用于EAST电子回旋辐射测量的32道外差系统的建立课件.ppt

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1、报告人 布景亮指导老师 高翔 研究员凌必利 研究员刘永 副研究员2011年12月6日1报告内容 建立32道外差系统的动机和意义 32道外差系统介绍 可以进行的相关物理研究 计划安排 参考文献2 建立32道外差系统的动机和意义 32道外差系统介绍 可以进行的相关物理研究 计划安排 参考文献34 通过研究辐射在介质中的输运性质发现,当介质满足1、局域热平衡2、光性厚两个条件时,介质发出的辐射接近黑体辐射电子回旋辐射测量的物理基础电子回旋辐射频谱电子温度分布56光厚计算7电子回旋辐射测量的意义8名称名称频率覆盖范围频率覆盖范围谱分辨率谱分辨率外差系统受微波器件限制最好光栅多色仪很大,且容易改变一般傅

2、立叶变换谱仪最大最差电子回旋辐射测量的方法 测量等离子体电子回旋辐射频谱的手段主要有两类,分别是基于微波技术的外差系统和基于光谱学技术的光栅多色仪系统、傅立叶变换谱仪系统等。9外差系统光栅多色仪傅立叶变换谱仪2-18 GHz装置装置频率范围频率范围空间空间分辨率分辨率JT-6024LHD3639JET96Alcator C-Mod32FTU3210外差系统通道数通道数频率范围频率范围分辨率分辨率径向极向时间TFTR20JT-60U20Alcator C-Mod19FTU12LHD14JET1211光栅多色仪装置装置频率范围频率范围分辨率分辨率空间时间FTUJETLHDTFTRAlcatorC-

3、ModDIII-DJT-60U12迈克尔逊干涉仪13系统通道数频率范围频率范围分辨率分辨率相关物理研究20全局测量,监测非热辐射1632 建立32道外差系统的动机和意义 32道外差系统介绍 可以进行的相关物理研究 计划安排 参考文献14BS1BS2BS3104-168 GHz104-120 GHz120-136 GHz136-152 GHz51 GHzTo Band 159 GHzTo Band 267 GHzTo Band 375 GHz152-168 GHzTo Band 4名称名称性能性能主透镜150 mm; f -400 mm高通#1130 mm; Apertures 0.0672 i

4、nch; 104 GHz聚焦镜#1120 mm; f -90 mm高通#2130 mm; Apertures 0.0582 inch; 120 GHz聚焦镜#2120 mm; f -105 mm高通#3130 mm; Apertures 0.0512 inch; 136 GHz聚焦镜#3120 mm; f -125 mm高通#4130 mm; Apertures 0.0458 inch; 152 GHz聚焦镜#4120 mm; f -135 mm15射频前端fIF=3.1, 5.1, 7.1, 9.1 GHzIF=0.4, 0.4, 0.5, 0.5 GHzfIF=11.1, 13.1, 15

5、.1, 17.1 GHzIF=0.5, 0.5, 0.5, 0.5 GHz10 GHz中频和视频部分161.系统搭建2.直流偏置电压测试3.中频响应测试4.射频响应测试已经完成的工作1789 cm系统搭建18ReceiverCh 1Ch 2Ch 3Ch 4Ch 5Ch 6Ch 7Ch 8#1-0.962-0.962-0.969-0.965-0.962-0.961-0.953-0.959#2-0.960-0.962-0.959-0.961-0.966-0.960-0.962-0.955#3-0.960-0.959-0.966-0.967-0.959-0.962-0.962-0.959#4-0.9

6、67-0.961-0.967-0.966-0.966-0.965-0.962-0.965ReceiverCh 1Ch 2Ch 3Ch 4Ch 5Ch 6Ch 7Ch 8#1-0.9650-0.9651-0.9709-0.9674-0.9651-0.9654-0.9564-0.9633#2-0.9611-0.9638-0.9613-0.9630-0.9682-0.9626-0.9637-0.9569#3-0.9627-0.9620-0.9683-0.9692-0.9635-0.9650-0.9648-0.9605#4-0.9686-0.9638-0.9664-0.9681-0.9683-0.96

7、87-0.9643-0.9674Measured at UC DavisMeasured in our Lab19直流偏置电压测试Ch6 13.1 GHzCh715.1 GHzCh817.1 GHz#15.8 (-0.89) 9.6 (-0.86) 14.1 (-0.89)#25.0 (-0.48) 9.9 (-0.35) 14.0 (-0.44)#35.3 (-0.16) 9.4 (-0.29) 14.3 (-0.38)#44.9 (-0.40)9.9 (0.74)14.0 (0.08)20中频和射频响应测试21接下来要进行的工作装置名称黑体源类型说明Alcator C-Mod冷源(液氮)/

8、沸水装置放在真空室中FTU热源(SiC)利用迈克尔逊干涉仪提高信噪比JIPP T-IIU热源(SiC)可加热到500IPR冷源(液氮)标定温度为77K和室温TORE SUPRA16热源T=600LHD热源/冷源(液氮)标定温度差较大DIII-D冷源(液氮)标定温度为77K和室温22国内外各装置的标定情况 建立32道外差系统的动机和意义 32道外差系统介绍 可以进行的相关物理研究 计划安排 参考文献2324可以进行的相关物理研究25电子回旋辐射测量的应用辅助加热沉积位置 建立32道外差系统的动机和意义 32道外差系统介绍 可以进行的相关物理研究 计划安排 参考文献2627未来计划安排1. M.

9、BORNATICI, R. CANO. (1983). Nucl.Fusion. 23(9): 1153.2. A. Cavallo, R. C. Cutler, et al. (1988). Review of Scientific Instruments 59(6): 889.3. J. L. Sgui, D. Molina, G. Giruzzi, M. Goniche, G. Huysmans, P. Maget, M. Ottaviani, and the Tore Supra Team (2005). REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. 76, 12

10、35014. Ti, A., B. L. Ling, et al. (2007). International Journal of Infrared and Millimeter Waves 28(3): 243-249.5. Y.Liu (2011). Plasma Science and Technology. 13(3): 3526. Y.Liu (2011). Fusion Science and Technology. 59: 657.7. Kawahata, Kazuo. (1990). Japanese Journal of Applied Physics.8. Ti, A.,

11、 B. L. Ling, et al.(2007).International Journal of Infrared and Millimeter Waves 28(3): 243-249.9. Nagayama, Y. (2001). Fusion Engineering and Design: 201211.10.Isei, N. (2001). Fusion Engineering and Design 53: 213-220.11.Austin, M. E. and J. Lohr (2003). Review of Scientific Instruments 74(3): 1457.12.Luna, E de la., J. Sanchez, et al. (2004). Review of Scientific Instruments 75(10): 3831.28参考文献

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