1、管制圖:SPC的一個基本工具,一種品質圖解記錄,在圖上設有兩個管制界線,用以監視製程品質狀態1.測定製程 2.當問題被偵測到時,找出非機遇原因3.消弭問題,立即改善 4.重複此一循環,持續監控管制圖的目的:管制圖的功用:1.決定製造工程所可能達到之目標或標準 2.被用為達到目標之工具 3.可藉此判斷是否已達到目標 可應用於三個階段中設計設計產品規格時參考用製造控制品質是否一致的工具 檢驗作為品質判斷的標準名詞解釋:群體,Population N 吾人用以判定一群類似的項目數量。樣品,Sample n 由一群類似的項目中隨機抽取代表性的小部份數量規格界線:品質特性之最大許可值管制界線:探討製程變
2、異之準則機遇原因:不可避免之原因,非人為原因,不易控制之原因非機遇原因:可避免之原因,人為原因,異常原因,特殊原因,可控制原因平均值,Mean(Average)X-bar 抽樣中,其所有讀數的總和除以其共有多少讀數 規格中心 Mean of specification,設計者之理想(規格中心)值標準差,Standard Deviation (Sigma)一種(與群體)平均值所產生的平均偏差 2變異數,Variance V=偏差平方和的平均數(標準差的平方)全距,Range R 最大讀值與最小讀值的差值 管制圖與常態分配,型,型誤差:管制圖之型誤差:當製程實際為管制內,卻誤判為管制外管制圖之型誤
3、差:當製程實際為管制外,卻誤判為管制內-3-2-1+3+2+199.73%94.45%68.26%管制圖之種類:依用途來分類:管制用管制圖-維持製程在穩定狀態中解析用管制圖-調查製程是否處於穩定狀態依數據性質來分類:計量值管制圖(Control Charts for Variables)數據由量具實際量測而得,數值為連續性的計數值管制圖(Control Charts for Attributes)數據由單位計數而得,數值為離散性的管制圖的源起:P11910年 美國 Ronald Fisher 爵士所發展出來的統計理論 1924年 美國品管大師 W.A.Shewhart 博士於貝爾試驗室研究時發
4、明1932年 英國邀請 W.A.Shewhart 博士到英國主講管制圖,提高了英國將統計方法應用到製造業二次大戰期間(19411942年)美國制定三種強制性的戰時標準:Z1-1-1941 Guide of Quality Control Z1-2-1941 Control Chart Method for Analysing Data Z1-3-1941 Control Chart Method for Control Quality During Production管制圖的源起:P21950年 W.E.Deming 博士到日本舉行”八日品質管理講習會”後,由日本發揚光大1979年 美國NB
5、C 製作一部”日本能,為何我們不能”,在美國引起震憾,喚醒汽車工業起而效尤國內於民國42年(1953 年)自美國引進管制圖後,即為企業界廣泛的應用至今經濟部中央標準局亦於民國53至56年間(19641967),將管制圖法訂定公佈為國家標準:CNS 2311 Z45 品質管制指南 CNS 2312 Z46 分析數據用之管制圖法 CNS 2580 Z79 生產過程中管制品質用之管制圖法管制圖建立步驟:1.選擇品質特性2.決定管制圖之種類3.決定樣本大小,抽樣頻率和抽樣方式4.收集數據5.計算管制參數(上,下管制界線等)6.持續收集數據,利用管制圖監視製程計量值管制圖 平均值與全距管制圖(X-bar
6、-R)平均值與標準差管制圖(X-bar S)中位值與全距管制圖(X-R)個別值與移動全距管制圖(X-Rm)計數值管制圖 不良率管制圖(p-chart)不良數管制圖(np-chart)缺點數管制圖(c-chart)單位缺點數管制圖(u-chart)管制圖使用時機:決定管制特性可否取得計量值數據?數據是同類型或無法進行組內個別抽樣使用個別值管制圖(X-MR)YesNoNo樣本數是否為定值?目標是否在於不良品數?樣本數是否為定值?目標是否在於缺點數?樣本平均是否容易計算?各組樣本大小是否9?樣本標準差是否容易計算?使用p或np管制圖使用X-R管制圖使用中位值管制圖使用X-R管制圖使用X-S管制圖使用
7、p管制圖使用c或u管制圖使用u管制圖YesYesNoYesYesYesYesYesNoNoNoNoNo管制圖之判讀法:區間測試法則:(Zone Tests)(1958 Western Electric)(1)一點落在A區以外(超出管制界線)(2)連續三點中有二點落在A區或A區以外(3)連續五點中有四點落在B區或B區以外(4)連續八點在中心線之同一側連串測試法則:(Run Tests)(1988 Grant&Leavenworth)(1)連續七點落在管制中心線之同一側(2)連續十一點中有十點落在管制中心線之同一側(3)連續十四點中有十二點落在管制中心線之同一側(4)連續十七點中有十四點落在管制中
8、心線之同一側(5)連續二十點中有十六點落在管制中心線之同一側管制圖之判讀法:Nelson 8個法則:(1984,1985)(1)一點落在A區以外(2)連續九點在C區或C區以外(3)連續六點持續地上升或下降(4)連續十四點交互著上下跳動(5)連續三點有兩點落在A區或A區以外(6)連續五點有四點落在B區或B區以外(7)連續十五點在管制中心線上下兩側之C區(8)連續八點在管制中心兩側但無點在C區製程能力(Process Capability)對於穩定製程所持有之特定成果,指能夠合理達成之能力界限製程準確度(Capability of accuracy)平均值與規格中心值其間偏差的程度製程精密度(Ca
9、pability of precision)規格公差範圍與製程變異寬度兩者之間相差的程度製程能力指數(Cpk)綜合Ca與Cp指數來代表製程的綜合能力製程能力調查之步驟:確切了解要調查的品質特性與調查範圍並收集數據確定製程是處於穩健的狀態計算製程能力指數判斷製程能力是否足夠,如不足時,則加以改善 製程能力指標 Ca 製程準確度(Capability of accuracy)平均值平均值 規格中心值規格中心值 Ca=-=-Ca=-=-規格公差規格公差 (雙邊規格時雙邊規格時)()(=)Ca 愈小品質愈好,Ca=0 表示 平均值與規格中心完全一致 製程能力指標 Cp製程精密度(Capability
10、of precision)規格公差規格公差 Cp=-=-(Cp=-=-(雙邊規格時雙邊規格時)6 6 倍標準差倍標準差 規格上限平均值規格上限平均值 Cp=-=-(Cp=-=-(單邊規格時單邊規格時)3 3 倍標準差倍標準差 33 平均值規格下限平均值規格下限 或或 Cp=-=-Cp=-=-3 3 倍標準差倍標準差 33Cp 愈大品質愈好,表示 製程的變異寬度愈小於規格公差製程能力指標 Cpk製程能力指數(Cpk)Cpk=Min -Cpk=Min -，-3 33 3 或或 Cpk=(Cpk=(CaCa )Cp)Cp Cpk 愈大品質愈好,表示 製程綜合能力愈好,不良率愈低 製程能力評價方法:等級評價等級評價等級評價等級等級 值值A B C D 等級等級 值值A B C D 等級等級 值值A B C 結論:Prepare by Kevin Chang
