1、王 佳中 国 海 洋 大 学2 0 1 4 年 5 月一 电化学阻抗谱研究方法原理二 电化学阻抗谱测量技术三 电化学阻抗谱等效电路模型数据解析方法1. 等效电路模型解析途径2. 电化学阻抗谱等效电路解析方法的物理化学基础3. 电化学阻抗谱等效电路模型解析准则4. 建立等效电路模型基本方法5. 电化学过程和等效电路模型一致性检验基本原则6. 溶液/膜/金属体系电化学阻抗响应特征7. 电化学阻抗谱等效电路模型解析的完备步骤u电化学参量扰动控制和响应测量：电化学过程参量 i=f(E,t,C)=f(E) t, , C；函数扰动可以获得可解析的线性响应；Ei ,解析i 和 E的关系，获知G函数性质；u时
2、间域/频率域响应的传输函数G(t/ )简单电化学过程可以用时间域G(t)方法：简单的结构，低阻抗，快速过程；复杂电化学过程可用频率域G()方法：复杂结构，高阻抗，多个快-慢复合过程；u小幅值交流信号扰动-响应-解析电化学阻抗谱方法阻抗响应传输函数G()=E/i；导纳响应传输函数 G()=i/E；小幅值扰动线性区响应；正弦波扰动正弦波响应；频率域宽范围展开多步骤子过程，获得不同速度容抗/感抗丰富信息深入认识电化学过程。X YBGG=Y/Xu黑箱扰动方法：可以测定线性稳定结构未知黑箱体系的扰动和响应，分析扰动和响应的关系可获知黑箱性质传输函数G的机构；2. 电化学阻抗谱研究方法l电化学阻抗谱测量方
3、法：扰动和响应的可靠测量技术；l电化学阻抗谱解析方法：动力学解析，等效电路模型解析；电化学阻抗谱研究方法的前提条件因果性：响应信号和扰动信号间存在因果关系，响应信号只是扰动信号的响应，而非其他信号（如噪声）的响应；线 性：响应信号与扰动信号存在同频率线性函数关系，不存在高次谐波；稳定性：扰动信号不会引起系统内结构的变化（不引起其他变量的变化，如表面状态），停止扰动后能够恢复初始状态。n小幅值扰动接近原位状态准稳态暂态技术，扰动和响应存在线性关系；n测量技术全自动进行，操作简单，方法多样；小幅值正弦波频率/电位/幅值扫描技术、极化状态测量、浮地技术、滤波技术；计算机数据解析-拟合-模拟技术、图像
4、变换技术、提供大量等效电路模型参考；n能够测定极微弱电流，适合于高阻抗体系电化学行为研究；n频率域测量能够提供宽范围多个快反应和慢反应速度信息，动态过程和结构信息，包含大量丰富机理信息；能够获得其他方法难于得到的微观机理信息（Cdl、吸附、分布等信息）；n等效电路解析方法模型建立直观易理解，可应用于复杂连续过程，更适合与应用研究。p信息量大导致信息间识别分辨难度增加；速度和结构相近信息耦合复杂，电极过程-阻抗谱响应-等效电路之间非严谨一一对应，同一电极电位不同，响应和等效电路也不同。需要进行严谨的一致性检验；等效电路的电化学意义需要理解；p小幅值扰动导致高阻抗体系信号响应微弱，噪声干扰大，数据
5、可靠性需要检验；腐蚀电化学体系的非线性、波动性、局部性的电化学过程都会影响数据质量和可靠性。p模型解析基础工作需要发展。1. 影响电化学阻抗谱测量的若干因素（1）恒电位仪器性能影响输入阻抗：高阻抗有利于测量微弱电流；高输入电阻+低输入电容；灵敏度：电位/电流分辨率；漂移：放大器，基准电位、电位和电流检测表零点漂移。电压表测定电子等效电路（无电容）的R点的电位漂移和恒电位仪指示的零点变化。负载特性：极化电流变化到额定值时工作电极电位的变化情况即为恒电位仪的跟随特性，实为基准设定电位和实际工作电极电位的差值，通常不同电位时均应在偏差范围内。测定方法同上。响应时间：频率响应特性。工作电极电位随基准电
6、位变化的响应时间。用函数信号发生器加载不同频率的对称方波，并双踪示波器分别输入电位和工作电极响应电位的波形，直至响应电位波形发生畸变的响应频率和时间。容性负载允许范围：电容变化会引起高频振荡，存在适应电容变化的的范围。用示波器连接电子等效电路的R点，观察波形变化。恒电位仪恒电位仪电位范围电位范围: 10V10V电位上升时间电位上升时间: 1微秒微秒槽压槽压: 12V12V电流范围电流范围: 250mA参比电极输入阻抗参比电极输入阻抗:1 10101212欧姆欧姆灵敏度灵敏度: 1 /V/V共共12档量程档量程输入偏置电流输入偏置电流: 50pA电流测量分辨率电流测量分辨率: 10MHz*输入阻
7、抗 1013*最大采样频率： 1MS/s*电化学交流阻抗测试范围： 10uHz5MHz交流电压幅值范围： 0.1mV-1V带宽噪声滤波 7个IR补偿正反馈 有动态补偿 有接口辅助电压输入接口 缓存：缓存：4MGamryGamry（2）电解池系统的影响l工作电极：腐蚀产物和表面膜导致的电极表面稳定性、密封缝隙、接地、电流分布l参比电极系统：体系响应时间应该远小于扰动时间；高阻抗响应时间长导致高频相移；高阻抗盐桥会降低响应速度；多孔陶瓷电导；l辅助电极：过高阻抗会显著干扰测量结果；l导线夹电阻：l鲁金毛细管：过细阻抗高、气泡断路、l盐桥：Cl-和有机物污染，高内阻影响；（3）测量条件的影响 测量电
8、位：腐蚀电位、阳极极化、阴极区、钝化区、吸附-脱附区 扰动值：取决于测量点的线性区范围和响应信号强弱； 扰动性质：电压扰动、电流扰动、电极的极化特性； 扫频律-扫幅值-扫电位：需要的信息种类；Mott-Schottky曲线测量； 倍频程数据量：噪声干扰水平； 频率范围：电极过程的响应速度、材料性质、信息种类； 工频滤波：避免50Hz倍频； 实地-浮地：噪声控制，工作电极接地状态； 连续-接续多组测量：阴极极化-阻抗-阳极极化-阻抗顺序测量； 环境噪声：抑制环境电磁噪声干扰的能力；噪声过高淹没待测信号；2. 电化学测试有效性的检测体系响应异常的可能部位：恒电位仪器故障/电解池故障 电子元件等效电
9、路取代电解池方法 参比电极问题：盐桥和鲁金毛细管问题；接触问题；准参比电极取代法； 辅助电极和工作电极问题：表面锈层影响连接； 电化学阻抗高频响应进入第VI象限：恒电位仪响应速度不够导致相移； 频率响应分析仪连接错误：V1/V2；软件和硬件检测； 电解池设计和电极位置：电力线分布均匀，有效工作面积=实际工作面积；辅助电极和工作电极对称性；辅助电极和工作电极间的电阻； 溶液电阻对稳态测量影响：高电流区极化曲线无线性范围畸变； 溶液电阻对暂态测量影响：高电流脉冲对恒电位仪功率储备的影响；电解池时间常数必须小于暂态测量时间标度，消除过渡过程的影响。等效电路模型解析方法的特点l等效电路模型解析方法简单
10、直观，易于理解和应用，受到多领域研究人员广泛使用。但由于解析过程严谨性和可靠性方面不规范，不严谨的等效电路模型反而误导对电极过程的认识。为了使这一方法能够有效使用，有必要理解这一方法的物理基础和应用规范。l电极过程阻抗响应等效电路非一一对应，等效电路模拟方法建立模型的合理性必须从阻抗谱响应一致性和电极动力学过程一致性进行检验。阻抗谱响应一致性：等效电路模型阻抗谱响应必须与电极过程测量的响应一致；电化学过程一致性：等效电路模型是电极过程的动力学描述，必须与电极过程特征一致。l科学使用等效电路解析方法首先需要理解电化学过程、电化学阻抗谱响应和模拟等效电路模型之间的关系，这是建立合理可靠等效电路模型
11、的基础。此外还需要掌握分析、建模和验证等效电路模型的必要步骤。（1） 目的：获取传递函数认知电化学过程机构（2） 途径：测定电化学过程阻抗谱响应？ 直接认知电化学机构的困难需要借助数学物理方法解析阻抗谱响应建立等效电路模型（或动力学模型）验证等效电路阻抗谱响应一致性验证电化学过程机构一致性认识电化学过程机构（3） 困难：电化学过程-阻抗谱响应-等效电路模型三者并非一一对应关系；（4） 解决：等效电路和电化学过程一致性验证：阻抗响应一致性+结构和性质的一致性；（1） 电化学过程与等效电子电路的比较l相同点形式模拟电化学过程和等效电子电路具有相同阻抗谱响应均存在多时间常数的R、C、L响应；电化学过
12、程和等效电路都遵守相同电学基本规律均可用电流、电位等参量和并联、串联结构来描述；电化学阻抗谱等效电路模型解析方法基础：可根据阻抗谱响应特征建立电化学过程和等效电路之间的相关性，推断电化学过程机理和结构。l不同点本质区别无法用电子电路元件模拟的电化学过程元件扩散过程元件W、弥散效应元件CPE、电化学过程电流性质和界面转换无法模拟电化学过程电流在不同相内具有不同的形式，在相界面发生电流机制转换，并保持电流的连续性；电化学过程中电流：金属为电子电流，溶液为离子电流，钝化膜中为半导体多数载流子电流，在相界面发生等当转换保持电流的连续性。还涉及锈层电流、涂层电流、微生物膜电流等等。这些性质无法简单用等效
13、电路直接模拟。电极表面电流的不均匀分布行为无法用集中电子元件描述局部腐蚀过程、涂层破损失效过程、不均匀表面之间的耦合电流。(2) 等效电路与其阻抗谱响应非对应关系2)(1,11,1ppSpSSpSSSppppSppSCRCCRRCCRR阻抗谱响应全频域等价同一阻抗谱响应对应不同的等效电路Rp305000100001500020000-20000-15000-10000-50000ZZ2times-demo1.z10-410-310-210-1100101102103104105102103104105Frequency (Hz)|Z|2times-demo1.z10-410-310-210-1
14、100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)thetaRsCcoatRcoatCdlRcorrElementFreedomValueErrorError %RsFixed(X)10N/AN/ACcoat-TFixed(X)1E-07N/AN/ACcoat-PFixed(X)0.8N/AN/ARcoatFixed(X)15000N/AN/ACdl-TFixed(X)1E-06N/AN/ACdl-PFixed(X)0.7N/AN/ARcorrFixed(X)3000N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:C:S
15、AIZModelsTutor3 Coated Metal.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus10100002000030000-30000-20000-100000ZZ2times-demo2.z10-410-310-210-1100101102103104105102103104105Frequency (Hz)|Z
16、|2times-demo2.z10-410-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)thetaRsCcoatRcoatCdlRcorrElementFreedomValueErrorError %RsFixed(X)10N/AN/ACcoat-TFixed(X)1E-07N/AN/ACcoat-PFixed(X)0.8N/AN/ARcoatFixed(X)15000N/AN/ACdl-TFixed(X)0.0001N/AN/ACdl-PFixed(X)0.8N/AN/ARcorrFixed(X)15000N/AN/AData Fil
17、e:FitResultCircuit Model File:C:SAIZModelsTutor3 Coated Metal.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus205000100001500020000-20000-15000-10000-50000ZZ2times-demo3.z10-410-310-210-11001
18、01102103104105101102103104105Frequency (Hz)|Z|2times-demo3.z10-410-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)thetaRsCcoatRcoatCdlRcorrElementFreedomValueErrorError %RsFixed(X)10N/AN/ACcoat-TFixed(X)1E-05N/AN/ACcoat-PFixed(X)0.8N/AN/ARcoatFixed(X)1500N/AN/ACdl-TFixed(X)0.0001N/AN/ACdl-PFixed
19、(X)0.7N/AN/ARcorrFixed(X)15000N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:C:SAIZModelsTutor3 Coated Metal.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus3同一等效电路具有不同阻抗响应10-410-310-210-1100101
20、10210310410510-1100101102103104Frequency (Hz)|Z|3times-demo5.z10-410-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)theta0100020003000-3000-2000-10000ZZ3times-demo2.zR1CPE1R2CPE2R3CPE3ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)1000N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.0002N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.7N/AN/AR2Fixed(X)10
21、00N/AN/ACPE2-TFixed(X)0.0005N/AN/ACPE2-PFixed(X)0.7N/AN/AR3Fixed(X)1000N/AN/ACPE3-TFixed(X)0.001N/AN/ACPE3-PFixed(X)0.7N/AN/AData File:Circuit Model File:Mode: Run Simulation / Freq. Range (0.001 - 1000000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc
22、-ModulusD10-310-210-1100101102103104105106100101102103104Frequency (Hz)|Z|3times-demo4.z10-310-210-1100101102103104105106-75-50-250Frequency (Hz)theta0250050007500-7500-5000-25000ZZ3times-demo4.zBR1CPE1R2CPE2R3CPE3ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)1000N/AN/ACPE1-TFixed(X)7E-05N/AN/ACPE1-PFixe
23、d(X)0.6N/AN/AR2Fixed(X)2000N/AN/ACPE2-TFixed(X)0.0002N/AN/ACPE2-PFixed(X)0.8N/AN/AR3Fixed(X)4000N/AN/ACPE3-TFixed(X)0.0004N/AN/ACPE3-PFixed(X)0.8N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:Mode: Run Simulation / Freq. Range (0.001 - 1000000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitt
24、ing: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus0250050007500-7500-5000-25000ZZ3times-demo3.z10-310-210-110010110210310410510610-310-210-1100101102103104Frequency (Hz)|Z|3times-demo3.z10-310-210-1100101102103104105106-100-75-50-250Frequency (Hz)thetaAR1CPE1R2CPE2R3CPE3ElementFreedomValueErrorError %R1Fix
25、ed(X)1000N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE1-PFixed(X)1N/AN/AR2Fixed(X)2000N/AN/ACPE2-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE2-PFixed(X)1N/AN/AR3Fixed(X)4000N/AN/ACPE3-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE3-PFixed(X)1N/AN/AData File:Circuit Model File:Mode: Run Simulation / Freq. Range (0.001 - 1000000)Maximum Iterations:100O
26、ptimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus0100020003000-3000-2000-10000ZZ3times-demo1.z10-310-210-110010110210310410510610-310-210-1100101102103104Frequency (Hz)|Z|3times-demo1.z10-310-210-1100101102103104105106-100-75-50-250Frequency (Hz)thetaR1CPE1R2CPE2R3CPE3E
27、lementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)1000N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE1-PFixed(X)1N/AN/AR2Fixed(X)1000N/AN/ACPE2-TFixed(X)0.001N/AN/ACPE2-PFixed(X)1N/AN/AR3Fixed(X)1000N/AN/ACPE3-TFixed(X)0.01N/AN/ACPE3-PFixed(X)1N/AN/AData File:Circuit Model File:Mode: Run Simulation / Freq. Range (0.001 -
28、 1000000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-ModulusC同一等效电路具有不同阻抗响应3. 电化学阻抗谱等效电路模型解析准则等效电路模型是电化学过程的描述，如不一致则模型失效；u等效电路模型和电化学机构一致；u等效电路模型元件性质与相应电化学子机构性质一致；进行等效电路模型的阻抗响应一致性和电化学过程结构性质一致性检验是等效电路模型解析方法的必不可少的一个步骤。4. 建立等效电路模型基本方法 等效电路模型是电极过程动力学的描述，其
29、元件与电极子过程对应相关； 阻抗谱响应包含了电极过程结构和性质的信息，是建立等效电路模型的依据； 等效电路建模始于阻抗响应，终极目标是认识电极过程，如果与电极过程存异，则模型无效。 建模前须借助于其他途径获取电极过程部分信息，作为建模的基本出发点； 借助于基本电极过程认识和阻抗谱响应特征来组建复杂电极过程的等效电路模型； 建模过程是一种试探法，根据所获取的电极过程信息和阻抗响应信息组建多个可能的等效电路，分析和验证其间的关联和适应性，排除存疑模型，确立有效模型。 电化学阻抗谱和等效电路之间不存在唯一对应关系，同一个EIS往往可以用多个等效电路来很好的拟合。具体选择哪一种等效电路，要考虑等效电路
30、在被侧体系中是否有明确的物理意义，是否与电极机构一致。可借助与成功的文献模型辅助建模。电化学过程阻抗响应特征及其等效电路模型的建立1.阻抗响应特征是建立等效电路模型起点高频响应、低频响应、时间常数数量、阻抗性质（电阻、电容、电感-负电容、负电阻）和对应的元件；2.阻抗响应对应等效电路基本组件：R、C、L、W、CPE；3.根据已知电极过程信息确定元件性质，数量，连接方式，分析推断可能的等效电路结构；4.根据响应特征构建等效电路组件、结构和连接方式，建立初步等效电路模型；5.存疑时增补不同条件（扫描方向，溶液搅拌）阻抗实验和稳态暂态针对性实验；简单腐蚀电化学过程等效电路模型1.电荷转移控制体系2.
31、扩散控制体系3.吸附过程的体系4.点蚀过程体系5.有机涂层体系6.富锌涂层体系7.钝化体系025050075010001250-1250-1000-750-500-2500ZZr(cr)demo1.mdl10-410-310-210-1100101102103104105101102103104Frequency (Hz)|Z|r(cr)demo1.mdl10-410-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)thetaR1R3CPE3ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/AR
32、3Fixed(X)1000N/AN/ACPE3-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE3-PFixed(X)0.9N/AN/AData File:Circuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 Demo RC1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: C
33、alc-Modulus1.电荷转移过程050100150-150-100-500ZZr(crw)demo1.mdlR1CPE1R2W1ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.0004N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.8N/AN/AR2Fixed(X)20N/AN/AW1-RFixed(X)100N/AN/AW1-TFixed(X)0.5N/AN/AW1-PFixed(X)0.5N/AN/AData File:Circuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Amete
34、k报 告 20140522Ametek报 告 Demo RCRW1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus10-410-310-210-1100101102103104105101102103Frequency (Hz)|Z|r(crw)demo1.mdl10-410-310-210-1100101102103104105
35、-40-30-20-100Frequency (Hz)theta1.有限扩散过程0100020003000-3000-2000-10000ZZr(crw)demo2.mdl10-410-310-210-1100101102103104105101102103104Frequency (Hz)|Z|r(crw)demo2.mdl10-410-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)theta1.半无限扩散过程R1CPE1R2W1ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-
36、TFixed(X)0.0004N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.8N/AN/AR2Fixed(X)1000N/AN/AW1-RFixed(X)100N/AN/AW1-TFixed(X)0.5N/AN/AW1-PFixed(X)0.25N/AN/AData File:Circuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 Demo RCRW2.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimiz
37、ation Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus10-310-210-1100101102103104105101102103104Frequency (Hz)|Z|r(c(rc)(rc)demo1.mdl10-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)theta10-310-210-1100101102103104105101102103104105106Frequency (Hz)|Z|r(cr(rc)demo2.mdl10-310-
38、210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)theta10152025-10-505ZZr(cr(rl)demo1.mdl10-410-310-210-1100101102103104105101102Frequency (Hz)|Z|r(cr(rl)demo1.mdl10-410-310-210-1100101102103104105-30-20-10010Frequency (Hz)thetaR1CPE1R3R2L1ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-TFixed(X)
39、0.0001N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.8N/AN/AR3Fixed(X)1000N/AN/AR2Fixed(X)8N/AN/AL1Fixed(X)0.0025N/AN/AData File:Circuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 r(cr(rl)demo1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.0005 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitti
40、ng: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus1015202530-15-10-505ZZr(cr(rl)demo2.mdl10-410-310-210-1100101102103104105101102Frequency (Hz)|Z|r(cr(rl)demo2.mdl10-410-310-210-1100101102103104105-30-20-10010Frequency (Hz)thetaR1CPE1R3R2L1ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.000
41、19N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.7N/AN/AR3Fixed(X)1500N/AN/AR2Fixed(X)15N/AN/AL1Fixed(X)0.0055N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 r(cr(rl)demo1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.01 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of F
42、itting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus050010001500-1500-1000-5000ZZr(cr(rc)demo1.mdl10-310-210-1100101102103104105101102103104Frequency (Hz)|Z|r(cr(rc)demo1.mdl10-310-210-1100101102103104105-75-50-250Frequency (Hz)theta1.吸附过程（3）吸附过程（1）取决于 ad相对值1.吸附过程（2）R1CPE1R3CPE2R2ElementFreedomValueErrorE
43、rror %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.0002N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.8N/AN/AR3Fixed(X)1000N/AN/ACPE2-TFixed(X)0.02N/AN/ACPE2-PFixed(X)0.8N/AN/AR2Fixed(X)300N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 r(cr(rl)demo1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.
44、001 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting: Calc-Modulus050000100000150000-150000-100000-500000ZZr(cr(rc)demo2.mdl有机涂层体系R1CPE1R3CPE2R2ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-TFixed(X)1E-06N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.8N/AN/AR3Fixed(X)
45、10000N/AN/ACPE2-TFixed(X)1E-05N/AN/ACPE2-PFixed(X)0.8N/AN/AR2Fixed(X)1.3E05N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 r(cr(rl)demo1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.001 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: C
46、omplexType of Weighting: Calc-Modulus025005000750010000-10000-7500-5000-25000ZZr(c(rc)(rc)demo1.mdl富锌涂层体系R1CPE1R3CPE2R2CPE3ElementFreedomValueErrorError %R1Fixed(X)10N/AN/ACPE1-TFixed(X)1E-06N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.8N/AN/AR3Fixed(X)9000N/AN/ACPE2-TFixed(X)0.001N/AN/ACPE2-PFixed(X)0.8N/AN/AR2Fixed(X)10
47、00N/AN/ACPE3-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE3-PFixed(X)0.8N/AN/AData File:FitResultCircuit Model File:D:2014研 究 -活 动 -发 展 Ametek报 告 20140522Ametek报 告 r(cr(rl)demo1.mdlMode: Run Simulation / Freq. Range (0.001 - 100000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting: ComplexType of Weighting:
48、 Calc-Modulus5. 电化学过程和等效电路模型一致性检验基本原则Cdl位置：在紧密双电层区域，与金属相连接；Rt、Rp位置：在紧密双电层区域，与金属相连接;W扩散过程：一定位于本体溶液和双电层之间；完好涂层：呈现高电阻；腐蚀产物膜：等效元件取决于膜致密性和组成结构；渗水涂层和多孔腐蚀产物层：电阻本质为孔隙溶液导电机制；单一多个属性元件：应具有相同的双端连接点；电抗元件结构合理性检验：频率外推法。01000200030004000-4000-3000-2000-10000ZZrw(cper)：data.zR1W1R2CPE1ElementFreedomValueErrorError %
49、R1Fixed(X)10N/AN/AW1-RFixed(X)10000N/AN/AW1-TFixed(X)10000N/AN/AW1-PFixed(X)0.5N/AN/AR2Fixed(X)1000N/AN/ACPE1-TFixed(X)0.0001N/AN/ACPE1-PFixed(X)0.9N/AN/AData File:Circuit Model File:Mode: Run Simulation / Freq. Range (0.0001 - 1000000)Maximum Iterations:100Optimization Iterations:0Type of Fitting:
50、ComplexType of Weighting: Calc-Modulus6. 溶液/膜/金属体系电化学阻抗响应特征腐蚀电化学研究中涉及多种膜过程。膜增加了金属腐蚀电化学研究中涉及多种膜过程。膜增加了金属- -溶液间的相及相界面，必然影响溶液溶液间的相及相界面，必然影响溶液- -金属间金属间电荷流动过程以及腐蚀电化学过程。其作用取决于膜导电性能、致密性、结合力、化学组成等因素电荷流动过程以及腐蚀电化学过程。其作用取决于膜导电性能、致密性、结合力、化学组成等因素。l 膜元件在电化学过程中的位置和作用：电极过程模拟等效电路模型属本体溶液和金属电极二端网络结构。本体溶液和金属电极之间存在多个串联串
