1、LED产品可靠性试验产品可靠性试验Reliability Testing Kichler China2/26/2013 概念：元件、产品、系统在一定时间内、在一定条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。评估方式：产品在规定条件下、规定时间内，完成规定功能的概率（能力）可靠性 MTBF（Mean Time Between Failure)指发生第一次失效，但是维修后可以继续使用到再次失效的工作时间。MTTF（Mean Time To Failure)指发生失效到不可以维修的使用的工作时间可靠性影响产品可靠性的因素及其比率分配 内在可靠性使用可靠性产品可靠性设计技术 40%零部件、原材料 30%
2、制造技术 10%使用、操作维修等20%产品可靠性是设计、制造、管理出来的产品可靠性是设计、制造、管理出来的 为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面：1.在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定 指标的情况；2.生产阶段为监控生产过程提供信息；3.对定型产品进行可靠性鉴定或验收；4.暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式 和失效机理；5.为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供 依据。对于不同的产品，为了达到不同的目的，可以选择不同的可靠性试验方法。可靠性试验目的 国标（国家标准）行标（行
3、业通用标准）国际标准 企业标准 客户特殊需求定制产品可靠性设计和检测标准来源可靠性常用试验气候环境试验气候环境试验l 高温负荷试验l 高温贮存试验l 恒定湿热试验l 低温负荷试验l 低温贮存试验l 高低温交变试验机械环境试验机械环境试验l包装振动试验l跌落试验 负荷（操作试验）：工作状态试验，供电并输入信号或负载工作。贮存：仅放置在试验箱，不工作。1.温度应力对产品的影响温度应力对产品的影响 2.湿度对产品的影响湿度对产品的影响 3.冷热温度冲击对产品的影响冷热温度冲击对产品的影响 4.机械冲击和振动对产品的影响机械冲击和振动对产品的影响环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 1 温度应力对
4、产品的影响温度应力对产品的影响 当讨论产品寿命时,一般采用规则的表达方式。具体应用时可以表达为10规则等，当周围环境温度上升10时，产品寿命就会减少一半；当周围环境温度上升20时，产品寿命就会减少到四分之一。这种规则可以说明温度是如何影响产品寿命（失效）的。高温对产品的影响：老化、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属迁移、熔化、汽化变型等 低温对产品的影响：脆化、结冰、粘度增大和固化、机械强度的降低、物理性收缩等环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 2 湿度对产品的影响湿度对产品的影响 高温高湿条件作用试验样品上，可以构成水气吸附、吸收和扩散等作用。许多材料在吸湿后膨胀、性能变坏、引起物质
5、强度降低及其他主要机械性能的下降，吸附了水气的绝缘材料不但会引起电性能下降，在一定条件下还会引发各种不同的失效，是影响电子产品最主要的失效环境。湿度对产品的影响：腐蚀、离子迁移、扩散、水解、爆裂、霉菌环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 湿度引起塑封半导体器件腐蚀的失效：湿度引起塑封半导体器件腐蚀的失效：在硅片上集成有大量电子元件的集成电路芯片及其元件通过导线连接起来构成电路。由于铝和铝合金价格便宜，加工工艺简单，因此通常被使用为集成电路的金属线。从进行集成电路塑封工序开始，水气便会通过环氧树脂渗入引起铝金属导线产生腐蚀进而产生开路现象，成为品质工程最为头痛的问题。人们虽然通过各种改善包括
6、采用不同环氧树脂材料、改进塑封技术和提高非活性塑封膜为提高产品质量进行了各种努力，但是随着日新月异的半导体电子器件小型化发展，塑封铝金属导线腐蚀问题至今仍然是电子行业非常重要的技术课题。环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 铝线中产生腐蚀过程：铝线中产生腐蚀过程：水气渗透入塑封壳内湿气渗透到树脂和导线间隙之中 水气渗透到晶片表面引起铝化学反应 加速铝腐蚀的一些因素（加速铝腐蚀的一些因素（铝金属导线腐蚀反应随着是否施加偏压而变化）树脂材料与晶片框架接口之间连接不够好（由于各种材料之间存在膨胀率的差异）。封装时，封装材料掺有杂质或者杂质离子的污染（由于杂质离子的出现）。非活性塑封膜中所使用的高
7、浓度磷。非活性塑封膜中存在的缺陷。环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 冷热温度冲击对产品的影响冷热温度冲击对产品的影响 高温和低温的失效都会反映在冷热温度冲击试验中，冷热冲击试验只是加速了高温和低温失效的产生。下面归纳了实际生产或使用环境中存在的具有代表性的冷热温度冲击环境，这些冷热冲击环境常常是导致产品失效的主要原因。1温度的极度升高导致焊锡回流现象出现；2启动马达时周围器件的温度急速升高，关闭马达时周围器件会出现温度骤然下降；3设备从温度较高的室内移到温度相对较低的室外，或者从温度相对较低的室外移到温度较高的室内；4设备可能在温度较低的环境中连接到电源上，导致设备内部产生陡峭的温度梯
8、度。在温度较低的环境中切断电源可能会导致设备内部产生相反方向陡峭的温度梯度；5设备可能会因为降雨而突然冷却；6当航空器起飞或者降落时，航空器机载外部器材可能会出现温度的急剧变化。环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系气候环境试验条件气候环境试验条件检验项目技术要求高温试验恒温恒湿试验箱：展台小件类。温度为50，应能持续工作8h，检查样品功能应正常。注：交互式大屏只做50。高温老化房：白板大件类。温度为60，应能持续工作8h，检查样品功能应正常。低温试验在温度为-20下，储存6小时。在0下能持续工作2h，检查样品功能应正常。湿热试验在温度为50，相对湿度20%的条件下持续工作4h，检查样品功能
9、应正常。在温度为35，相对湿度95%的条件下持续工作4h，检查样品功能应正常。高温老化房：白板大件类。在室温25，相对湿度95%的条件下持续工作4h，检查样品功能应正常。高低温交变试验在温度为-15下搁置2h，然后0.5h内升温至0，再0.5h内升温至50，在50下保持2h,然后再1h内降温至-15结束试验，最后升温600.5h，样品恢复常温后做全功能的检查应正常。机械冲击和振动对产品的影响机械冲击和振动对产品的影响 机械冲击和振动主要是针对处于剧烈振动环境中的车用电子设备。可是最近由于一般电子设备也因为其便携化而变得易受振动，因此机械应力的应用范围也广泛了。机械应力所造成的失效主要是连接器、
10、继电器等连接部件，当然对装配工艺不合理的设计也容易引起元器件的脱落和引线短裂，对元器件内部工艺不良的产品会引起开路、短路、间歇连接。环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系机械环境试验条件机械环境试验条件检验项目技术要求振动试验速度：150-200转/分钟；振动时间：4小时；振动幅度：25.4mm试验后，检查样品外观、结构应正常，应能正常工作。跌落试验针对跌落实验国家有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，跌落的高度是根据产品重量而定，有分90cm、76cm、65cm几个等级。包装货物重量 落下高度 。如下：0.459.5476.209.5518.6360.9618.6427.7
11、2 45.7227.7345.4530.48 加速寿命试验的目的加速寿命试验的目的 半导体工艺技术的创新在近几年快速的推进。此外，由于最近要求缩短产品开发时间 产品可靠性处于相同的情况，必须在短时间内知道可靠性特征。基于这种情况下加速的寿命试验是通过最小样品尺寸和最短的测试时间来知道可靠性的方法。国际标准定义“加速试验”是“为了缩短测试时间执行比标准条件更严酷的条件下进行的测试”。在严酷的条件下进行测试可用少点样品在短时间内预测市场失效率，因而减少要求的时间和费用证实可靠性。加速寿命实验加速寿命实验 4.3.2 温度加速温度加速 温度对半导体的寿命影响是很大的，因此使用温度加速寿命的加速试验的
12、最常见的方法。温度应力基于的反应是由空气统一，空气模型被广泛用于半导体产品寿命预测 这种空气模型公式表示如下：寿命 Ea：活化能(eV)T：绝对温度(K)A：常量 k：波尔兹曼系数 上述公式显示半导体寿命取决于半导体受到的温度。加速的测试利用这一特性被称为温度加速测试不过例如一些因为热载体的影响导致的失效(高能源载体产生的电场捕捉的栅氧化膜的现象)可能有负面的活化能值。当加速这些类型的失效，作为温度测试增加试验效果是减少的。加速寿命实验加速寿命实验 4.3.3 温湿度加速温湿度加速 大规模集成电路在高温高湿环境为了解暴露在高温、高湿下进行测试半导体的寿命。高温高湿偏压测试，蒸汽压力测试，温湿度
13、环境应力高加速试验等，通常都被用于湿度加速试验。湿度很少被用作确认防潮的唯一加速因子，而一般应用温度和湿度应力的组合。这为了促进湿度（水）的反应，并导致增加湿度寿命的加速。湿度相关寿命的一半公式表示如下：寿命A,n：常量 一直没有关于湿度相关寿命的标准化公式，与每个制造商使用他们自己的特征常数对加速的寿命计算结果。特别是与湿度加速度增加至约 100%为加速目的相对湿度可能会导致样品冷凝，使它不可能确定原始的抗潮湿寿命。因此必须给予温湿度控制做过的关注。加速寿命实验加速寿命实验 4.3.4 电压加速电压加速 根据器件特征电压加速试验有很大的不同（MOS 双极和其他过程，电路配置).对 MOS 集
14、成电路和通常用于评估栅氧化膜的抵抗来说电压加速试验是有效的。然而很难对双极大型集成电路做电压加速。电压加速寿命公式表示如下:：寿命 ：常数V：电压加速寿命实验加速寿命实验 4.3.5 温差加速温差加速 半导体包括各种各样的材料的组合，并且这些材料的热膨胀系数也广泛的变化。每次器件经历温差因每种材料的热胀系数之间的差异导致损坏（内部力量）累积（或突然崩溃），导致最终失效。根据温度区别的加速测试被用于知道寿命。应用对试验器件是有效的比那些通常遇到更大的温度差的温度循环加速测试评价由温度差异所引起的损坏。当暴露于高低温，温度循环试验用于评估器件抵抗的测试，和抗暴露于在两个极限温度的温度变化的能力。这
15、些测试允许确认半导体产品抗市场上温度的应力。(例如,经历白天到夜间汽车内遗留的设备所经历的温度变化，电源开启或关闭器件从高温到自身温度的冷却。).有关温差的寿命由Coffin-Manson模式定义，,且表示如下：寿命A,m：常量 这公式表明加速的测试可以通过提供达到温差建立温度循环寿命。加速寿命实验加速寿命实验环境试验环境试验目的目的影响影响 具有代表的具有代表的 试验条件例、其他试验条件例、其他温度耐寒性调查电子零部件、机器的耐寒性和低温储藏特性。观察由于结冰造成体积膨胀后的特性劣化、功能 性能劣化、由于收缩形成的机械性特性由于膨胀 收缩造成的热性的、机械性的变形。软化、脆化的促进、润滑性的
16、低下、密封、龟裂、水分的结冰-85室温温度分布：0.51程序自动运转LST/LOT耐热性调查电子零部件、机器的热性变化。调查有源元件在高温下的动作或者通电后的劣化特性。观察润滑特性的劣化。促进氧化、扩散等的化学反应。膨胀、软化、蒸发、氧化、粘度低下龟裂、扩散、液体泄漏室温300温度分布：0.51程序自动运转HST/HOT温度循环调查电子零部件、机器的耐热性应力。对汽车、飞机用的零部件进行筛选。加速使用环境利用热容量较大的液体在短时间内评价热应力的影响。由于膨胀收缩造成的变形、剥离、龟裂、由于内部水分的蒸发引起的龟裂、疲劳、加工面的开裂以及机械的变位造成的电气特性的变化基本同上-65150程序自
17、动运转TCO/DHCTO热冲击观察由于热膨胀系数不同引起的尺寸变化，以及伴随而来的材料特性和密闭性的变化。以及造型零部件等的龟裂、端子密封部的评价、剥离、机械性的变形等-65150试样的异动为5秒程序自动运转TST环境试验环境试验目的目的影响影响具有代表的试验具有代表的试验 条件例、其他条件例、其他湿度耐湿性调查电子零部件、机器的湿度引起的劣化特性。评价绝缘材料的吸湿特性、储藏、低温度条件下的干燥特性。绝缘低下、促进腐蚀的电解、结露、膨胀、漏泄电流增加、变形、特性变化、弯曲85%RH95%RH10%RH40%RH程序自动运转AHT/AHTO湿度循环除了加速结露特性、吸湿特性，其它同上。呼吸作用
18、、结露、结冰、I M40 80 20%RH95%RHDHCTO结露循环评价由于伴随温湿度变化发生结露造成的对材料、零部件、装置的特性变化和耐热冲击特性I M、腐蚀、短路、绝缘不 良、涂膜层的剥离-3585 60%RH90%RH切换时间为5秒温度稳定20秒Dew TestHAST （PCT）耐热特性的加速试验。观察湿度的浸透 扩散造成的影响。IC等膜型的龟裂、密封不良、封口的剥离、粘接特性、变形、腐蚀、绝缘劣化、开裂、粘和剥离125/85%RH （121、100%）可以进行饱和、不饱和试验气压观察在高空、真空中、高压条件下零部件、材料、以及组件的耐电压等的特性。电气性耐压的低下、密封（气密）不良
19、、接点的寿命低下、材料的介电系数的变化、热传导率的变化、绝缘劣化133Pa10KPa环境试环境试验验目的目的影响影响具有代表的试验具有代表的试验 条件例、其他条件例、其他盐水喷雾电子零部件导线处的生锈、腐蚀以及耐蚀性的加速试验和被覆、涂装、电镀等的评价。腐蚀、锈、绝缘低下、接触阻抗增加、剥离、变形35、5%NaCI35 干燥 湿润有些可以做铜催化乙酸试验。50 5%盐水+氯化铜+冰醋酸耐候性 试验观察由于紫外线以及其它放射线造成的零部件、材料的特性劣化褪色、脆弱化、高分子材料的龟裂、变形、密封不良太阳光等价有毒气体复合试验 H S/SO评价由大气污染和材料所发生的腐蚀性气体等对导线、金属部的耐
20、腐蚀环境特性的加速试验由腐蚀性气体造成的腐蚀、生锈、绝缘低下、接触不良、断线、接触阻抗增大单独或者复合气体SO,H S、NO,CI0.001ppm100ppm酸性雨观察酸性雨造成的影响同上PH=46沙尘、尘埃观察由于侵入龟裂、接触部可动部造成的接触不良引起的功能 性能的劣化。气密性、绝缘、腐蚀误动作、腐蚀、表面的磨耗、堵塞、带电、绝缘低下、磨灭、漏泄沙、棉、灰尘臭氧零部件、材料、产品的特性劣化变形、开裂、氧化、有机材料的脆化0.0120mg/m环境试验环境试验目的目的影响影响具有代表的试具有代表的试验验 条条件例、其他件例、其他振动Vibration用于电子零部件的疲劳试验、产品的加振试验。另
21、外用于同样目的还可以观察电子零部件材料装置的包装物在运输以及各项处理时对振动的构造强度由机械性松动、疲劳破坏、断线、共振造成的破损、插口接触不良、结合部的磨耗、共振破坏、导线的断线、干扰、异常振动的发生、开裂22000Hz60G冲击Shock同上观察针对冲击的构造强度基本同上101000G/160ms碰撞Bump观察零部件、材料、产品等在运输中所受的疲劳强度基本同上40G/6ms、20G/11ms 牵拉/弯曲Bend/Pell观察产品材料的伸张特性等的机械强度切断、折断、变形、伸张一次或多次重复霉菌促成霉菌的发生所造成的材料特性的变化绝缘低下、短路、腐蚀、生锈、侵蚀、污浊、光学部分透过率低下焊
22、接耐热观察电子零部件的焊接性能、强度以及耐热特性、接续性焊锡龟裂、卷线端子部松动、零部件的热特性变化、绝缘物的软化、变形200400带电、电磁诱导、静电气干燥时的静电故障、电子零部件、装置的耐静电特性、噪声容限电波干扰、绝缘破坏、垃圾附着、误动作、半导体及其它零部件破坏、继电器的寿命评价、动作停止失常10KV30KV 高温试验高温试验 低温试验低温试验 温度循环温度循环 温度冲击温度冲击 恒温恒湿恒温恒湿 交变潮热（湿热）交变潮热（湿热）环境试验内容环境试验内容v机械振动，跌落机械振动，跌落v冲击和碰撞冲击和碰撞v高压蒸煮试验高压蒸煮试验v盐雾试验盐雾试验v气体腐蚀试验气体腐蚀试验v其他试验其
23、他试验 高温试验高温试验 产品寿命遵循10规则，因而高温试验作为最常用的试验，用于元器件和整机的筛选、老化试验、寿命试验、加速寿命试验、评价试验、同时在失效分析的验证上起重要作用。高温试验的技术指标包括：温度、时间、上升速率。注意产品和元器件的最大耐受温度极限。样品放入试验箱内为保持样品的受热均匀性，样品距离箱壁的距离最少为5cm GB/T 2423.2中高温的试验方法分：散热样品的温度渐变，非散热样品的温度渐变 试验结束后需要将样品在箱体内恢复至稳定状态，或将样品放置在常温常湿环境下进行恢复至稳定状态。环境试验内容环境试验内容 高温试验设备环境试验设备环境试验设备 可程式恒温恒湿箱内部尺寸：
24、1000X1000X1000mm温度范围：-70150 烘箱内部尺寸：温度范围：常温200 充氮烘箱内部尺寸：温度范围：常温30000 低温试验低温试验 低温试验用于考核产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性，常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验。低温试验的技术指标包括：温度、时间、上升速率。注意产品从低温箱取出时由于温度突变会产生冷凝水。（对温度循环、温度冲击、湿热试验均适用）样品放入试验箱内为保持样品表面温度的均匀性，样品距离箱壁的距离最少为5cm GB/T 2423.1中低温的试验方法分：散热样品的温度渐变，非散热样品的温度渐变 试验结束后需要将样品在箱体内恢复至稳定状态，或
25、将样品放置在常温常湿环境下进行恢复至稳定状态，在特定环境下会要求对样品吹稍热的风进行解冻再进行升温至稳定状态。环境试验内容环境试验内容 低温试验设备环境试验设备环境试验设备 可程式恒温恒湿箱内部尺寸：1000X1000X1000mm温度范围：-70150 温度冲击温度冲击 温度冲击试验目的是为了在较短的时间内确认产品特性的变化，以及由于构成元器件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。这些变化可以通过将元器件迅速交替地暴露于超高温和超低温的试验环境中观察到。冷热冲击试验不同于环境模拟试验，它是通过冷热温度冲击发现在常温状态下难以发现的潜在故障问题。决定冷热温度冲击试验的主要因素有：试验温度范
26、围、暴露时间、循环次数、试验样品重量及热负荷等。温度冲击设备有：两箱法、三箱法和液槽式三种，其中设备内湿度不能超过50%RH即20g/m。公司常做的快捷温度冲击的条件：-65，150，停留时间14min，循环次数：300个（如下图为此试验单个循环的温度曲线）注意产品试验结束后应对样品有12小时的恢复期。环境试验内容环境试验内容 温度冲击试验设备环境试验设备环境试验设备 温度冲击箱（德国 weiss）内部尺寸：300X485X450mm两箱式，提篮式温度范围：-70165 温度冲击箱（富奇）内部尺寸：两箱式，提篮式温度范围：-70165 冷热冲击试验与温度循环试验的区别冷热冲击试验与温度循环试验
27、的区别环境试验内容环境试验内容冷热冲击试验冷热冲击试验温度循环试验温度循环试验温度变化速率温度变化速率 急剧2030/min 缓慢15/min 循环次数循环次数 510个循环（多至1000循环）510个循环（多至1000循环）热平衡热平衡 正好到达（液槽式为到达）到达 试验时间试验时间 短长 用途用途1.膨胀系数不同引起的连接部剥离2.膨胀系数不同龟裂后水分进入3.水分渗入导致腐蚀及短路现象发生的加速试验1.通过长期试验发现腐蚀倾向2.长时间地多次循环观察应力疲劳现象3.调查分析市场失效的相关性使用设备使用设备冷热冲击试验箱高低温试验箱 恒温恒湿恒温恒湿 产品失效因为湿度的影响占40以上，因此
28、湿度试验在环境试验中是必不可少的。常用于寿命试验、评价试验和综合试验，同时在失效分析的验证上起重要作用。尤其对含有树脂材料的产品在产品开发和质量评估时该试验是必须的。恒温恒湿的技术指标包括：温度、相对湿度、试验时间 注意产品试验结束后应对样品有12小时的恢复期。常做的双85指定就是温度85，湿度85环境试验内容环境试验内容 高低温试验设备环境试验设备环境试验设备 可程式恒温恒湿箱内部尺寸：1000X1000X1000mm温度范围：-70150温湿度箱（德国 weiss）内部尺寸：温度范围：-40120湿度范围：1098%RH 交变潮热（湿热）交变潮热（湿热）模拟热带雨林的环境，确定产品和材料在
29、温度变化，产品表面产生凝露时的使用和贮存的适应性。常用于寿命试验、评价试验和综合试验。交变湿热的技术指标包括：温度、相对湿度、转换时间、交变次数。注意试验结束后应对样品有12小时的恢复期。环境试验内容环境试验内容 交变湿热试验设备环境试验设备环境试验设备温湿度箱（德国 weiss）内部尺寸：温度范围：-40120湿度范围：1098%RH温变率：3/min 机械振动机械振动 描述：振动试验，英文：Vibration Test，在试验中，模拟产品在于制造、组装、运输、及使用执行阶段中所遭遇的各种振动环境，用以鉴定产品是否忍受环境振动的能力。机械振动试验用来确定机械的薄弱环节，产品结构的完好性和动态
30、特性、常用于型式试验、寿命试验、评价试验和综合试验。机械振动试验中有一类故障的发生，不是在一个特定条件下就不会发生，或不在这种特定条件中这种故障不会轻易地被测量出来，或是故障的再现性很差（即很难预测到它何时会发生），因此机械振动试验在许多情况下，产品是需要处于工作状态并连续测试的。例如继电器、连接器等。环境试验内容环境试验内容 机械振动机械振动 分类：按试验样品可分为：单机振动，包装振动（一般为随机振动）按振动试验类型分类：正弦振动（Sinusoidal Vibration)、随机振动(Random Vibration)、正弦拍频振动（Sine-beat Method)、时间历程振动(Time
31、-history Method）一、正弦振动（Sinusoidal Vibration)试验参数:频率范围、振幅值（加速度值）、试验持续时间、振动方向 正弦振动试验由以上3个参数共同确定。一般低于交越频率由振幅确定，大于交越频率由加速度值（G值）确定。注意振动幅值的峰值Vp和峰峰值Vpp是不同的。二、随机振动 试验参数:Grms 均方根加速度、频率（点）、ASD 加速度频谱密度、试验持续时间、振动方向 随机振动试验由以上4个参数共同确定。实际上通过频率（点）和ASD可以计算出 Grms值。环境试验内容环境试验内容 机械振动设备环境试验设备环境试验设备振动机频率范围：52000HZ位移：25mm
32、台面大小：500X500X500mm承受的力：300N 跌落试验跌落试验 描述：跌落试验，又名drop test。用来模拟产品在搬运期间可能经受到的跌落等。包括 （1）非包装状态产品在搬运期间可能经受的自由跌落，样品通常按照规定的姿态从规定的高度跌落到规定的表面上。（2）模拟负载电缆上的连接器、小型遥控装置等在使用中可能经受的重复自由跌落。（3）包装跌落 主要参数 1、跌落高度 2、跌落次数 3、跌落表面 受限制因素：1、高度 2、.样品外形（针对自由跌落）环境试验内容环境试验内容 跌落实验设备环境试验设备环境试验设备跌落机高度范围：台面大小：承受的重量：冲击和碰撞冲击和碰撞 许多产品在使用、
33、装卸、运输过程中都会受到冲击。冲击的量值变化很大并具有复杂的性质。因此冲击和碰撞试验适用于确定机械的薄弱环节，考核产品结构的完整性。机械冲击试验，又名mechanical shock.试验目的用来揭露机械弱点和（或）性能下降情况。冲击试验的技术指标包括：峰值加速度、脉冲持续时间、速度变化量（半正弦波、后峰锯齿波、梯形波）和波形选择。冲击次数无特别要求外每个面冲击3次共18次。碰撞试验的技术指标包括：峰值加速度、脉冲持续时间、速度变化量（半正弦波）、每方向碰撞次数。注意冲击和碰撞的方向应是6个面，而不是X、Y、Z 三方向。环境试验内容环境试验内容 冲击实验设备环境试验设备环境试验设备 高压蒸煮试
34、验（高压蒸汽恒定湿热试验）高压蒸煮试验（高压蒸汽恒定湿热试验）高压蒸煮试验采用高压高湿条件，考核塑料封装的半导体集成电路等电子器件的综合影响，是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力，常用于产品开发、质量评估、失效验证。压力试验的技术指标包括：大气压力、相对湿度（饱和或非饱和）、温度、试验时间。环境试验内容环境试验内容 恒温恒湿实验设备环境试验设备环境试验设备 高温高湿箱（无锡克隆）内部尺寸：300X485X450mm温度范围：-10100湿度范围：常湿98%RH温湿度箱（德国 weiss）内部尺寸：温度范围：-40120湿度范围：1098%RH温变率：3/min 太阳辐照试验太阳辐照试验
35、 紫外光耐气候：紫外光耐气候：试验目的：光老化试验就是评 定户外无遮蔽使用和储存的设备经受太阳辐射热和光学效应的能力。试验参数：温度，湿度，灯型波长，辐照强度，光照黑暗周期，持续时间 氙氙灯耐气候：灯耐气候：试验目的：光老化试验就是评定户外无遮蔽使用和储存的设备经受太阳辐射热和光学效应的能力。试验参数：温度，湿度，辐照强度，光照黑暗周期，持续时间 紫外与氙灯的区别：主要是使用的光源不一样，其中：紫外灯的波长是指定的UVA/UVB 340/400nm 氙灯的波长是290800nm。环境试验内容环境试验内容 太阳辐射试验设备环境试验设备环境试验设备紫外灯耐气候试验箱内部尺寸：灯型：UVA,UVB温
36、度范围：常温100湿度范围：常湿98%RH网址：http:/氙灯耐气候试验箱内部尺寸：波长范围：290800nm辐射强度：5501120w/m温度范围：常温100湿度范围：常湿98%RH 盐雾试验盐雾试验 盐雾试验模拟海洋或含盐潮湿地区气候的环境，用于考核产品、材料及其防护层抗盐雾腐蚀能力。有盐雾试验和交变盐雾试验两种试验。常用于在特殊条件下的质量评估、失效验证。种类：中性盐雾试验（NSS），醋酸盐雾试验(ASS)，铜盐醋酸加速盐雾试验(CASS)盐雾试验的技术指标包括：盐溶液浓度、相对湿度、温度、盐雾时间、贮存时间、试验周期，集雾量，PH值。各种盐雾试验参数的区别：注意试验结束后试验样品需立
37、即冲洗干净。环境试验内容环境试验内容 盐雾试验设备环境试验设备环境试验设备盐雾试验箱箱体尺寸：可做盐雾种类：中性盐雾试验（NSS），醋酸盐雾试验(ASS)，铜盐醋酸加速盐雾试验(CASS)气体腐蚀试验气体腐蚀试验 气体腐蚀试验主要应用于接触点和连接件，试验后的评定标准是接触电阻变化，其次是外观变化。主要的腐蚀气体为二氧化硫和硫化氢 气体腐蚀试验的技术指标包括：浓度、相对湿度、温度、流速、试验时间。环境试验内容环境试验内容 气体腐蚀试验设备环境试验设备环境试验设备 其他试验其他试验 霉菌试验、低气压试验、沙尘试验、水试验（淋雨试验）、恒加速试验（离心试验）综合环境试验:温度/湿度/高度、温度/湿
38、度/振动环境试验内容环境试验内容 淋雨试验设备环境试验设备环境试验设备 老化试验设备老化试验设备老化试验设备高压、中压、常压、低压、高温、漫游、波动等电压区的老练可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例高温试验：主要测试设备：高温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。主要测试项目：高温低压启动、高温高压安全运行。测试数量：10个。测试方法：把待测产品放进高温箱，连接电路，把调压器的输出电压调至产品额定电压的80%（调压器仅给待测产品供电），打开恒温箱电源，把温度设定在60，待箱内的温度升至60时打开灯具的电源，观察产品是否正常工作，然后把调压器的输出电压升至产品额定电压的115%，让其工作24小时，观
39、察实验结果。若发生产品损坏材料受热变形等异常现象时则该项试验为不合格。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例高温高压冲击启动试验：主要测试设备：高温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。主要测试项目：高温启动性能和可靠性 测试数量：10个。测试方法：接上项试验。在高温状况下，把调压器的输出电压升至产品额定电压的115%，开关三次，每次间隔不少于30秒钟（间隔30秒钟是要待产品内的电容全部放电，减少相互干扰），在此过程中，产品不应损坏，否则将视为不合格。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例低温试验：主要测试设备：低温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。主要测试项目：低温低压启动。测试数量：10个。测试方
40、法：把待测产品放进低温箱，连接电路，把调压器的输出电压调至产品额定电压的80%（调压器仅给待测产品供电），打开低温箱电源，把温度设定在-15，待箱内的温度降至-15时再保持0.5小时，让产品充分冷却后，打开产品的电源，观察实验结果。若发生产品损坏、不能启动等异常现象时则该项实验为不合格。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例低温高压冲击启动试验：主要测试设备：低温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。主要测试项目：低温高压启动性能和可靠性 测试数量：10个。测试方法：接上项试验。在低温状况下，把调压器的输出电压升至产品额定电压的115%，开关三次，每次间隔不少于30秒钟（间隔30秒钟是要待产品内的电
41、容全部放电，减少相互干扰），在此过程中，产品不应损坏，否则将视为不合格。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例低温存贮试验：主要测试设备：低温箱、温度计和时钟。主要测试项目：低温存贮后性能。测试数量：10个。测试方法：把待测产品放进低温箱，把温度设定在-20，待箱内的温度降至-20时再保持6小时，然后取出放在室温中，存放2小时后，打开产品的电源，观察实验结果。若发生产品损坏、不能启动等异常现象时则该项实验为不合格。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例高温存贮试验：主要测试设备：高温箱、温度计和时钟。主要测试项目：高温存贮后性能。测试数量：10个。测试方法：把待测产品放进高温箱，把温度设定在70，
42、待箱内的温度升至70时再保持6小时，然后取出放在室温中，存放2小时后，打开产品的电源，观察实验结果。若发生产品损坏、不能启动等异常现象时则该项实验为不合格。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例振动试验：主要测试设备：振动试验台1个测试数量：10个包装（试验时含外包装）。测试方法：把测试样品包装好，放在振动试验台上，把测试频率调在0.55赫兹，周期为1分钟，振幅为1.5厘米，在上下、左右、前后三个方向上分别试验30分钟，然后取出样品测试，不应有损坏的现象出现，否则将视为不合格。（电磁振动台BF-LD及模拟运输振动台BF-SV系列产品）可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例老化试验：新产品在投产前，
43、必须在数量上分别通过小批试产和中量试产的阶段，通过这些试验可找出非设计问题如原材料和工艺问题。下面就是具体的试验方法。主要测试设备：老化台，调压器，电压表。主要测试项目：批量产品生产的原材料可靠性。测试数量：小试10个，中试100个。测试方法；首先把调压器的输出电压升至产品额定电压的115%，关好电源，再把产品装上老化台，开关三次，每次间隔30秒以上，然后断电，再把调压器的输出电压调至产品额定电压的80%，通电观察，最后把调压器的输出电压升至产品额定电压的115%，老化6小时后，开关3次每次间隔30秒，老化结束。在以上的试验过程中如发现问题的均为不合格产品，需要维修。可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例寿命试验：主要测试设备：寿命试验柜和供电电源主要测试项目：正常工作寿命（产品中含有光源需与光衰试验同时进行）测试数量：10个（1000小时后减为2个，另外如是外购产品则数量改为2个）。测试方法：把灯具接上额定电压，让其正常工作，记下开始工作时间，待每个灯具损坏时，记下终止的时间，当所有的灯具损坏时，求出灯具的平均工作时间，这即为产品的寿命。
