),（-LSL)/33s过程均值到最近的规格边界(过

7、程分布的一半)规格下限规格上限过程均值 Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)Cpk 1 Cpk=0Cpk 0Cpk 1Cpk=1Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)等級 Cp值 對應措施A+Cpk2.0特优,可考虑成本的降低 A+2.0 Cpk1.67 优,应当保持之 A1.67Cpk1.33 良,能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A级 B1.33Cpk1.0 一般,状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法

8、将其提升为 A级 C1.0Cpk0.67 差,制程不良较多，必须提升其能力 D0.67Cpk 不可接受,其能力太差，应考虑重新整改设计制程 Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)例子:均值:106标准差:1.5客户规格:目标=100+/-12CpCp的计算步骤的计算步骤 :1 1.绘出图形绘出图形规格下限规格上限9410010611288过程分布 Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)2 2.计算客户规格计算客户规格(VOC)规格上限

9、规格下限=112 88=243 3.计算过程分布计算过程分布(VOP)6 x 标准差=6 x 1.5=94 4.计算计算 Cp:Cp:Cp=(USL-LSL)6*s=(112-88)6*1.5=2.66Cp=VOCVOP=客户规格 过程分布Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)CpkCpk的计算的计算l例子均值:106标准差:1.5客户规格:目标=100+/-12lCpkCpk的计算步骤的计算步骤l1.1.绘出图形绘出图形到规格上限的距离规格下限UpperSpec94100到规格下限的距离过程分布的一半112106

10、88Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)CpkCpk的计算的计算 2.2.计算过程分布的一半计算过程分布的一半:3 x 标准差=3 x 1.5=4.53.3.计算到规格上限的距离计算到规格上限的距离:USL-=112 106=6 4.4.计算到规格下限的距离计算到规格下限的距离:m LSL=106 88=185.5.最小距离最小距离 MIN(USL-),(-LSL)=MIN(18,6)=6 6.6 6 Cpk=1.33 3s 4.5Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)平均值平均值 X iX iN I=1N =(X i )X i )N I=1N=標準差平均值2Presented ByPresenters Name(Presenters Name(母片中進行修改母片中進行修改)