1、NB/T 47013.22015承压设备无损检测 第2部分：射线检测NB/T47013.2的修订特点修订特点： 适用范围有所扩大（增加了管座角焊缝，管子管板角焊缝等焊接接头型式，适用的材质、厚度范围也有所增加）； 进一步与国际接轨（体现在：胶片分类、放射源品种、孔型像质计应用，一些工艺参数等）； 更加完整、严密、规范（多处内容、条款、文字的补充完善）。目次（标准内容浏览，正文8章） 前言 1 2 3 4 5 6 7范围规范性引用文件术语和定义一般要求检测工艺及其选择承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级承压设备管子及压力管道熔化焊环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级 8检测记录和报
2、告目 次（附录标题浏览，12个）附录A（资料性附录） 管子管板角焊缝射线照相技术要求附录B（规范性附录） 工业射线胶片系统的特性指标附录C（资料性附录） 黑度计（光学密度计）定期核查方法附录D（资料性附录） 暗室安全照明时间确定附录E（资料性附录） 典型透照方式示意图附录F（资料性附录） 环向对接焊缝透照次数确定方法附录G（规范性附录） 焦点尺寸计算方法附录H（规范性附录） 几何不清晰度（UG）计算方法附录I（资料性附录） 滤光板附录J（规范性附录） 定位标记的放置原则附录K（资料性附录） 底片硫代硫酸盐离子浓度测量方法附录L（规范性附录） 对比试块的型式和规格前言（主要技术变化浏览，31处）
3、 本部分代替JB/T 4730.22005承压设备无损检测 第2部分：射线检测，与JB/T 4730.22005相比，主要技术变化如下： 扩大了标准的适用范围，增加插入式管座角接接头对接焊缝、安放式管座角接接头对接焊缝和管子管板角焊缝的X射线及射线检测技术和质量分级要求，并取消了钢的分类； 修改和增加了部分规范性引用文件； 增加了射线检测专用术语和定义的内容； 增加了Tm170和Yb169射线源应用的规定； 修改了特殊条件下射线检测技术等级允许放宽原则；前言（主要技术变化浏览-2） 修改了工业射线胶片系统分类，将胶片分为C1、C2、C3、C4、C5和C6六类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新
4、进行修订，同时补充了胶片灰雾度测量的要求； 修改了黑度计核查时机的内容； 增加了标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定； 增加了孔型像质计应用的内容，并修订了不同材料的像质计适用的工件材料范围及像质计使用和放置原则； 修改了检测时机要求，明确检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求；前言（主要技术变化浏览- 3） 增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容； 增加了内偏心透照（FDO/2）时透照次数的计算公式； 增加了暗室安全照明时间确定的内容； 增加了增感屏质量及使用要求、中屏材料及厚度范围、以及Tm170和Yb169两种射线增感屏材料及
5、厚度范围，并明确了增感屏制造标准； 增加了射线检测工艺文件的基本要求和验证的相关规定。 增加了双胶片透照技术和底片观察技术应用的内容； 增加了管座角焊缝、椭圆形封头和蝶形封头小r区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝确定一次透照长度的原则；前言（主要技术变化浏览- 4） 增加了有效评定区搭接的技术要求； 修改了结构受限的特殊情况下小径管的透照原则； 增加了安放式和插入式管座角焊缝采用源在内透照方式时f的放宽原则； 增加了胶片与被检工件之间距离的放置原则； 增加了射线源曝光时间限值和限制使用多源曝光的规定，以及球罐全景曝光像质计摆放要求； 增加了滤光板应用的推荐技术要求； 修改了定位标记和识别标记
6、的放置原则；前言（主要技术变化浏览- 5） 增加了胶片暗室处理试剂选用原则、胶片处理延迟时间及其底片处理质量检验的内容； 修改了底片质量要求的内容，增加了底片保存的内容； 修改了不同透照厚度应达到的像质计灵敏度，对应的材料厚度范围有所扩大，并增加了孔型像质计的灵敏度要求； 焊接接头射线检测结果评定和质量分级部分增加了适用的焊接结构型式； 增加和修订了射线检测记录和报告的内容. . 取消了“专用像质计的型式和规格”的内容； 修改了小径管专用对比试块。关于适用范围扩大1.2 本部分适用的金属熔化焊焊接接头的金属包括钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金（5）。焊接接头的型式包括板及管的
7、对接接头对接焊缝（以下简称“对接焊缝”）、插入式和安放式接管角接接头对接焊缝（以下简称“管座角焊缝”）和管子管板角焊缝（5）。 老标准JB/T4730-2005规定：本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。 解释：用“钢”代替“碳素钢、低合金钢、不锈钢”不仅简洁，而且范围扩大了，有些新钢种，例如9Ni，P91等，合金含量超过5%，不属于低合金钢，老标准不能覆盖，而新标准能够覆盖。1.1 NB/T 47013的本部分规定了承压设备金属熔化焊焊接接头X射线和射线检测技
8、术和质量分级要求。 （1 1）（）（5 5）常用常用焊接方法焊接方法分类分类 （1）按照焊接过程中金属所处的状态不同，可以把焊接方法分为熔焊、压焊和钎焊三类。 （5） 1.3 承压设备其他支承件和结构件的焊接接头的射线检测，也可参照使用。2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB 11533 标准对数视力表 GB/T 12604.2 无损检测 术语 射线照相检测 GB 18871 电离辐射防护及辐射源安全基本标准 GB/T 19348.1 无损检测 工业射线
9、照相胶片 第1部分：工业射线照相胶片系统的分类 -2014 GB/T 19348.2 无损检测 工业射线照相胶片 第2部分：用参考值方法控制胶片处理 -2003修改和增加了部分规范性引用文件 GBZ 117 GBZ 132工业X射线探伤放射卫生防护标准工业射线探伤放射防护标准 GB/T 23901.2 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计 像质指数的测定 -2009 NB/T 47013.1 JB/T 5075 JB/T 7902承压设备无损检测 第1部分：通用要求无损检测 射线照相检测用金属增感屏射线照相用线型像质计GBZ 117-2015工业工业X射线探伤放射防护要求射线探
10、伤放射防护要求 GBZ 132-2008JB/T 7902-2015 无损检测无损检测 线型像质计通用规范线型像质计通用规范2004版，废止标准工业和信息化版，废止标准工业和信息化部（部（2011年第年第25号）号）GB/T 19802无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求 -20053术语和定义 GB/T 12604.2 和NB/T 47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1 透照厚度 W （ penetrated thickness ） （5 5） 射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度T之和。T只计算母材厚度，不考虑焊缝余高，透照带垫板
11、单面焊缝时，不考虑垫板厚度。 （1）理解：所谓射线照射方向上即与主射线垂直。 （2）应用：一般在双壁双影或双壁单影以及带夹套工件透照时采用透照厚度如573.5mm，透照厚度是7mm， 2197mm，透照厚度为14mm,夹套厚度10mm，焊接头厚度是12mm，透照厚度22mm。（以透照厚度确定灵敏度，评级仍采用单壁公称厚度） （3）注意：当壁厚不等时以薄工件为准，但选择射线能量时要考虑厚的一面以及焊缝的余高和垫板的厚度。 3.2 工件至胶片距离 b （ object-to-film distance ） 3.23.23.53.5（6 6）沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离
12、。（1）理解：b等于L2（2）应用：计算几何不清晰度（3）注意：计算b厚度时要考虑焊缝余高，双壁双影时为管子的外径+2余高，双壁单影时为管子的公称厚度+1余高。3.3 射线源至工件距离 f（ source-to-object distance ）沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间的距离。（1）理解：f 等于L1。（2）应用：计算几何不清晰度，环焊缝透照次数。（3）注意：只有采当用内透法时f值可以减小。中心50，偏心20而且与技术级别无关。3.4 焦距F （focus distance ） 沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。（1）理解：F=fb（2）应用：计算曝
13、光量，采用其它方式透照环向对接接头（3）注意：当用X射线机时要考虑窗口到焦点的距离。 3.5 射线源尺寸d （external diameter of the pipe） 射线源的有效焦点尺寸。（1）理解：X光机所提供的焦点尺寸是有效焦点尺寸。（附录G）（2）应用：计算几何不清晰度。（3）注意：采用射线两个以上源叠加时以长轴计算。 3.6 圆形缺陷 （round flaw ）长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 （1）理解：长宽比小于和等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均属于圆形缺陷。 （2）应用：在检测报告缺陷性质一栏中，凡长宽比小于和等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均应称作圆形缺陷。 （3）
14、注意：当圆形缺陷的长径大于1/2板厚时应注明其尺寸。3.7 条形缺陷 （stripy flaw ）长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 （1）理解：凡长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均属于条形缺陷。 （2）应用：在检测报告缺陷性质一栏中，凡长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均应称作条形缺陷。 （3）注意：在管对接接头评级中，内凹、咬边不属于条形缺陷。 3.8 透照厚度比 K （ratio of max. and min.penetrated thickness）一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比。 （1）理解：透照厚度比K值即横向裂纹检出角。 （2）应用：计算纵向
15、焊接接头一次透照长度和环向焊接接头的透照次数。 （3）注意：对100mm D0400mm的环向焊接接头可放宽K1.2与技术级别有关。（仅限A级和AB级）3.9一次透照长度 （effective area of a single exposure） 符合标准规定的单次曝光有效检测长度。 （1）理解：由K值确定的单次有效透照区间长度。 （2）应用：工艺初次编制时：小径管或该曲率半径以下的环形接头（如封头拼缝小圆弧过渡区 ），一次透照长度未知。 （3）注意：工艺验证后：以底片黑度界定。 3.10 底片评定范围 （film evaluation scope）本部分规定底片上必须观测和评定的范围。（1）
16、理解：以两搭接标记之间的距离为长，焊缝加焊缝两侧热影响区为宽的范围。对小径管而言应是黑度大于1.5(AB级）或黑度大于大于2.0（B级）部分。（2）应用：评片时评定范围以外的缺陷不作为该片的评定依据，但要在备注栏中注明。当缺陷延伸到评定范围以外时也应计算其尺寸和数量。（3）注意：丁字焊口的纵、环部分焊缝也应进行评定。3.11 缺陷评定区 （defect evaluation zone）在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域，可以是正方形或长方形。缺陷评定区应选在缺陷最严重的部位。（1）理解：缺陷系指条形缺陷和圆形缺陷。评定区尺寸选取只与母材的公称厚度有关，与技术级别无关
17、。（2）应用：按不同性质的缺陷和母材的公称厚度择评定区，测量时评定区应与焊缝平行，在圆形缺陷评定区内存在条形缺陷时要综合评级。（3）注意：对小径管圆形缺陷评定区按10mm10mm。 3.12双胶片透照技术（double film technique） 暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采用双片叠加方式进行底片观察的透照技术。3.13 小径管 （small diameter tube）外直径Do小于或等于100mm的管子。 （1）理解：小径管外直径的上限为100mm，下限应理解为5mm。 （7.1.1评级中规定壁厚2mm）（2）应用：小径管的透照次数与技术级别无关。
18、（3）注意：由于结构原因不能进行多次透照时，应采取有效措施扩大缺陷的检出范围。4 一般要求4.1检测人员4.1.1 从事射线检测的人员应满足NB/T 47013.1的有关规定。4.1.2 从事射线检测的人员在上岗前应进行辐射安全知识的培训，并按照有关法规的要求取得相应证书。4.1.3 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB 11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。 4.2 检测设备和器材4.2.1射线装置4.2.1.1 可以使用两种射线源： a）由X射线机和加速器产生的X射线； b）由Co60、Ir192、S
19、e75、Yb169 和Tm170射线源产生的射线。（6 6）4.2.1.2 经合同双方商定，允许采用其他新型射线源。采用其他射线源时，有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行。 Tml70的平均能量0.072MeV，半衰期为127天，当量能100KV，Tm170发出的射线有较低的能量，可用作薄钢工件及轻金属的透照。 Yb169平均能量0.156MeV，半衰期32天。半衰期对比：Co60/5.3年；Ir192/75天； Se75/120天。 增加了Tm170Tm170和Yb169Yb169射线源应用的规定 标准新增加了放射源品种，Tm170和Yb169，实现与国际标准接轨，形成从薄到厚工件的适用
20、的放射源系列。“Tm170射线源”元素符号：Tm ；英文名：Thulium；中文名：铥；原子序数:69；放射性核素Tm170；相对原子质量：169K放射常数为0.0014Rm2/(hCi)；实际比活度为1000Ci/g；56关于“Tm170 、Yb169射线源”的进一步知识衰变过程：用热中子照射稳定同位素Tm169，就形成人工放射性同位素Tm170，在蜕变时约有76的Tm170的核放射出最大能量为0.968MeV的粒子而形成稳定的同位素Ybl70（没有射线），约有24的Tm170核放出最大能量为0.886 MeV的粒子（没有射线）而形成处于受激状态的Ybl70。在转变到稳定状态时，约有3放出能
21、量为0.084MeV的射线，约有5通过内转换发射K层轨道电子，随后发生电子跃迁发射出52KeV的特征X射线。 元素符号：Yb 英文名：Ytterbium ；中文名：镱y放射性核素Yb169：原子序数:70；相对原子质量：173 平均能量0.156MeV，半衰期32.0天；半衰期对比：Co60/5.3年；Ir192/75天； Se75/120天；Yb169/32天； Tml70的/127天.Yb169能谱其辐射强度最大的部分在49keV到59keV之间，此外在63keV到308keV范围有强度较小的辐射修改了工业射线胶片系统分类，将胶片分为C1C1、C2C2、C3C3、C4C4、C5C5和C6C
22、6六类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新进行修订，同时补充了胶片灰雾度测量的要求4.2.2射线胶片 （7 7）-12-12、1313、14144.2.2.1 胶片系统按照GB/T 19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B。4.2.2.2 胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按GB/T 19348.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片应按制造商推荐的温度和湿度条件予以保存，并应避免受任何
23、电离辐射的照射。胶片标准新版本ISO11699.1-2008；GB/T 19348.1-2014；老版本是2003。胶片（新旧标准）型号的对照：C4-T2 C5-T3 C6-T4 常用胶片类型C4类:天，kodakM、T，agfa D4、D5、fuji50、80、上海GX-A5C5类:天、kodakAA、B，Agfa D7、D8，fuji100，上海GX-A71、理解：（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏（材质、厚度）和冲洗条件（方式、配方、温度、时间）。（2）检测的技术级别与胶片的类别有关。2、应用：选择的原则（1）A级和AB级检测技术不得低于C5类
24、、B级检测技术不得低于C4类。（2）采用射线允许采用C5类胶片，但灵敏度应满足要求。3、注意：（1）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行射线照相时应采用高类别的胶片。（2）射线照相和高能X射线，以及对可焊性差的材料或Rm540MPa高强钢进行检测时， 应选择C4类或更高类别的胶片。4.2.3观片灯 观片灯的主要性能应符合GB/T 19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求。1、理解：（1）观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等。（2）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx45000cd/m22、应用：当底片评定范围内的黑度2.5时，观片灯的亮
25、度不应低于30cd/m2、当底片评定范围内的黑度D2.5时观片灯的亮度不应低于10 cd/m2 。 （5.15.3） (已知底片的黑度，应会计算观片灯的亮度）3、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/m2表示。 新标准关于黑度计的内容；增加了黑度计核查内容，标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定4.2.4 黑度计（光学密度计）4.2.4.1 黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过0.05。4.2.4.2 黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每六个月应进行一次核查。核查方法可参照附录C的规定进行，每次核查后应填写核查记录。在工作开始时或连续工作超过8h后应在拟测量
26、黑度范围内选择至少两点进行检查。JB/T4730-2005规定：3.4黑度计（光学密度计）3.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过0.05。3.4.2黑度计至少每6个月校验一次。校验方法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。4.2.5标准密度片 标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准，且能覆盖0.3-4.5黑度范围，应至少每2年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。 JB/T4730-2005未作规定。 新标准规定主要参考了ASME规范和RCC-M标准中对标准密度片黑度范围和基准数量的要求。1、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于4.5。 2、应用：黑度
27、计属于需核查仪器，不是强制检定设备。黑度计的核查应有记录并有相关人员签字，保存到下一校验周期。3、注意：核查黑度计用的标准黑度片必须在校准有效期内，新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。增加了增感屏质量及使用要求、中屏材料及厚度范围、以及Tm170和Yb169两种射线增感屏材料及厚度范围，并明确了增感屏制造标准 4.2.6增感屏 4.2.6.1 射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T 5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道。4.2.6.2 使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好。增感屏的选用应符合表1的规定。射线源材料前屏后屏c中屏厚度/mm厚度/mm厚
28、度/mmdX射线（250kV500kV）铅0.020.200.020.2020.0220.10Tm170铅不用或0.03不用或0.03dYb169铅0.020.150.020.1520.0220.10b采用Co60射线源透照延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rm 540MPa材料时，AB级和B级应采用钢或铜增感屏。 （7 7）c 双胶片透照技术应增加使用中屏。 d 采用X射线和Yb169射线源时，每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。96 表1增感屏的材料和厚度1、理解：（1）X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关。（2）如采用Se-75或Ir-1
29、92，增感屏的厚度与技术级别有关。（3）如采用Co60或高能X射线（4MeV以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。2、应用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同。增加了孔型像质计应用的内容，并修订了不同材料的像质计适用的工件材料范围及像质计使用和放置原则4.2.7像质计 （8 8）4.2.7.1 底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定，孔型像质计型号和规格应满足GB/T 23901.2的规定。 引用标准GB/T 23901.2 射线照相用孔型像质计,该标准等同采用ISO19232JB/T 7902 线
30、型像质计由19根不同线径的金属丝构成（线号/线径：1/3.20-19/0.050），组成了4组（有重叠），每组7个连续的线编号：1-7、6-12、10-16、13-19。 (1号、6号、10号、13号)GB/T 23901.2 孔型像质计由18块不同厚度和直径的阶梯/孔径（孔编号/孔径：H1/0.125-H18/6.300）构成，划分为4组（有重叠），每组6个连续的孔编号：H1-H6，H5-H10，H9-H14和H13-H18。（1号、5号、9号、13号） 孔径=台阶厚度H1（0.125）H10（1.000）H2（0.160）H11（1.250）H3（0.200）H12（1.500）H4（0.
31、250）H13（2.000）H5（0.320）H14（2.500）H6（0.400）H15（3.200）H7（0.500）H16（4.000）H8（0.630）H17（5.000）H9（0.800）H18（6.300）孔径和台阶厚度系列69 4.2.7.2 像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按表2的规定执行，像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。 应用：（1）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）、透照厚度（W）、确定像质计灵敏度。（2）以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数
32、材料制成的工件照相。即铁（Fe）像质计可以用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相，但不能用于钛（Ti）、铝（AI）材料的照相。增加了暗室安全照射时间确定的内容附录D（资料性附录）暗室安全照射时间确定通过试验确定暗室安全照明时间。曝光前照射试验t1曝光后照射试验t2潮湿胶片曝光后照射试验t3射线曝光用阶梯试块；安全灯照射用多条胶片分别试验；暗室处理后对底片进行黑度测量和目视观察； D.6 暗室安全照射时间的确定 D.6.1 以试验得到的t1、t2和t3之中最小值的一半作为胶片在暗室处理过程允许的安全灯照射时间，即暗室安全照射时间。4.2.8暗室安全照明时间确定 胶片应在胶片制造商所推荐的安全灯光条
33、件下进行暗室处理，暗室安全照明时间的确定方法可参考附录D进行。附录D 暗室安全照射时间确定 D.6.2 如果试验测定的安全照明时间不足以完成整个暗室处理，应考虑更换安全灯，并重新通过试验确定暗室安全照射时间； D.6.3 实际生产过程中，胶片暗室处理应在试验确定的安全照射时间、安全距离等参数下进行。 老标准JB/T4730-2005：没有相似规定。 参考GB/T 6846-2008、ISO 8374-2001和ASME规范。944.3检测技术等级4.3.1 射线检测技术分为三级：A级低灵敏度技术；AB级中灵敏度技术；B级高灵敏度技术。4.3.2射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设
34、计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。承压设备对接焊接接头的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。修改了特殊条件下射线检测技术等级允许放宽原则4.3.3 当检测中某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时，经合同双方商定（JB/T4730的规定为“经检测方技术负责人批准），在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定，则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。4.3.4 承压设备在用检测中，检测
35、的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经合同双方商定（JB/T4730的规定为“经检测方技术负责人批准），在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。（8 8）1、理解：（1）承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于AB级。（2）承压设备在用检测特殊情况下可以采用A级检测技术。（3）有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。2、应用：某些条件是指“结构、环境、射线设备等方面的限制”。3、注意：底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。对在用设备如采用A级检
36、测技术应补充其他检测方法进行检测。返修焊缝应采用AB级或达到AB级灵敏度。4.4检测工艺文件4.4.1 检测工艺文件包括工艺规程和操作指导书。4.4.2 工艺规程除了满足NB/T 47013.1的要求外，还应规定下列相关因素的具体范围或要求；如相关因素的变化超出规定时，应重新编制或修订工艺规程： a）适用范围中的结构、材料类别及厚度； b）射线源种类、能量及焦点尺寸； c）检测技术等级； d）透照技术； e）透照方式； f）胶片型号及等级； g）像质计种类；增加了射线检测工艺文件的基本要求和验证的相关规定 h）增感屏和滤光板型号（如使用）； i）暗室处理方法或条件； j）底片观察技术。4.4.
37、3 应针对具体检测对象根据标准和工艺规程编写操作指导书，其内容除满足NB/T 47013.1的要求外，至少还应包括： a）编制依据； b）适用范围：被检工件的类型（形状、结构等）、尺寸范围（厚度及其它几何尺寸）、所用材料种类； c）检测设备器材：射线源（种类、型号、焦点尺寸）、胶片（牌号及其分类等级）、增感屏（类型、数量和厚度）、像质计（种类和型号）、滤光板、背散射屏蔽铅版、标记、胶片暗室处理和观察设备等； d）检测技术与工艺：采用的检测技术等级、透照技术（单或双胶片），透照方式（源-工件-胶片相对位置），射线源、胶片、曝光参数、像质计的类型、摆放位置和数量，标记符号类型和放置、布片原则等；
38、e）胶片暗室处理方法和条件要求； f）底片观察技术（双片叠加或单片观察评定）； g）底片质量要求：几何不清晰度、黑度、像质计灵敏度、标记等； h）验收标准； i）操作指导书的验证要求。4.4.4 首次使用的操作指导书应进行工艺验证，以验证底片质量是否能达到标准规定的要求。验证可通过专门的透照试验进行，或以产品的第一批底片作为验证依据。在这两种情况下，作为依据的验证底片应做出标识。4.5辐射安全防护 （8 8）（1010）4.5.1放射卫生防护应符合GB 18871、GBZ 117和GBZ 132的有关规定。4.5.2现场进行射线检测时，应按GBZ 117的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。
39、检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。4.5.3现场进行射线检测时，应按GBZ 132的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。1、理解：（1）现场进行射线检测或进行射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。（2）在两个标准都提出了辐射照射量的新名词比释动能和空气比释动能率，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。2、应用：（1）空气比释动能率用仪器可以测出。（2）控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比释动能率量值进行划分的。3、注意：尽管
40、两个标准的某些条款内容相同或相近，但在使用中不能相互代替。修改了检测时机要求5检测工艺及其选择5.1检测时机 （1010）5.1.1 检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。5.1.2 除非另有规定，射线检测应在焊接接头制造完工后进行，对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。 对照老标准JB/T4730的规定：除非另有规定，射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。1、理解：（1）除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。（2）有延迟裂纹的材料一
41、般指低合金高强钢、铬钼钢等。Rm540MPa高强钢材料：低合金高强钢类-如15MnVNR、18MnMoNbR、07MnCrMoR；低合金耐热钢类-如1.OCr0.5Mo(15CrMo)、1.25Cr0.5Mo(14Cr1Mo)马氏体不锈钢：1Cr13、2Cr132、应用：（1）射线检测工艺卡中应明确检测时机。（2）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容5.2 检测区5.2.1 检测区宽度应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求，对于非电渣焊焊接接头，一般应满足以下规定：a） 对于对接焊缝，
42、检测区包括焊缝金属及相对于焊缝边缘至少为5mm的相邻母材区域；b） 对于管座角焊缝，检测区包括焊缝金属及相对于焊缝边缘至少为5mm的安放式接管相邻母材区域或插入式主管（或筒体、封头、平板等）相邻母材区域。 （11）5.2.2 对于电渣焊焊接接头，其检测区宽度可通过实际测量热影响区确定，或由合同双方商定。 老标准JB/T4730-2005未做规定。5.3表面要求 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经目视检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。 新标准关于针对不同技术等级和检测对象选择胶片类别的具体规定5.4 胶片选择 （11）（12）5.4.1
43、 A级和AB级射线检测技术应采用C5类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用C4类或更高类别的胶片。5.4.2 采用射线和高能X射线进行射线检测时，以及对标准抗拉强度下限值R540MPa高强度材料射线检测时，应采用C4类或更高类别的胶片。胶片的类别选择与检测的技术级别有关。胶片选择需要考虑的其它因素：射线源的种类、检测对象的材质Rm540MPa高强钢材料：低合金高强钢类-如18MnMoNbR、07MnCrMoR；低合金耐热钢类-如1.OCr0.5Mo(15CrMo)、1.25Cr0.5Mo(14Cr1Mo)增加了双胶片透照技术和底片观察技术应用的内容5.5透照布置5.5.1 胶片透照技术本部
44、分允许以下两种胶片透照技术：a）单胶片透照技术使用单张胶片。X射线（100kV）和Tm170射线源只允许采用单胶片透照技术。b）双胶片透照技术 （12）使用两张分类等级相同或相近的胶片。双胶片技术的原理、特点、标准关于双胶片技术应用的规定 什么是双胶片技术？ 暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采用双片叠加方式进行底片观察的检测技术。 双胶片技术特点：1、可排除多种伪缺陷干扰，有利于提高底片评定准确性。2、可增加透照厚度宽容度，检测大厚度差工件。3、可缩短曝光时间，提高效率。4、可减少像质不合格造成的返工。注意：双胶片技术也有缺点。 有关规定主要参考了ASMEASM
45、E和RCC-MRCC-M标准。5.5.2透照方式 （14）5.5.2.1 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应优先选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录E。对接接头8种：单壁外照法；单壁内照法；环缝中心法；环缝双壁单影（2）；纵缝双壁单影；双壁双影（2）角接接头6种：插入式接管（3）；安放式接管（3）1、理解：（1）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（2）对“在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式”要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。（
46、3）一次透照长度与检测技术级别有关。2、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。（在用设备）3、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。（附录F 图F.6）5.5.2.2 安放式和插入式管座角焊缝应优先选择源在外透照方式。插入式管座角焊缝源在内透照方式时，应优先选择射线源放置在支管轴线上的透照布置。（14） （17）5.5.3透照方向 透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，并应与工件表面法线重合，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。增加了内偏心透照（FDO/2）时透照次数的计算公式 5.5.4 一次透照长度： （18） a）一次透照长度应以
47、透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。通过K值确定的整条环向焊接接头所需的透照次数可参照附录F的曲线图确定；附录F中，增加了：F.3 射线源在内偏心透照（FDo/2） 最少透照次数N计算公式N=1800/；=-；=sin-1【Di/（Di-2L1)】；=cos-1【1-（K2-1)T/Di/K;当DT时，cos-1k-1；实际检测时可不用此公式计算，按照平板焊缝的K值和一次透照长度关系选择即可。b）采用射线源在内偏心透照（F2.5 4.0老标准JB/T4730的灵敏度要求表表5 丝型像质计灵敏度值丝型像质计灵敏度值单壁透照、像质计置于源侧
48、单壁透照、像质计置于源侧5.17底片保存 底片保存条件至少应符合按档案文件管理的有关规定，并应满足胶片制造商的建议和要求。焊接接头射线检测结果评定和质量分级部分增加了适用的焊接结构型式 6 承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级6.1钢、镍、铜制承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级6.1.1 范围 本条规定适用于厚度400mm，材质为钢、镍及镍基合金制，以及厚度为80mm，铜及铜合金制承压设备焊接接头的射线检测结果评定和质量分级。适用的焊接接头的型式包括双面熔化焊对接焊缝、相当于双面焊的全焊透对接焊缝，以及沿焊缝根部全长有紧贴基本金属的垫板的单面焊对接焊缝。 对照老标准J
49、B/T47013-2005的规定 5.1.1 范围 本条规定适用于厚度为2 mm400mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金制承压设备，以及厚度为2 mm80mm铜及铜合金制承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。6.1.2缺陷类型 焊接接头中的缺陷按性质和形状可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。6.1.3质量等级的划分 根据焊接接头中存在的缺陷性质、尺寸、数量和密集程度，其质量等级可划分为、III、级。6.1.4质量分级一般规定 （2929）6.1.4.1 级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。6.1.4.2 级和级焊接接头内不允许存
50、在裂纹、未熔合和未焊透。6.1.4.3 圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级，即分别评定圆形缺陷评定区内圆形缺陷和条形缺陷的质量级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。6.1.4.4 除综合评级外，当各类缺陷评定的质量级别不同时，应以最低的质量级别作为焊接接头的质量级别。6.1.4.5 焊接接头中缺陷评定的质量级别超过级时一律定为级。6.1.5圆形缺陷的质量分级6.1.5.1圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表11。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。6.1.5.2在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线
