超声波检测习题(DOC 37页).doc

1、二部分 超声波检测一、是非题(在括号内，正确的画O，错误的画X)1超声波的频率取决于晶片振动的频率。( O )*2超声波在介质中传播时，声能的传播是由各质点的位移连续变化来传递的。( O )3超声波在介质中的传播速度与频率成正比。( X )4超声波在铝中传播时，频率愈低，波长愈短。( X )5表面波亦可在液体表面传播。(X )*6薄板中传播非对称型兰姆波时。上下表面质点振动相位相同。( O )7超声波在介质中的传播速度即为质点的振动速度。( X )*8如材质相同，细钢棒(直径Z1的界面时，声压透过率大于1说明界面有增强声能的作用。( X )21超声波垂直入射到异质界面时，声压往复透过率与声强透

2、过率在数值上相等。( O )22超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗相差愈小，声压往复透过率愈低。( x )*23当钢中的气隙(如裂纹)厚度一定时，超声波频率增加，反射波高也随着增加。( O )24超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的反射角等于折射角。( X )25超声波倾斜入射到异质界面时同种波型的折射角总大于入射角。( X )26超声波以10角入射至水钢界面时，反射角等于100。( O )27超声波入射至钢水界面时，第一临界角约为1450( X )28第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第一临界角。( X )29有机玻璃铝界面的第一临界角大干有机玻璃钢界面第一临界角则前者的第二

3、临界角也一定大于后者。( x )*30只有当第一介质为固体介质时，才会有第三临界角。（ O ) 31横波斜入射到钢空气界面时，入射角在300左右时横波声压反射率最低。( O )32。超声纵波斜入射到端角时，端角反射率总是很高的，( X )33探测根部未焊透缺陷时，一般不宜选用折射角为600的斜探头。（ O ）34超声波入射到C1C2的凸曲面时其透过波集聚。( O )36以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头。有机玻璃水界面为凹曲面。( X )37介质的声阻抗愈大引起的超声波的衰减愈严重。( x )38聚焦探头辐射的声波在材质中的衰减小。( X )39超声波探伤中所指的衰减仅为材料对声波的吸收作用。(

4、 X )40超声平面波不存在材质衰减(X)41声源面积不变时，超声波频率愈高超声场的近场长度愈短。( X )42面积相同。频率相同的圆晶片和方晶片超声场的近场长度一样长。（ O ）43面积相同频率相同的圆晶片和方晶片其声束指向角亦相同。(X )44超声场的近场长度愈短，声束指向性愈好。( X )45声源辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。( O )46声源辐射的超声波，总是在声束中心轴线上的声匝为最高。( X )47低频探伤是为了改善声束指向性，提高探伤灵敏度。( X )*48超声场中不同横截面上的声压分布规律是一致的。( x )49在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声

5、压不变( O )50斜角探伤横波声场中假想声源的面积大干实际声源面积。( X )51频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。( O )*52圆晶片斜探头的上指向角小于下指向角。( x )折射角*53如斜探头入射点到晶片的距离不变。入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小。（ O ）54理想的镜面大平面，对声波产生全反射，随传播距离的增加其回波声压不变。（ x ）55球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同。( O )56同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小。(O )57轴类工件外圈探伤时，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同。( O )58对空心圆柱体在内孔探伤时

6、曲底面回波声压比同声程大平面低。( X )59通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离适用于不同规格的探头。( O )60在通过AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。(X)61A型显示探伤仪利用DGS曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度(O)62B型显示探伤仪不能直观显示出缺陷深度。( X )*63多通道探伤仪是由多个或多对探头同时工作的探伤仪。( X ) 64探伤仪中的发射电路亦称为触发电路（ X ) 65探伤仪中的发射电路可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动。（ O ）66探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路。(X)67探伤仪发射电路

7、中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱。( X )68调节探伤仪深度细调”旋钮时可连续改变扫描线扫描速度。(O)69调节探伤仪“抑制”旋钮时抑制越大，仪器动态范围越大。( X )70调节探伤仪“延迟”旋钮时扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。( X )71不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同。( O )72不同压电晶体的频率常数不一样，因此用不同压电晶体不能作成频率相同的晶片。（ X ）*73压电晶片的压电应变常数(d33)大，则说明该晶片接收性能好。(X)*74压电晶片的压电电压常数(g33)大，则说明该晶片接收性能好。(O)75探头中压电晶片背面加吸收块是为了提

8、高机械品质因素Q。，减少机械损耗；(X)76工件表面比较粗糙时为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜(X)77斜探头楔块前部和上部开有消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能失。( X ) 78由于水中只能传播纵波，所以水浸探头只能进行纵波探伤(X)79双晶直探头倾角越大交点离探测面距离愈远，复盖区愈大。( X )80有机玻璃声透镜水浸取焦探头，透镜曲率半径愈大，焦距愈大。(O)81利用llW试块上声50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。( O )82当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的(x)83中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波

9、总是等距离出现(O)84RB一2对比试块上的标准孔是不能添加或改变布置形式的。( X )85调节探伤仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。(X)86测定仪器的“动态范围”时，应将仪器的“抑制”、“深度补偿”旋钮置于“关”的位置。( O )87盲区与始波宽度是同一概念(X)88测定组合灵敏度时可先调节仪器的“抑制”旋钮。使电噪声电平10，再进行测试。( X )89测定“始波宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大。( X )90为提高分辨力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些。（ O ）91串列式双探头法探伤即为穿透法( X )*92厚焊缝采用串列法扫查时，如焊缝余高磨平，

10、则不存在死区。( X )93曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好(O)94实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将探伤灵敏度适当降低(X)95采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸。( O )96。只有当工件中缺陷在各个方面的尺寸均大于声束截面时才能采用测长法确定缺陷长度( X )97绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时测长灵敏度高测得的缺陷长度大。(O)98当试件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化( O)99常用的有机玻璃楔探头，当温度升高时，其K值将增大。( O )100超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高( X )101钢

11、板探伤时，通常只根据缺陷波情况判定缺陷( X )102当钢板中缺陷大于声束截面时，由于缺陷多次反射波互相干涉容易形成“叠加效应”。( X ) 103厚钢板探伤中。若出现缺陷的多次反射波说明缺陷的尺寸一定较大。( O )104较薄钢板采用底波多次法探伤时如出现“叠加效应”。说明钢板中缺陷尺寸一定很大。( X ) 105复合钢板探伤时，可从母材一侧探伤也可从复合材料一侧探伤(O)106用板波法探测厚度5mm以下薄钢板时，不仅能检出内部缺陷，同时能检出表面缺陷。( O )107ZBJ7400388标准不适用于奥氏体不锈钢板的超声波探伤。（O)108按ZB7400388标准检验板厚60mm的钢板可选用

12、50mm厚的平底孔试块调节探伤灵敏度。(X)109按ZBJ7400388标准检验钢板时，如发现缺陷的指示面积小于9cmz，钢板可评为I级。( X )110负板探伤时，如果一个缺陷的指示长度小于40mm，该缺陷可不作记录。( X )111小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时，属于纵波垂直法探伤。(X)112采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时，钢管内外径之比愈大，入射角允许范围愈大。( O )1135010mm的钢管，亦可采用常规斜探头作接触法周向探伤。(X)114钢管水浸聚焦法探伤时、不宜采用线聚焦探头探测较短缺陷。( O )115采用水浸聚焦探头检验钢管时，声透镜的中心部分厚度应为2的整数倍。(

13、O )116钢管作手工接触法周向探伤时，应从顺、逆时针两个方向各探伤一次。( O )117钢管水浸探伤时水中加入适量活性剂是为了调节水的声阻抗，改善透声性。( X )1188l0mm的钢管亦可JB115173标准作超声波探伤。(X)119钢管水浸探伤时，如钢管中无缺陷，荧光屏上只有始波和界面波。(O)120.用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时，其跨距比同厚度平板大。( O )121轴类锻件，一般来说以纵波直探头作径向探测效果最佳( O )122使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时，探头应作正反两个方向扫查。( O )123对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。( X )124

14、调节锻件探伤灵敏度的底波法，其含义是锻件扫查过程中依据底波变化情况评定锻件质量等级。（ X )125锻件探伤中，如缺陷引起底波明显下降或消失时，说明锻件中存在较严重的缺陷。（ O ）126锻件探伤时如缺陷被探伤人员判定为白点，则应按密集缺陷评定锻件等级。( X )127采用25P14Z探头，按JB 396385标准对200mm轴类钢锻件作径向探伤，可不进行曲面补偿。(O)128按JB 396385标准对简形锻件作横波探伤时，凡缺陷反射波幅超过50距离波幅曲线时均不合格。(X)129外径400mm，内径320mm压力容器用低合金钢筒形锻件可按JB 396385标准检 验。( X )130JB 3

15、96385标准所划分的三种锻件等级应一一对应使用。( X )131焊缝斜角探伤中，裂纹等危害性缺陷的反射波幅总是很高的。( X )132焊缝斜角探伤时，如采用直射法，可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响。(O)133采用双探头串列法扫查焊缝时，位于焊缝深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出现在荧光屏上同一位置。(O)134焊缝探伤所用斜探头当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小(O)135焊缝斜角探伤时常采用液态耦合剂，说明横波可以通过液态介质薄层。( X)136对焊缝中与声束成一定角度的缺陷，探测频率较高时，缺陷回波不易被探头接收。( O )137焊缝探伤中，依据缺陷的静态波形可准确地判定

16、缺陷性质。( X )138GB 1134589标准串列法扫查时采用的绝对灵敏度测长法，规定以定量线为测长灵 敏度。( X )139电渣焊缝探伤中，如发现“八字裂纹”缺陷，应按GB 1134589标准关于缺陷密集程度的规定进行评定。( X )140按GB 1134589标准的要求，探测横向缺陷时，距离波幅曲线中原评定线将成为定量线。( O )二、填空题141超审波在介质中的传播过程，是(能量)传播过程，没有(物質)的迁移。142超声波在介质中传播时，其波长与(声速)成正比，与(頻率)成反比。143表面波在介质表面传播时，介质表面质点作( )运动，这种运动可视为振动与( )振动的合成。（ ）144

17、表面波只能在( )表面传播，表面波的( ) 随传播深度增加而迅速( )145横波是波的传播方向与质点振动方向( )的一种波动类型，它只能在( )中传播。146在板厚与波长相当的弹性薄板中传播的波称为( )。根据质点振动方向的不同可将这种波分为( )波和( )波。*147对称型兰姆波的特点是薄板中心质点作( )振动，上下表面质点作( )运动，振动相位( )并对称于中心。*148非对称型兰姆波的特点是薄板中心质点作( )振动，上下表面质点作（ ）运动，振动相位( )，不对称。149波的传播方向称为( )，它恒垂直于( )。150波阵面为( ， )的波称为球面波，球面波各质点的振幅与( )成反比。1

18、51超声波探头中的波源近似( )振动，在各向同性的介质中辐射的波称为( ) 波。当距探头的距离足够远时，它类似于( )。 152超声波探伤中广泛采用的是脉冲波，脉冲波是波源振动( ) )很短，( )辐射的波。 153固体介质的( )愈大，密度( ),则纵波声速愈大。*154板波的波速是随频率不同而( )的，具有( )性质。155在相同的声压下，材料的声阻抗愈大，质点( )就愈小，因此声阻抗表示超声场中介质对( )的阻碍作用。156超声场中，声压与超声波频率成( )比，声强与声压( )成正比，与频率( )成正比。157超声波垂直入射到异质界面时，反射波和透过波的声能(声强)分配比例由( )和(

19、)来表示，它仅与界面两侧介质的( )有关。158超声波垂直入射到某界面，如第一介质声阻抗远大于第二介质声阻抗，则声压反射率趋于( )，透过率趋于( )。159超声波垂直入射到异质界面时，声压往复透过率仅与( )*160超声波通过异质薄层时声压反射率和透过率不仅与( )有关，而且与( )与( )之比有关。161超声波通过两侧介质声阻抗相同的异质薄层时，如薄层厚度为( )整数倍，声波透射率最大，这种透声层称为( )。162。超声波在介质中的传播方向通常用波的( )与( )的夹角来描述。传播方向的改变由( )和( )来确定。163超声纵波倾斜入射至钢水界面时，纵波反射角( )入射角，横波反射角( )

20、入射角。164超声纵波斜入射至异质界面，使纵波折射角为90时的( )称为第一临界角，此时 第二介质中只有( )。 165为使工件中只有单一的横波，斜探头入射角应选择在( )和( )之间。 166超声横波倾斜入射至钢空气界面时，纵波反射角( )入射角，横波反射角( )入射角。*167横波斜入射到异质界面使纵波反射角为90时的横波入射角称为( )，它的大小只与第一介质的( )和( )有关。168超声波倾斜入射到界面上时，不同类型声波的声压反射率和透过率，不仅与( ) 有关，而且与入射波的类型及( )的大小有关。169超声波入射到曲界面时，反射波与透过波的聚散情况主要取决于( )和（ ）170超声波

21、入射到曲界面时，反射波波阵面的形状取决于( )。171超声波入射到曲界面时，凹曲面的反射波( )，凸曲面的反射波( )*l72超声波平面波入射到球界面时凹球面上的反射波好像是从( )发出的( )波；凸球面上的反射波好像是从( )发出的( )波。 173透镜式水浸聚探头，在水中的焦距随透镜曲率半径的减小而( )，随声速比值C2Cl的增加而( )。 174超声波扩散衰减主要取决于( )，与( )的性质无关。超声柱面波的衰减规律为；柱面波的声压与( )成反比。 175超声衰减的定量表示方法是采用衰减系数。介质的材质衰减系数为( )与( )之和。 176介质的吸收衰减与( )成正比；对( )材料吸收衰

22、减可忽略不计。*177介质的散射衰减与( )、( )和( )有关。因此探伤晶粒较粗大的工件时。常常选用较低的( )。 178依据波源轴线上声压变化规律不同，可把超声场分为( )区和( )区，轴线上最后一个声压极大值位置至波源的距离称为( )。179圆晶片超声场的近场长度与频率成( )比与( )成正比。180在超声远场声束轴线上的声压与声源面积成( )比，随( )的增加而单调地减少。181超声场中未扩散区长度b约等于( )N声程xb时声束开始扩散，X3N时，声束按( )规律扩散。 182晶片直径( )，频率( )指向角愈小。 183矩形状源纵波声场的近场长度与波长成( )比，与( )成正比。*1

23、84固体介质中的脉冲波声场的近场区，其声压极值点数量较理想声场( )且极大极小值幅度差异( )。*185斜探头横波声场近场区分布在( )介质中，近场区长度随入射角的增大而( )。186声程X3N时平底孔的回波声压与干底孑L面积成( )比，与声程的( )成反比。1875平底孔，声程从100mm增加到200mm时，如不计材质衰减。则回波声压为原来的( )，回波幅度下降( )dB。188声程x3N时，长横孔的回波声压与孔径的( )成正比，与声程的( )成反比。191声程200mm。6长横孔的回波声压是3横孔的( )倍，回波幅度较后者高( )dB。192声程x3N时，球孔的回波声压与( )成正比，与(

24、 )成反比193d=3的球孔，声程从150mm增加到300mm时，如不计材质衰减，则回波声压为原来的( )。回波幅度下降( ) dB。194超声波径向探测J3N的实心圆柱体时，类似于球面波在( )面上的反射，圆柱体曲底面回波声压与( )相同。 195AyG曲线又称为( )( )( )曲线，其中A代表( )，y代表( )，G代表( )。 196A型显示探伤仅荧光屏的横坐标代表声波的( )，纵坐标代表( )*197召型显示探伤仪荧光屏的横坐标代表( )纵坐标代表( ) 198C型显示探伤仪荧光屏上可显示出工件内部缺陷的( )，但不能显示( )。 199A型脉冲反射式超声波探伤仪的主要组成部分有(

25、)、( )、( )、( )，( )、( )等。 200探伤仪扫描电路又称( )，用来产生( )电压加至示波管的( )偏转板上，产生一条扫描线。 201。CTS一22型探伤仪面版上，属于接收电路的控制旋钮有( )、( )、( )等 202探伤仪显示电路中的示波管由( )、( )和( )等三部分组成。 203探伤仪接收电路中，衰减器的作用是调节( )和测量( )。 ， 204探伤仪面版上的“延迟旋钮”用于调节( )时刻与( )时刻的时间差，使扫描线上的回波位置左右移动。 205探伤仪上，“深度补偿”的作用是改变( )的性能，使位于不同深度相同尺寸缺陷的回波高度差异( )。 206压电晶体分为单晶体

26、和多晶体，一般来说，单晶体( )灵敏度较高，多晶体的()灵敏度较高。207压电晶片的谐振频率与晶片厚度的乘积为( )，称为( )。其单位是( )208探头中的阻尼块亦称为( )，其作用是( )和( )。209聚焦探头的聚焦性能，通常用( )和( )来描述210双晶探头由于( )和( )分开，并使用了( )，所以减小了( )，有利于近表面缺陷的探测。*211聚焦探头的焦点尺寸与晶片直径、波长和焦距有关，晶片直径( )，波长( ) 。焦距( )，则焦点小。 212超声波探伤中所用的试块，通常可分为( )试块和( )试块两大类213利用CS1和CS2型试块，可绘制直探头( )波幅曲线和( )波 幅曲

27、线。214国产斜探头多以K值标称，它等于斜探头在( )中折射角的( )。215CSKIB试块上，50和44两孔的台阶可用来测定( )的( )。216超声波探伤方法，按原理分类可分为( )法，( )法和( )法217脉冲反射法按照判断缺陷情况的回波性质分类，可分为( )法、( )法和( )法。218大型工件水浸法探伤时常采用局部水浸法，局部水浸法可分为( )式，（ ）式和（ ）式。219锻件探伤时，一般对定量要求较高，因此应选择( )好，( )精度高的超声波探伤仪。220斜探头通常是经过( )来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面( )或( )的缺陷。221超声波探伤中频率的高低对探伤有很大影响

28、。一般在保证( )的前提下，应尽量选择( )频率。222探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少( )，宜选用( )探头。 223超声耦合是超声波在探测面上的( )。超声耦合好说明( )高。 224探伤中通常在工件表面施加一层耦合剂，其作用是排除探头与工件表面间的( )，使超声波能有效的传入工件。此外耦合剂还有减少( )的作用。 225探伤前，探伤仪调节的主要内容是调节仪器的( )和探伤系统的( )。 226横波探伤时，扫描速度的调节方法有：( )，( )和( )三种。*227表面波探伤时，扫描速度调节一般是按( )调节时基线扫描比例。 228利用CSKIB试块R50，R100两曲面回波按水

29、平1：1调扫描速度时，如探头K值为1，则R50，R100的回波应分别对准水平刻度的( )和( )。229采用试块法调节探伤灵敏度时，应考虑进行( )补偿和( )补偿。230影响缺陷定位精度的因素中，属于探头的因素有：( )，( )，( )( )等。231在影响定量精度的因素中，频率偏差不仅影响用( )法调节探伤灵敏度，而且影响用( )法对缺陷定量。232纵波垂直法探伤中，为减少工件侧壁对缺陷定量的影响，宜选用( )高，( )大的探头进行探伤。*233纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波( )，远离侧壁探测时回波( )。234用底波法调节探伤灵敏度时，如底面粗

30、糙或粘有水迹将会使底波( )，这样利用底波调节的灵敏度将( )，缺陷定量将会( )。235缺陷的形状对缺陷回波幅度有较大影响，当声程和直径都相等时，缺陷波高以( )形为最高，( )形次之，( )形最低。236超声波探伤中，缺陷的特征是指缺陷的( )，( )，( )和( )。237超声波探伤中，时常依据缺陷波形分析缺陷性质。缺陷波形分为( )大类。238缺陷的静态波形是指探头对准缺陷不动时缺陷波的( ) 、（ ）和（ ）。239影响缺陷静态波形的因素中，就缺陷本身而言主要包括( )、（ ）和（ ）等。240缺陷动态波形图的纵坐标表示( )，横坐标表示探头( )241钢板中常见的缺陷有( )，(

31、)，( )等。242钢板手工垂直法探伤中，采用的主要耦合方式有：( )法和( )法。243钢板探伤多采用底波多次反射法，这样不仅可以根据( )来判定缺陷情况，而且可以根据( )判定缺陷情况。244钢板探伤中，采用的主要扫查方式有( )扫查、( )扫查、( )扫查和( )扫查等。245钛碳钢复合板探伤时由于两种材料的( )相差较大，即使复合良好，荧光屏上也会出现( )回波。*246利用板波对薄板探伤时如发现端头信号( )有反射信号出现时，应( )确定缺陷确切位置。 247ZB J7400388标准对探伤仪的特殊要求是：垂直线性误差应( )；始波占宽对25MHz探头应( )、对5MHz探头应( )

32、。 248检验板厚75mm的钢板时，按ZBJ74003标准的规定。应将试块上直径( )平底孔的第一次反射波高调到满刻度的( )作为探伤灵敏度。249。按ZBJ7400388标准的规定，作为缺陷的三种显示情况是：F1( )FlB1、( ) (BlCSCL BCsCLCR C、CLCsCR D以上都不对287在下列不同类型超声波中，哪种波的传播速度随频率的不同而改变?( B )A表面波 B、板波 C疏密波 D剪切波288超声波入射到异质界面时，可能发生；( D ) A反射 B。折射 C、波型转换 D以上都可能289超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将发生( B ) A只绕射无反射 B

33、既反射又绕射 C只反射无绕射290在同一固体介质中，当分别传播纵、横波时，它的声阻抗将( C ) A一样 B、传播横波时大 C、传播纵波时大 D似上A和C291当温度升高时，水的声阻抗将( B ) A不变 B增大 C变小 D无规律变化292超声波垂直入射到异质界面时，反射波与透过波声能的分配比例取决于( C ) A界面两侧介质的声速 B界面两侧介质的衰减系数 C界面两侧介质的声阻抗 D以上全部293在同一界面上，声强透过率T与声压反射率r之间的关系是( B )AT=r2 BT=1-r2 C.T=l+ r2 D.T=1-r294在同一界面上，声强反射率R与声强透过率r之间的关系是( D ) AR+T1 B丁1-R CR=1-T D以上全对295超声波倾斜入射至异质界面时，其传播方向的改变主要取决于( B ) A界面两侧介质的声阻抗 B界面两侧介质的声速 C、界面两侧介质的