NCE老化测试设计方案(DOC 22页).doc

1、老化测试设计方案修改记录版本/ 状态修改容制定/日期审核/日期批准/日期A0初始版本徐寅文2016-03-18苏宏营贾楠A11、增加老化测试次数的检测和限制。2、增加老化前置条件。3、增加老化测试前防呆设计。4、补充充电控制说明。5、补充老化 APK管理、安装说明。6、产品无陀螺仪，去除。7、补充指纹老化说明。8、补充音频环路测试。9、增加TP检测中开路检测和短路检测 如何设计说明；10、增加验证方案的有效性说明。徐寅文2016-04-01苏宏营贾楠目录一、目的 3二、需求分析 32.1.硬件器件测试 322软件功能测试 32.3.电路测试 324背景应力测试 4三、APK具体测试流程图 4四

2、、概要设计 84.1. 测试启动及条件确认 84.2. 数据初始化84.3. 电量控制94.4. 重启部分94.5. 循环测试阶段104.6. Camera 测试134.7. EMMC擦写测试144.8. 指纹测试154.9. DDR模块检测154.10. 背景应力164.11. 测试结果保存 174.12. 电量问题174.13. 日志分析设计方案 17五、避免老化残影 18六、APK有效性验证 19七、APK安装与管理 19一、目的通过器件以及系统老化测试，激发产品早期类问题，拦截制程/器件/系统类导致的失效问题,从而降低合作产品的FFR因为从华为自研近5000万台的产品失效分析数据来看，

3、前三个月故障占比可达到 58.2%，所以对于合作产品来说，能拦截住前三个月的故障，对产品FFR改善会有很大帮助。二、需求分析2.1. 硬件器件测试对手机各部分器件进行全面检测，如：I2C、TP、Receiver、Speaker、LCD、背 光灯、LED指示灯、Camera、EMMC、指纹以发现各部分器件早期失效问题。2.2. 软件功能测试软件功能测试主要是对手机常用的功能（如休眠唤醒、重启、功能开关或关闭等）进行 模拟和控制。其中如重启和功能开关或关闭已在硬件器件测试中体现。 故此处重点描述休 眠唤醒操作。2.3. 电路测试电路测试部分主要涉及到充电电路测试和电路调压测试。24背景应力测试背景

4、应力测试主要是通过执行 CPU高负载操作来进行升温操作，关闭CPU高负载来 进行降温操作。同时加以马达的震动服务来进行应力构建。三、APK具体测试流程图 整个老化测试需要重复18轮：每一轮都会重复“升温（6分钟）一一降温（10分钟）一一升温（6分钟） 降温（10分钟）”这个操作（暂定其名称为“升降操作”）。但是，第一轮和最后一轮比较特殊：第一轮刚开始的时候，在升降操作之前，需要进行50次重启测试；而在最后一轮的升降操作之后，将开始依次进行Camera、EMMC以及DDR的测试（DDR测试放在最后是有原因的，因为 DDR测试需要进入Recovery模式）。也就是说，除了第一轮和最后一轮测试，其

5、他每一轮只进行升降操作的过程。升降操作过程中，包括了除重启、Camera 、EMMC和DDR测试外的其他所有老化测试项。流程图:综合测试进入视频播放测试项EMMC测试指纹测试DDR测试END综合测试的测试流程图:具体测试项架构图:四、概要设计4.1. 测试启动及条件确认1、 确认老化测试环境温度控制在20-28摄氏度，湿度控制在 30%-75%2、通过桌面图标点击进入老化测试启动界面3、测试前二次弹框确认避免测试人员误操作，因为老化测试一旦启动无法退出4、确认充电器是否连接完善，避免未连接充电器导致老化过程中电量耗尽5、 读取NV值确认手机老化次数，超过3次就弹框提示并无法继续执行6、确认MM

6、I测试是否成功4.2. 数据初始化NV刚开始测试时，将一些测试所需的数据进行初始化记录，如：初始化器件检测存储值、老化写为F、保存系统初始状态、打开充电log开关、判定老化测试开始前是否存在系统稳定性问题。在数据初始化过程中出现记录失败的情况，对于这类情况做一下初步失败原因判断，并记录43 电量控制启动一个service，监听电量变化的广播。在service启动一个han die，每过10秒监听一次电量变化值，超过10%作为失败。每次开机后对比上次关机前的电量值，超过10%作为失败。4.4. 重启部分1、I2C检测在每个i2c器件的探测函数里面进行判断，如果此i2c器件探测函数执行成功，则判定

7、此i2c器件检测成功。如该I2C器件检测成功，则在此器件对应的标志位标记为1,否则不处理，默认为0。蓝牙、Wifi、麦克风、接近光、重力感应、指南针、GPS2、重启通过监听android.intent.action.BOOT_COMPLETED来开机自动调起程序，完成重复重启动作。每次重启前将剩余重启次数保存在SharedPrefere nces中，以便下次开机后读取。对于检测失败的原因做一个大致的判断和记录。对于重启过程中产生的异常重启做判断并记录时间点。4.5. 循环测试阶段1、LCD测试1）首先调用后台测试接口 ，打开开后台测试项（包括：PA老化、CPU高负载以及震动三部分）2）接着,设

8、置一个闹钟,6分钟后，老化apk会收到闹钟广播，从而停止6分钟的升温过程，进入10分 钟的降温过程3）然后，把手机屏幕亮度调成最大4）最后,发送消息到消息队列，前2min通过消息处理接口来处理红、蓝、黄、白、黑五幅纯色图片的循环切换操作（备注:合作产品暂时不进行 LCD GRAM数据检测操作）。需要通过相应接口来判 断图片是否显示正常。并记录相应的测试结果。5）然后调用相应的LCD反转接口来对LCD的显示结构进行调整。6）同时,启动后台的TP检测和音频播放流程。7）纯色图片切换2min结束后接2min的动、静态2D图切换8）最后2min为3D旋转测试（OpenGL 框架开发的魔方或茶壶）2、音

9、频老化音频测试的服务起来之后，依次调用onCreate（） 和onStartCommand（） 方法。1）.进入onCreate（）方法后,首先调用初始化音频参数接口（包括加载音频文件以及设置3个音视频相关的监听器），然后,设置闹钟，6分钟后停止音频测试。2）接着,开始调用onStartCommand（）方法。在该方法中，仅做一件事：注册闹钟广播接收器。3）调用相应的播放接口启动音频播放。4）音频播放结束后，进行相应计数来控制音频播放的模式切换（偶数时receiver 发声,奇数时speaker发声）。然后在调用相应的播放接口，继续播放音频，形成循环播放的效果。3、TP检测TP测试包含开路测试

10、和短路测试。开路测试通过读取每个通断容值来跟预设的阈值进行比较，如果超出阈值围，认为TP存在断路情况。短路测试主要通过读取寄存器的状态来判断TP是不是存在短路情况。以上两种情况只要由一种或者一种以上情况发生，则认为TP不良。1）根据节点状态，判断TP类型，创建相应的对象实例接口2）查询TP检查结果接口查询TP检查结果，如果为fail,更新相应的失败次数3）读取节点文件中的容接口4）获取测试结果接口根据读取节点文件中的容，判断测试结果，并设置测试结果，生成结果描述字符串。4、综合测试1打开器件；2. 检查器件是否打开；3. 显示检测结果；4. 保存结果；5. 释放占用的硬件资源、完成当前Acti

11、vity等相关活动。5、speaker音频环路测试通过speaker播放铃声，mic录音组成一个环路， 自判定speaker和mic的通路是否正常； 开启 一个 mediaplayer 和一个 record，启动一个 han die，通过 postDelayed 消息，每次获取 record 得到的maxAmplitude ，然后取100次平均值，大于 1k即pass。6、视频播放测试全屏播放视频，开启震动和多线程CPU使用，执行TP测试。测试过程中不应该有退出或卡死现象重启流程46 Camera 测试下述流程描述中，包括了前后Camera 、闪光灯、FF/AF类型不同情况判断，然后在 log

12、记录系统中进行相应信息的记录和判断。此项目配置如下:主摄像头：13MP AF 带闪光灯副摄像头：5MP FF 不带闪光灯备注：SurfaceHolder 为 android.view.SurfaceHolder ，其为显示一个 surface 的抽象接口，可以 控制surface的大小和格式，以及在surface上编辑像素，和监视 surface的改变。4.7. EMMC擦写测试测试的整体思路是将int型数据以数据块的形式写入到手机存储器中（EMMC ），保存在emmc.txt文件中；然后再对该文件进行读取操作，并与写入的数据进行比对。如果写入的数据与读取的数据相同， 则判定为测试通过。这个过

13、程一共需进行 50轮，每一轮对11个数据块进行写入、读取和对比操作。如下为具体流程描述1）判断手机置sd卡（置sd卡其实就是手机的置存储器，即手机的硬盘）是否正常在位。这也是对EMMC检测中的一个重要判断，如果不在位，说明手机自带的置存储器根本无法使用。如果不在位，直接结束本测试项。 2）定义010共11个字符块，大小分别为512/1K/2K.512K bits;3）依次向EMMC里写入这11个字符块（将int型数据以数据块的形式），并对写入成功过程进行判定 .（备注：可在在手机EMMC中创建emmc.txt文本文件；文件的具体路径建议为： mnt/sdcard/emmc.txt。即在手机硬盘

14、区的根目录下创建的该文件 ）4）这11个当做一个循环，写完一个循环后，开始从 EMMC里面读出写入的值，并对读 出 成功与否的过程进行判定；5） 比对写入和读出的值，如果真值不匹配也判定为Fail;6）上述过程重新循环 50次，测试完毕。EMMC mi存 苻块48指纹测试对指纹模组进行 5分钟的老化测试，验证器件的一致性。指纹老化测试包括spi通讯是否正常、中断是否正常、芯片型号检测、指纹采图判断像素点坏点。设置一个指纹sensor的监听，调用framework 的FingerprintSensorTest类中的测试接口，开启关闭指纹器件，获取芯片型号检查通讯是否正常。启动指纹采集自测试方案，

15、通过代码部实现采集芯 片像素点，自判断是否有坏点。APP通过接口取值判断并记录测试结果4.9. DDR模块检测1、 APK写入要测试的参数文件，如 DDR要测试多少M （般每次10MB即可）2、手机重启，进入HOTA升级模式/界面；3、进行HOTA升级；把HOTA升级包（DDR测试可执行文件）写到tmp目录下；4、用不同算法对DDR写入10M的值，然后读出这些值，比对写入和读出来是否一致；（这些算法根据不同的DDR而自行决定，主要是要模拟实际用户操作中会采用哪些算法/操作方式来对DDR进行写操作，一般跟具体的 DDR芯片相关）5、如不一致，需要记录这些错误的测试结果6、HOTA升级后结果写入相

16、关测试临时文件下面7、APK检测HOTA是否升级成功；& 记录相应的测试结果9、手机重启。4.10. 背景应力CPU高负载来进行降温操作。背景应力测试主要是通过执行CPU高负载操作来进行升温操作，关闭同时加以马达的震动服务来进行应力构建。1. CPU模块1. 开启多个CPU线程。（根据不同的核数而定，一般2核或4核对应的线程就可以开多）2. 提高CPU占用率为96%，同时进行死循环运算，并快速的进行图片切换，CPU占用率最终会达到约99%.（其中 手机震动同时启动） 在这种操作下，5分钟，CPU背面单板温度可以达到约 55 度左右。3.6分钟后停止CPU高负载操作，进行降温过程4.10分钟后又

17、启动升温过程，如此反复。2. 马达模块振动方式为：振2秒停1秒。long al = 0, 2000L, 10001, 20001, 10001 ;vibrator.vibrate（al, 0）;在升温的6分钟震动，在降温的10分钟期间停止此模块测试。4.11. 测试结果保存测试结果以TXT形式保存到persist分区，以byte形式保存。P表示测试通过，F表示测试失 败，U表示未测试。4.12. 电量问题测试过程中，后台启动一个service每过10秒监听一下电量情况。当2次电量差距超过10%时判断为异常，当电量小于等于 60%时开始充电，当电量大于75%后停止充电。 后台service测试过

18、程中永远存在。用来保证电量。4.13. 日志分析设计方案老化测试过程中，测试过程及各项测试结果均会以Log 形式被保存到mnt/sdcard/RunningTestll/Log/目录下，测试结束后，可以通过PC端抓取老化测试log工具将Log导出。Log文件名：日期时间+ Log_runningtest.txt。其中的日期时间为测试开始时间，每次测试生成一个日志文件。测试过程以Info等级打印；测试结果以Debug等级打印，可以搜索关键字result ”找到；测试失败原因以 Error等级打印，可以通过搜索reason ”找到。五、避免老化残影1、所有界面隐藏状态栏和导航栏2、非屏幕测试界面避

19、免白色等高亮度颜色出现在屏幕上星舌需書执行老化测试老化址过敏行后fi宜完匪前无法退 出请确认是否隔要执行足否需製执行老化测试君化测试执行昭a测试完庭酗无透退 岀is确认金西花遊执行遛宝刑叱超hA执行去化鞠1修改后修改前六、APK有效性验证1、 使用故障机或器件缺损的机器进行有效性验证，如：无camera/指纹及其他sensor的机器执行老化，相应的测试项应该fail。2、 使用良品进行老化测试，应该全部pass。七、APK安装与管理1、 提供APK安装工具，APK通过工厂安装手动安装。安装后 APK在data分区可以找到2、恢复出厂设置可以清除 APK及测试log，测试结果保留3、老化测试过程：MMI 老化 MMI2同时安装APK的工具也可以提供给测试或者售后用来安装老化APK执行测试