1、第六章第六章 原子吸收光谱法原子吸收光谱法 (Atomic Absorption Spectrometry, AAS) 6.1 概述概述6.2 基本理论基本理论6.3 AAS仪器及其组成仪器及其组成6.4 干扰及其消除方法干扰及其消除方法6.5 原子吸收分析方法原子吸收分析方法6.6 原子荧光光谱分析简介原子荧光光谱分析简介分析对象为金属元素；通用型方法；难实现多元素同时测定。分析对象为金属元素；通用型方法；难实现多元素同时测定。6.1 概述概述历史：历史： 1802年，发现原子吸收现象；年，发现原子吸收现象；1955年，年，Australia 物理学家物理学家Walsh A将该现象应用于分析
2、；将该现象应用于分析；60年代中期发展最快。年代中期发展最快。 AAS是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光的吸收为基是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光的吸收为基础的分析方法。础的分析方法。AAS与与AES之比较：之比较：相似之处相似之处产生光谱的对象都是原子；产生光谱的对象都是原子；不同之处不同之处AAS是基于是基于“基态原子基态原子”选择性选择性吸收光辐射能吸收光辐射能(h )，并使，并使该该 光辐射强度降低光辐射强度降低而产生的光谱而产生的光谱(共振吸收线共振吸收线)； AES是基态原子受到热、电或光能的作用，原子从基是基态原子受到热、电或光能的作用，原子从基 态跃迁至激
3、发态，然后再返回到基态时所产生的光谱态跃迁至激发态，然后再返回到基态时所产生的光谱(共共 振发射线和非共振发射线振发射线和非共振发射线)。 AAS特点：特点：1）灵敏度高：火焰原子法，）灵敏度高：火焰原子法，ppm 级，有时可达级，有时可达 ppb 级；石级；石 墨炉可达墨炉可达10-910-14（ppt 级或更低级或更低）.2）准确度高：）准确度高：FAAS 的的 RSD 可达可达13。3）干扰小，选择性极好；）干扰小，选择性极好；4）测定范围广，可测）测定范围广，可测70 种元素。种元素。不足：多元素同时测定有困难；不足：多元素同时测定有困难； 对非金属及难熔元素的测定尚有困难；对非金属及
4、难熔元素的测定尚有困难； 对复杂样品分析干扰也较严重；对复杂样品分析干扰也较严重； 石墨炉原子吸收分析的重现性较差。石墨炉原子吸收分析的重现性较差。6.2 基本理论基本理论一、基态原子数与总原子数的关系一、基态原子数与总原子数的关系 待测元素在进行原子化时，其中必有一部分原子吸收了较多的能量待测元素在进行原子化时，其中必有一部分原子吸收了较多的能量而处于激发态，据热力学原理，当在一定温度下处于热力学平衡时，激而处于激发态，据热力学原理，当在一定温度下处于热力学平衡时，激发态原子数与基态原子数之比服从发态原子数与基态原子数之比服从 Boltzmann 分配定律：分配定律：可见，可见，Ni/N0
5、的大小主要与的大小主要与“波长波长” 及及“温度温度”有关。即有关。即a）当温度保持不变时：激发能）当温度保持不变时：激发能(h )小或波长长，小或波长长，Ni/N0则大，即波长长的则大，即波长长的 原子处于激发态的数目多；但在原子处于激发态的数目多；但在 AAS 中，波长不超过中，波长不超过 600nm。换句。换句 话说，激发能对话说，激发能对 Ni/N0 的影响有限！的影响有限！b）温度增加，则）温度增加，则 Ni/N0 大，即处于激发态的原子数增加；且大，即处于激发态的原子数增加；且Ni/N0随温度随温度 T 增加而呈指数增加。增加而呈指数增加。kTEiiieggNN/00 尽管原子的激
6、发电位和温度尽管原子的激发电位和温度 T 使使 Ni /N0 值有数量级的变化，但值有数量级的变化，但 Ni /N0 值本身都很小。或者说，处于激发态的原子数小小于处于基态的原值本身都很小。或者说，处于激发态的原子数小小于处于基态的原子数！子数！实际工作中，实际工作中，T 通常小于通常小于3000K、波长小于、波长小于 600nm，故对大多数元素，故对大多数元素来说来说Ni /N0 均小于均小于1，Ni 与与N0 相比可勿略不计，相比可勿略不计，N0 可认为就是原子总可认为就是原子总数。数。总之，总之，AAS 对对 T 的变化迟钝，或者说温度对的变化迟钝，或者说温度对 AAS 分析的影响不大！
7、分析的影响不大！而而 AES 因测定的是激发态原子发射的谱线强度，故其激发态原子数因测定的是激发态原子发射的谱线强度，故其激发态原子数直接影响谱线强度，从而影响分析的结果。也就是说，在直接影响谱线强度，从而影响分析的结果。也就是说，在 AES 中须严中须严格控制温度。格控制温度。二、原子谱线轮廓二、原子谱线轮廓 以频率为以频率为 ，强度为强度为 I0 的光通过原子蒸汽，其中一部分光被吸收，的光通过原子蒸汽，其中一部分光被吸收，使该入射光的光强降低为使该入射光的光强降低为 I ： 据吸收定律，得据吸收定律，得其中其中K 为一定频率的光吸收系数。为一定频率的光吸收系数。注意注意： K 不是常数，而
8、是与谱线频率或波长有关。由于任何谱线并非不是常数，而是与谱线频率或波长有关。由于任何谱线并非 都是无宽度的几何线，而是有一定频率或波长宽度的，即谱线都是无宽度的几何线，而是有一定频率或波长宽度的，即谱线 是有轮廓的！因此将是有轮廓的！因此将 K 作为常数而使用此式将带来偏差！作为常数而使用此式将带来偏差！原子蒸汽原子蒸汽lhI0 I AlKIIeIIlk434. 0log0)(0I0K0/2K K0 0I 0 I （吸收强度与频率的关系）（吸收强度与频率的关系）K （谱线轮廓）（谱线轮廓） 根据吸收定律的表达式，以根据吸收定律的表达式，以 I 和和 K - 分别作图得吸收强度与频分别作图得吸收
9、强度与频率的关系及谱线轮廓。可见谱线是有宽度的。率的关系及谱线轮廓。可见谱线是有宽度的。图中：图中：K 吸收系数；吸收系数；K0最大吸收系数；最大吸收系数； 0， 0中心频率或波长中心频率或波长(由原子能级决定由原子能级决定)；，谱线轮廓半宽度（谱线轮廓半宽度（K0/2处的宽度）；处的宽度）；三、谱线变宽因素三、谱线变宽因素（Line broadening）1. 1. 自然变宽：自然变宽： 无外界因素影响时谱线具有的宽度。其大小为无外界因素影响时谱线具有的宽度。其大小为（ K 为激发态寿命或电子在高能级上停留的时间，为激发态寿命或电子在高能级上停留的时间，10-7-10-8 s） 原子在基态和
10、激发态的寿命是有限的。电子在基态停留的时间长，原子在基态和激发态的寿命是有限的。电子在基态停留的时间长，在激发态则很短。由海森堡测不准在激发态则很短。由海森堡测不准(Uncertainty principle)原理，这种情原理，这种情况将导致激发态能量具有不确定的量，该不确定量使谱线具有一定的宽况将导致激发态能量具有不确定的量，该不确定量使谱线具有一定的宽度度N (10-5nm)，即自然宽度。，即自然宽度。 该宽度比光谱仪本身产生的宽度要小得多，只有极高分辨率的仪器该宽度比光谱仪本身产生的宽度要小得多，只有极高分辨率的仪器才能测出，故可勿略不计。才能测出，故可勿略不计。 kN212. Dopp
11、ler2. Doppler变宽变宽：它与相对于观察者的原子的无规则热运动有关。又称：它与相对于观察者的原子的无规则热运动有关。又称热变宽。热变宽。 光子观测光子观测（0+D）（0-D）rARTc)2(ln220rDAT071016. 7rDAT071016.7 可见，可见，Doppler变宽变宽 与谱线波长、相对原子质量和与谱线波长、相对原子质量和温度温度有关，有关， 多在多在10-3 nm数量级数量级 3. 3. 压变宽压变宽（Pressure effectPressure effect） 吸收原子与外界气体分子之间的相互作用引起的变宽，又称为碰吸收原子与外界气体分子之间的相互作用引起的变宽
12、，又称为碰撞（撞（Collisional broadening）变宽。它是由于碰撞使激发态寿命变短所）变宽。它是由于碰撞使激发态寿命变短所致。外加压力越大，浓度越大，变宽越显著。可分为致。外加压力越大，浓度越大，变宽越显著。可分为a） Lorentz 变宽：待测原子与其它原子之间的碰撞。变宽在变宽：待测原子与其它原子之间的碰撞。变宽在10-3nm。b） Holtzmark 变宽：待测原子之间的碰撞，又称共振变宽；但由于变宽：待测原子之间的碰撞，又称共振变宽；但由于 AAS 分析时，待测物浓度很低，该变宽可勿略。分析时，待测物浓度很低，该变宽可勿略。v 外界压力增加外界压力增加谱线中心频率谱线中
13、心频率 0位移、形状和宽度发生变化位移、形状和宽度发生变化 发射线与吸收线产生错位发射线与吸收线产生错位影响测定灵敏度；影响测定灵敏度；v 温度在温度在1500-30000C之间，压力为之间，压力为1.013 10-5Pa 热变宽和压变宽热变宽和压变宽 有相同的变宽程度；有相同的变宽程度；v 火焰原子化器火焰原子化器压变宽为主要；石墨炉原子化器压变宽为主要；石墨炉原子化器热变宽为主热变宽为主 要。要。4. 4. 场致变宽场致变宽( (Field broadening)Field broadening)： 包括包括Stark变宽（电场）和变宽（电场）和Zeeman 变宽（磁场）变宽（磁场） 在场
14、致（外加场、带电粒子形成）的场作用下，电子能级进一步在场致（外加场、带电粒子形成）的场作用下，电子能级进一步发生分裂（谱线的超精细结构）而导致的变宽效应，在原子吸收分析发生分裂（谱线的超精细结构）而导致的变宽效应，在原子吸收分析中，场变宽不是主要变宽）。中，场变宽不是主要变宽）。 5. 5. 自吸与自蚀自吸与自蚀（Self-absorption & self-reversalSelf-absorption & self-reversal）： 光源（如空心阴极灯）中同种气态原子吸收了由阴极发射的共光源（如空心阴极灯）中同种气态原子吸收了由阴极发射的共振线所致。与灯电流和待测物浓度有关。振线所致。
15、与灯电流和待测物浓度有关。2000K2000K 3000K3000K 元素元素 波长波长/ / D D L L D D L L NaNa 5890.05890.0 3.93.9 3.23.2 4.84.8 2.72.7 BaBa 5535.65535.6 1.51.5 3.23.2 1.81.8 2.62.6 SrSr 4607.34607.3 1.61.6 2.62.6 1.91.9 2.12.1 CaCa 4226.74226.7 2.12.1 1.51.5 2.62.6 1.21.2 FeFe 3719.93719.9 1.61.6 1.31.3 1.91.9 1.01.0 CoCo 3
16、526.93526.9 1.31.3 1.61.6 1.61.6 1.31.3 AgAg 3280.73280.7 1.01.0 1.51.5 1.21.2 1.31.3 3382.93382.9 1.01.0 1.51.5 1.31.3 1.21.2 CuCu 3247.53247.5 1.31.3 0.90.9 1.61.6 0.70.7 MgMg 2852.12852.1 1.81.8 2.32.3 PbPb 2833.12833.1 6.36.3 0.80.8 AuAu 2675.92675.9 6.16.1 0.750.75 ZnZn 2188.82188.8 8.58.5 1.01
17、.0 四、积分吸收与峰值吸收系数四、积分吸收与峰值吸收系数1. 1. 积分吸收积分吸收 在原子吸收光谱中，无论是光源辐射的发射线还是吸收线都有一定在原子吸收光谱中，无论是光源辐射的发射线还是吸收线都有一定的宽度，亦即吸收定律的宽度，亦即吸收定律(AK l)中用于中用于K 不是常数，不是常数，而应是一定频率范而应是一定频率范围内的积分值，或称其为积分吸收：围内的积分值，或称其为积分吸收： 式中，式中，e为电子电荷；为电子电荷；m为电子质量；为电子质量；f为振子强度，为受到激发的每个原子的平为振子强度，为受到激发的每个原子的平均电子数，与吸收几率成正比。均电子数，与吸收几率成正比。 此式说明，在一
18、定条件下，此式说明，在一定条件下，“积分吸收积分吸收”只与基态原子数成正比只与基态原子数成正比而与频率及产生吸收线的轮廓无关。只要测得积分吸收值，即可求出基而与频率及产生吸收线的轮廓无关。只要测得积分吸收值，即可求出基态原子数或浓度。因此态原子数或浓度。因此 AAS 法是一种不需要标准比较的绝对分析方法法是一种不需要标准比较的绝对分析方法！ fNmcedK02但积分吸收的测定非常困难。因为原子吸收线的半宽度很小，但积分吸收的测定非常困难。因为原子吸收线的半宽度很小，只有只有0.001-0.005A。要分辨如此窄的谱线，对波长为。要分辨如此窄的谱线，对波长为500 nm，其分，其分辨率应为：辨率
19、应为：这样高的分辨率，对现代仪器不可能达到的！这样高的分辨率，对现代仪器不可能达到的！如果用连续光谱作光源，所产生的吸收值将是微不足道的，仪如果用连续光谱作光源，所产生的吸收值将是微不足道的，仪器也不可能提供如此高的信噪比！器也不可能提供如此高的信噪比！尽管原子吸收现象早在尽管原子吸收现象早在18世纪就被发现，但一直未用于分析。世纪就被发现，但一直未用于分析。直到直到1955年，年，Walsh 提出以提出以“峰值吸收峰值吸收”来代替来代替“积分吸收积分吸收”。从此，积分吸收难于测量的困难得以间接地解决。从此，积分吸收难于测量的困难得以间接地解决。 500000001.0500R2. 2. 峰值
20、吸收峰值吸收 1955年，年，Walsh指出，在温度不太高时，当发射线和吸收线满足以指出，在温度不太高时，当发射线和吸收线满足以下两个条件，即下两个条件，即: 当当e a时，发射线很窄，发射线的轮廓可认为是一个矩形，时，发射线很窄，发射线的轮廓可认为是一个矩形，则在发射线的范围内各波长的吸收系数近似相等，即则在发射线的范围内各波长的吸收系数近似相等，即K K0，因此可以，因此可以“峰值吸收峰值吸收”代替代替“积分吸收积分吸收”:通常通常K0与谱线的宽度有关，即与谱线的宽度有关，即上式表明，当用上式表明，当用锐线光源锐线光源作原子吸收测定时，所得作原子吸收测定时，所得A与原子蒸气中待测与原子蒸气
21、中待测元素的基态原子数成正比。元素的基态原子数成正比。aeae;LKA0fcmcefNmceKDD)(2ln12ln12020KcLA3. 3. 锐线光源锐线光源 根据根据Walsh的两点假设，发射线必须是的两点假设，发射线必须是“锐线锐线”（半宽度很小的谱线）。（半宽度很小的谱线）。1）锐线半宽很小，锐线可以看作一个很）锐线半宽很小，锐线可以看作一个很“窄窄”的矩形；的矩形；2）二者中心频率相同，且发射线宽度被吸收线完全）二者中心频率相同，且发射线宽度被吸收线完全“包含包含”，即在可，即在可吸吸 收的范围之内；收的范围之内；3）Walsh的理论为的理论为AAS光源设计具有理论指导意义。光源设
22、计具有理论指导意义。 0I 吸收线吸收线发射线发射线峰值吸收的测量峰值吸收的测量空心阴极灯空心阴极灯原子化器原子化器单色仪单色仪检测器检测器原子化系统原子化系统雾化器雾化器样品液样品液6.3 AAS仪器及其组成仪器及其组成 AAS仪器由光源、原子化系统（类似样品容器）、分光系统及检测仪器由光源、原子化系统（类似样品容器）、分光系统及检测系统。系统。废液废液切光器切光器助燃气助燃气燃气燃气原子吸收仪器结构示意图原子吸收仪器结构示意图一、光源及光源调制一、光源及光源调制 对对AAS光源的要求：光源的要求： a）发射稳定的共振线，且为锐线；）发射稳定的共振线，且为锐线； b）强度大，没有或只有很小的
23、连续背景；）强度大，没有或只有很小的连续背景； c）操作方便，寿命长。）操作方便，寿命长。1. 1. 空心阴极灯空心阴极灯( (Hollow Cathode Lamp, HCLHollow Cathode Lamp, HCL) )组成：组成：阳极（吸气金属）、空心圆筒形（使待测原子集中）阴极（阳极（吸气金属）、空心圆筒形（使待测原子集中）阴极（W+ 待测元素）、低压惰性气体（谱线简单、背景小）。待测元素）、低压惰性气体（谱线简单、背景小）。工作过程：工作过程：高压直流电高压直流电（300V）-阴极电子阴极电子-撞击隋性原子撞击隋性原子-电离电离(二二 次电子维持放电次电子维持放电)-正离子正离
24、子-轰击阴击轰击阴击-待测原子溅射待测原子溅射-聚集空聚集空 心阴极内被激发心阴极内被激发-待测元素特征共振发射线。待测元素特征共振发射线。影响谱线性质之因素：影响谱线性质之因素：电流、充气种类及压力。电流、充气种类及压力。 电流越大，光强越大，但过大则谱线变宽且强度不稳定；充入低压电流越大，光强越大，但过大则谱线变宽且强度不稳定；充入低压惰性气体可防止与元素反应并减小碰撞变宽。惰性气体可防止与元素反应并减小碰撞变宽。问题：问题：为什么为什么HCL会产生低背景的锐线光源？会产生低背景的锐线光源？答：低压原子密度低，答：低压原子密度低，Lorentz Broadening小；小电流温度低小；小电
25、流温度低Doppler Broadening 小，故产生锐线光源！惰性气体难于激发且谱线相小，故产生锐线光源！惰性气体难于激发且谱线相对简单对简单低背景。低背景。 2. 2. 无极放电灯（无极放电灯（ElectrodelessElectrodeless discharge lamps discharge lamps） 工作过程：工作过程：由于没有电极提供能量，该灯依靠射频由于没有电极提供能量，该灯依靠射频（RF）或微波作用或微波作用 于低压惰性气体并使之电离，高速带电离子撞击金属原子产于低压惰性气体并使之电离，高速带电离子撞击金属原子产 生锐线。生锐线。特点：特点：无电极；发射的光强度高（是无
26、电极；发射的光强度高（是HCL的的12个数量级）；但可靠性个数量级）；但可靠性 及寿命比及寿命比HCL低，只有低，只有 约约15 种元素可制得该灯。种元素可制得该灯。光源调制：光源调制： 来自火焰的辐射背景（连续光谱，直流信号）可与待测物吸收线来自火焰的辐射背景（连续光谱，直流信号）可与待测物吸收线一同进入检测器，尽管单色器可滤除一部分背景，但仍不能完全消除一同进入检测器，尽管单色器可滤除一部分背景，但仍不能完全消除这些背景对测定的干扰。为此，必须对光源进行这些背景对测定的干扰。为此，必须对光源进行“调制调制”。光源调制定义：光源调制定义：将入射光所产生的直流信号转换成交流信号，通过电将入射光
27、所产生的直流信号转换成交流信号，通过电 学方法将其与来自火焰的直流信号滤掉（学方法将其与来自火焰的直流信号滤掉（RC电路），电路）， 从而避免火焰背景干扰。从而避免火焰背景干扰。光源调制方法：光源调制方法：1）切光器）切光器（Chopper） 在光源和火焰之间加一金属圆盘（分成四个扇形，其中对角的在光源和火焰之间加一金属圆盘（分成四个扇形，其中对角的 两个扇形可让入射光通过）并以一定的速度（频率）旋转，入射光两个扇形可让入射光通过）并以一定的速度（频率）旋转，入射光 被被“切切”成交变的光，其在光电倍增管的响应为交流信号。成交变的光，其在光电倍增管的响应为交流信号。2）光源脉冲调制：通过脉冲方
28、式给光源供电，直接产生）光源脉冲调制：通过脉冲方式给光源供电，直接产生“脉冲脉冲”光。光。二二. 原子化器原子化器(Atomizer) 原子化器是将样品中的待测组份转化为基态原子的装置。原子化器是将样品中的待测组份转化为基态原子的装置。1. 1. 火焰原子化器火焰原子化器 由四部分组成：由四部分组成： a）喷雾器；）喷雾器； b）雾化室）雾化室 c）燃烧器）燃烧器 d）火焰）火焰a）喷雾器：将试样溶液转为雾状。要求稳定、雾粒细而均匀、雾化效率）喷雾器：将试样溶液转为雾状。要求稳定、雾粒细而均匀、雾化效率 高、适应性高（可用于不同比重、不同粘度、不同表面张高、适应性高（可用于不同比重、不同粘度、
29、不同表面张 力的溶液）。力的溶液）。b）雾化室：内装撞击球和扰流器（去除大雾滴并使气溶胶均匀）。将雾）雾化室：内装撞击球和扰流器（去除大雾滴并使气溶胶均匀）。将雾 状溶液与各种气体充分混合而形成更细的气溶胶并进入燃烧状溶液与各种气体充分混合而形成更细的气溶胶并进入燃烧 器。器。 该类雾化器因雾化效率低（进入火焰的溶液量与排出的废液量的比该类雾化器因雾化效率低（进入火焰的溶液量与排出的废液量的比值小），现已少用。目前多用超声波雾化器等新型装置。值小），现已少用。目前多用超声波雾化器等新型装置。c）燃烧器：产生火焰并使试样蒸发和原子化的装置。有单缝和三缝两种）燃烧器：产生火焰并使试样蒸发和原子化的
30、装置。有单缝和三缝两种 形式，其高度和角度可调（让光通过火焰适宜的部位并有最形式，其高度和角度可调（让光通过火焰适宜的部位并有最 大吸收）。大吸收）。 燃烧器质量主要由燃烧狭缝的性质和质量决定（光程、燃烧器质量主要由燃烧狭缝的性质和质量决定（光程、 回火、堵塞、耗气量）。回火、堵塞、耗气量）。d）火焰）火焰 火焰分焰心（发射强的分子火焰分焰心（发射强的分子带和自由基，很少用于分析）、带和自由基，很少用于分析）、内焰（基态原子最多，为分析区）内焰（基态原子最多，为分析区）和外焰（火焰内部生成的氧化物和外焰（火焰内部生成的氧化物扩散至该区并进入环境）。扩散至该区并进入环境）。燃烧速度：混合气着火点
31、向其它燃烧速度：混合气着火点向其它部分的传播速度。当供气速度大部分的传播速度。当供气速度大于燃烧速度时，火焰稳定。但过于燃烧速度时，火焰稳定。但过大则导致火焰不稳或吹熄火焰，大则导致火焰不稳或吹熄火焰，过小则可造成回火。过小则可造成回火。天然气天然气- -空气火空气火焰焰火焰温度：火焰温度： 不同类型火焰其温度不同，如下表所示。不同类型火焰其温度不同，如下表所示。燃气燃气 助燃气助燃气 燃烧速度燃烧速度/cm.s-1 温度温度/oC 特特 点点 C2H2 Air 158-266 2100-2500 温度较高，最常用（稳定、噪声小、温度较高，最常用（稳定、噪声小、重现性好，可测定重现性好，可测定
32、 30 多种元素）多种元素） C2H2 O2 1100-2480 3050-3160 高温火焰，可作上述火焰的补充，高温火焰，可作上述火焰的补充，用于其它更难原子化的元素用于其它更难原子化的元素 C2H2 N2O 160-285 2600-2990 高温火焰，具强还原性（可使难分高温火焰，具强还原性（可使难分解的氧化物原子化） ， 可用于多达解的氧化物原子化） ， 可用于多达 70多种元素的测定。多种元素的测定。 H2 Air 300-440 2000-2318 较低温氧化性火焰较低温氧化性火焰，适于共振线位，适于共振线位于短波区的元素（于短波区的元素（As-Se-Sn-Zn） H2 O2 9
33、00-1400 2550-2933 高燃烧速度，高温，但不易控制高燃烧速度，高温，但不易控制 H2 N2O 390 2880 高温，适于难分解氧化物的原子化高温，适于难分解氧化物的原子化 丙烷丙烷 Air 82 2198 低温，适于易解离的元素，如碱金低温，适于易解离的元素，如碱金属和碱土金属。属和碱土金属。 火焰的燃助比：火焰的燃助比： 任何一种火焰均可按燃气与助燃气的比例分为三类具不同性质的任何一种火焰均可按燃气与助燃气的比例分为三类具不同性质的火焰：火焰：1）化学计量型：指燃助比近似于二者反应的计量关系，又称中性火焰。）化学计量型：指燃助比近似于二者反应的计量关系，又称中性火焰。 温度高
34、、稳定、干扰小、背景低，知适于大多数元素温度高、稳定、干扰小、背景低，知适于大多数元素 分析；分析；2）富燃火焰：燃气比例较大的火焰（燃助比大于化学计量比）。燃烧）富燃火焰：燃气比例较大的火焰（燃助比大于化学计量比）。燃烧 不完全、温度略低，具还原性，适于难分解的氧化物的不完全、温度略低，具还原性，适于难分解的氧化物的 元素分析。但干扰较大、背景高。元素分析。但干扰较大、背景高。3）贫燃火焰：助燃气大于化学计量的火焰。温度最低，具氧化性，适）贫燃火焰：助燃气大于化学计量的火焰。温度最低，具氧化性，适 于易解离和易电离的元素，如碱金属。于易解离和易电离的元素，如碱金属。2. 2. 石墨炉原子化器
35、石墨炉原子化器（Graphite furnace AtomizerGraphite furnace Atomizer） 石墨炉组成石墨炉组成 包括电源、保包括电源、保护系统和石墨管三护系统和石墨管三部分。部分。电源：电源：1025V，500A。用于产生高温。用于产生高温。保护系统：保护系统： 保护气保护气（Ar）分成两路分成两路 管外气管外气防止空气进入，保护石墨管不被氧化、烧蚀。防止空气进入，保护石墨管不被氧化、烧蚀。 管内气管内气流经石墨管两端及加样口，可排出空气并驱流经石墨管两端及加样口，可排出空气并驱 除加热初始阶段样品产生的蒸汽除加热初始阶段样品产生的蒸汽 冷却水冷却水金属炉体周围通
36、水，以保护炉体。金属炉体周围通水，以保护炉体。石墨管：多采用石墨炉平台技术。如前图石墨管：多采用石墨炉平台技术。如前图 b)，在管内置一放样品的石墨，在管内置一放样品的石墨 片，当管温度迅速升高时，样品因不直接受热（热辐射），因片，当管温度迅速升高时，样品因不直接受热（热辐射），因 此原子化时间相应推迟。或者说，原子化温度变化较慢，从而此原子化时间相应推迟。或者说，原子化温度变化较慢，从而 提高重现性。提高重现性。 另外，从经验得知，当石墨管孔隙度小时，基体效应和重另外，从经验得知，当石墨管孔隙度小时，基体效应和重 现性都得到改善，因此通常使用裂解石墨作石墨的材料。现性都得到改善，因此通常使用
37、裂解石墨作石墨的材料。 原子化过程原子化过程原子化过程可分为四个阶段，即干燥、灰化、原子化和净化。如图原子化过程可分为四个阶段，即干燥、灰化、原子化和净化。如图干燥干燥温温度度oC时间，时间，t净化净化原子化原子化灰化灰化虚线：阶梯升温虚线：阶梯升温实线：斜坡升温实线：斜坡升温干干 燥：去除溶剂，防样品溅射；燥：去除溶剂，防样品溅射；灰灰 化：使基体和有机物尽量挥发除去；化：使基体和有机物尽量挥发除去；原子化：待测物化合物分解为基态原子，此时停止通原子化：待测物化合物分解为基态原子，此时停止通 Ar，延长原子停，延长原子停 留时间，提高灵敏度；留时间，提高灵敏度；净净 化：样品测定完成，高温去
38、残渣，净化石墨管。化：样品测定完成，高温去残渣，净化石墨管。思考：试比较思考：试比较FAAS和和GFAAS的优缺点！的优缺点！3. 低温原子化（化学原子化）低温原子化（化学原子化） 包括汞蒸汽原子化和氢化物包括汞蒸汽原子化和氢化物原子化。原子化。1）汞蒸汽原子化（测汞仪）汞蒸汽原子化（测汞仪） 将试样中汞的化合物以还原将试样中汞的化合物以还原剂剂（如如SnCl2）还原为汞蒸汽，还原为汞蒸汽，并通过并通过Ar 或或N2 将其带入吸收池将其带入吸收池进行测定。进行测定。2）氢化物原子化）氢化物原子化特点：可将待测物从在一定酸度特点：可将待测物从在一定酸度条 件 下 ， 将 试 样 以 还 原 剂条
39、 件 下 ， 将 试 样 以 还 原 剂（NaBH4）还原为元素的气态氢还原为元素的气态氢化物，并通过化物，并通过Ar或或N2将其带入热将其带入热的石英管内原子化并测定的石英管内原子化并测定(右图右图)。大量基体中分离出来，大量基体中分离出来，DL比火焰比火焰法低法低1-3个个数量级，选择性好且干数量级，选择性好且干扰也小。扰也小。三、分光系统三、分光系统 同其它光学分光系统一样，原子吸收光度计中的分光系统亦包括同其它光学分光系统一样，原子吸收光度计中的分光系统亦包括出射、入射狭缝、反射镜和色散原件（多用光栅）。出射、入射狭缝、反射镜和色散原件（多用光栅）。 单色器的作用在于将空心阴极灯阴极材
40、料的杂质发出的谱线、惰单色器的作用在于将空心阴极灯阴极材料的杂质发出的谱线、惰性气体发出的谱线以及分析线的邻近线等与共振吸收线分开。性气体发出的谱线以及分析线的邻近线等与共振吸收线分开。必须注意：必须注意： 在原子吸收光度计中，在原子吸收光度计中，单色器通常位于光焰之后单色器通常位于光焰之后，这样可分掉火，这样可分掉火焰的杂散光并防止光电管疲劳。焰的杂散光并防止光电管疲劳。 由于锐线光源的谱线简单，故对单色器的色散率要求不高由于锐线光源的谱线简单，故对单色器的色散率要求不高(线色散线色散率为率为1030/mm)。 四、检测器：四、检测器： 使用光倍增管并可直接得到测定的吸收度信号（详见前述）。
41、使用光倍增管并可直接得到测定的吸收度信号（详见前述）。原子吸收仪器类型原子吸收仪器类型单光束：单光束：1）结构简单，体积小，）结构简单，体积小， 价格低；价格低；2）易发生零漂移，空）易发生零漂移，空 心阴极灯要预热心阴极灯要预热 双光束：双光束：1）零漂移小，空心阴）零漂移小，空心阴 极灯不需预热，降极灯不需预热，降 低了方法检出限低了方法检出限 （MDL）；2）仍不能消除火焰的）仍不能消除火焰的 波动和背景的影响波动和背景的影响 6.4 干扰及其消除干扰及其消除一、物理干扰一、物理干扰来源：来源：试样粘度、表面张力的不同使其进入火焰的速度或喷雾效率改变引起的试样粘度、表面张力的不同使其进入
42、火焰的速度或喷雾效率改变引起的 干扰。干扰。消除：消除：可通过配制与试样具有相似组成的标准溶液或标准加入法来克服。可通过配制与试样具有相似组成的标准溶液或标准加入法来克服。 二、化学干扰二、化学干扰来源：来源：Analytes (Target species)与共存元素发生化学反应生成难挥发的化合物所与共存元素发生化学反应生成难挥发的化合物所 引起的干扰，主要影响原子化效率，使待测元素的吸光度降低。引起的干扰，主要影响原子化效率，使待测元素的吸光度降低。消除：消除：1. 加入释放剂：加入释放剂：SO42-、PO43-对对Ca2+的干扰的干扰-加入加入La(III)、Sr(II)-释放释放Ca2
43、+； 2. 加入保护剂（配合剂）加入保护剂（配合剂）: PO43-对对Ca2+的干扰的干扰-加入加入EDTA-CaY (稳定但易破坏稳定但易破坏) 。 含氧酸中含氧酸中Mg 和和Al 形成形成MgAl2O4-使使A急剧下降急剧下降-加加8-羟基喹啉作保护剂。羟基喹啉作保护剂。3. 加入缓冲剂或基体改进剂：主要对加入缓冲剂或基体改进剂：主要对GFAAS。例如加入。例如加入EDTA可使可使Cd的原子化的原子化 温度降低。温度降低。4. 化学分离：溶剂萃取、离子交换、沉淀分离等化学分离：溶剂萃取、离子交换、沉淀分离等三、电离干扰三、电离干扰来源来源：高温导致原子电离，从而使基态原子数减少，吸光度下降
44、。：高温导致原子电离，从而使基态原子数减少，吸光度下降。消除消除：加入消电离剂（主要为碱金属元素化合物），产生大电子，从而：加入消电离剂（主要为碱金属元素化合物），产生大电子，从而 抑制待测原子的电离。如大量抑制待测原子的电离。如大量KCl 的加入可抑制的加入可抑制Ca的电离，的电离， K K + e Ca+ e Ca四、光谱干扰四、光谱干扰1. 1. 谱线重叠干扰谱线重叠干扰：由于光源发射锐线，因此，谱线重叠干扰的较少。一：由于光源发射锐线，因此，谱线重叠干扰的较少。一旦发生重叠干扰，则要求仪器可分辨两条波长相差旦发生重叠干扰，则要求仪器可分辨两条波长相差0.1的谱线。的谱线。消除消除：另选
45、分析线。如：另选分析线。如V线线（3082.11）对对Al 线线（3082.15 ）的干扰；的干扰； 多谱线的元素产生的谱线之间的干扰等。多谱线的元素产生的谱线之间的干扰等。2. 2. 非吸收线干扰非吸收线干扰：来自被测元素自身的其它谱线或光源中杂质的谱线。：来自被测元素自身的其它谱线或光源中杂质的谱线。消除消除：减小狭缝和灯电流或另选分析线。：减小狭缝和灯电流或另选分析线。3. 3. 火焰的直流发射火焰的直流发射：火焰的连续背景发射，可通过光源调制消除。：火焰的连续背景发射，可通过光源调制消除。4. 4. 火焰背景干扰火焰背景干扰来自燃烧气的背景干扰来自燃烧气的背景干扰 宽带吸收：宽带吸收：
46、火焰生成物的分子受激产生的宽带光谱对入射光的吸收；火焰生成物的分子受激产生的宽带光谱对入射光的吸收； 粒子散射：粒子散射：火焰中粒子质对光的散射。火焰中粒子质对光的散射。消除：消除：以上两种干扰方式都产生正误差（以上两种干扰方式都产生正误差（A增加）。因干扰主要来自燃烧气，增加）。因干扰主要来自燃烧气， 因此可通过空白进行校正。因此可通过空白进行校正。问题：双光束原子吸收可以进行空白校正吗？问题：双光束原子吸收可以进行空白校正吗？来自样品基体的背景干扰来自样品基体的背景干扰 宽带吸收：宽带吸收：样品基体中分子或其碎片的形成、有机溶剂分子或其碎片对光样品基体中分子或其碎片的形成、有机溶剂分子或其
47、碎片对光 的吸收，如的吸收，如CaOH分子宽带对分子宽带对Ba线的干扰。线的干扰。 粒子散射：粒子散射：一些高浓度的元素，如一些高浓度的元素，如Ti，Zr，W的氧化物，它们的氧化物具的氧化物，它们的氧化物具 有分馏效应且直径较大，可对光产生散射；有机溶剂的不完全有分馏效应且直径较大，可对光产生散射；有机溶剂的不完全 燃烧产生的微粒碳也会对光产生散射。燃烧产生的微粒碳也会对光产生散射。消除：消除：更换燃气（如用更换燃气（如用N2O）；改变测量参数（）；改变测量参数（T，燃助比）；加入辐射缓冲燃助比）；加入辐射缓冲 剂剂(Radiation buffer。如果知道干扰来源，可在标准液和样品中加入同
48、。如果知道干扰来源，可在标准液和样品中加入同 样且大量的干扰物质样且大量的干扰物质)。5. 5. 非火焰背景干扰非火焰背景干扰 非火焰的电热原子化（石墨炉）中产生的背景干扰，通常要比火非火焰的电热原子化（石墨炉）中产生的背景干扰，通常要比火焰原子化的干扰严重。焰原子化的干扰严重。 最近，采用石墨炉平台技术最近，采用石墨炉平台技术（Platform technology）、高新石墨材、高新石墨材料、快速测光计和料、快速测光计和Zeeman背景校正等方法可将石墨炉背景干扰降低到背景校正等方法可将石墨炉背景干扰降低到和火焰背景干扰相同的水平。和火焰背景干扰相同的水平。下面将详细讨论几种背景校正方法。
49、下面将详细讨论几种背景校正方法。1）邻近线背景校正）邻近线背景校正（The two-line correction method）参比谱线选择：参比线与测量线很近（保证二者经过的背景一致）参比谱线选择：参比线与测量线很近（保证二者经过的背景一致） 待测物基态原子不吸收参比线。待测物基态原子不吸收参比线。 参比线是待测原子的非共振线或元素灯内惰性气体元素的谱线。参比线是待测原子的非共振线或元素灯内惰性气体元素的谱线。 因为共振线（此时为分析线）的总吸光度因为共振线（此时为分析线）的总吸光度AT包括基态原子的吸收包括基态原子的吸收A和背景和背景吸收吸收AB，即，即AT=A+AB 通过测量共振线旁的
50、通过测量共振线旁的“邻近线邻近线”的吸收，得到的吸收，得到AB 此时得到净吸收度此时得到净吸收度A=AT-AB 1 2基态原子基态原子+ + 背景背景ABAT1为共振线为共振线；2为邻近线为邻近线由于很难找到符合上述条件的由于很难找到符合上述条件的“邻近线邻近线”，故此法应用较少。，故此法应用较少。2）连续光源背景校正）连续光源背景校正（The continuum-source correction method） 切光器使锐线源和氘灯源切光器使锐线源和氘灯源交替进入原子化器。然后分别交替进入原子化器。然后分别测定吸光值：测定吸光值： A锐锐=A+AB A氘氘=a+AB=AB则则 A=A锐锐-
