1、变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试1 1 试验目的试验目的l 某台变压器的套管，正常tan值为0.5%，而当受潮后tan值为3.5%，两个数据相差7倍；而用测量绝缘电阻检测，受潮前后的数值相差不大。由于测量介质损耗因数对反映上述缺陷具有较高的灵敏度，所以在电工制造及电力设备交接和预防性试验中都得到了广泛的应用。变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试2 2 试验的局限性试验的局限性l 有的设备，尽管测得的总体绝缘的介损tan值很小（从总体平均来看），但是局部缺陷的损失可能很大而不能发现。变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试3 3 介损仪的种类介损仪的种类l 西林电桥（QS
2、1、QS3型高压交流平衡电桥）l M型介质试验器（2500伏介质试验器，不平衡电桥）l 新型全自动抗干扰电桥（济南泛华电桥、金迪电桥、泛科电桥、康申电桥等等）变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试4 4 各种电桥的的原理各种电桥的的原理l QS1电桥：调节R3、C4使电桥平衡，此时a、b两点电压相等，即R3、C4两端电压相等。44xxn34x 3n4xCRCRtanCRRCRCCR ;变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试4 4 各种电桥的的原理各种电桥的的原理l M型电桥：将试品改为并联模型。注意到Ir与Icx、Icn差90度。调节R4使Uw最小。这时IcnR4=IcxR3,Uw
3、=IrR3，因此由于a、b间电压没有完全抵消，因此M型电桥也称为不平衡电桥。Uw测量的是绝对值，小介损时电压很低，难以保证测量精度。23r23cx4cnw)R(I)RIR(IU4cnwcxrRIUIItan变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试4 4 各种电桥的的原理各种电桥的的原理l 数字电桥：数字电桥的测量回路还是一个桥。R3、R4两端的电压经过A/D采样送到计算机。进一步可求得试品介损和电容量。数字电桥的最大优势在于：可以实现自动测量，可以补偿所有原理性误差，没有复杂的机械调节部件，测量以软件为主，性能十分稳定。nxn43cxxncn3xcx4ncnCj1UURRIUZCjIURU
4、IRUI;变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目l 绕组连同套管的tan和电容值l 电容型套管的tan和电容值 变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目l 绕组连同套管的tan和电容值 一次引线全部拆开 将被试绕组短接接地充分放电 被试绕组需首末端短接后加压 施加电压绕组电压10kV以上：10kV绕组电压10kV以下：Un介损仪的高压屏蔽端均悬空变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目测量部位介损仪接线接线法其它应接地部位高压端Cx端低压绕组高、中压绕组及地低压绕组反接法高、中压绕组中压绕组高、低压绕组及地中
5、压绕组反接法高、低压绕组高压绕组中、低压绕组及地高压绕组反接法中、低压绕组高、中压绕组低压绕组及地高、中压绕组反接法低压绕组中、低压绕组高压绕组及地中、低压绕组反接法高压绕组高、低压绕组中压绕组及地高、低压绕组反接法中压绕组高、中、低压绕组地高、中、低压绕组反接法变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目l 绕组连同套管的tan和电容值 不拆一次引线 将被试绕组短接接地充分放电。被试绕组需首末端短接后加压。施加电压绕组电压10kV以上：10kV绕组电压10kV以下：Un变压器介损及电容量测试变压器介损
6、及电容量测试5 5 试验项目试验项目测量部位介损仪接线接线法接地部件高压端Cx端高压绕组中、低压绕组、铁芯、夹件高压绕组中、低压绕组、铁芯、夹件正接法外壳中压绕组高、低压绕组、铁芯、夹件中压绕组高、低压绕组、铁芯、夹件正接法外壳低压绕组高、中压绕组、铁芯、夹件低压绕组高、中压绕组、铁芯、夹件正接法外壳高、中压绕组低压绕组、铁芯、夹件高、中压绕组低压绕组、铁芯、夹件正接法外壳高、低压绕组中压绕组、铁芯、夹件高、低压绕组中压绕组、铁芯、夹件正接法外壳中、低压绕组高压绕组、铁芯、夹件中、低压绕组高压绕组、铁芯、夹件正接法外壳高、中、低压绕组铁芯、夹件高、中、低压绕组铁芯、夹件正接法外壳变压器介损及电
7、容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目l 电容型套管的tan和电容值 拆开套管末屏接地片（线）与被试套管相连的所有绕组端子短接后接介损测试仪高压端，其余绕组端子均接地，套管末屏接介损测试仪，正接线测量 施加电压10kV变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目l 电容型套管的tan和电容值 如果电容型套管末屏对地绝缘电阻小于1000 M，应测量末屏对地的tan。套管末屏接介损测试仪高压端，与被试套管相连的所有绕组端子短
8、接后接介损测试仪屏蔽端，加压2kV，采用反接屏蔽法测量。变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试5 5 试验项目试验项目变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试6 6 试验数据分析试验数据分析l 不同温度下的tan值一般按下式换算 式中tan1、tan2分别为温度t1、t2时的 tan值 l 将所测得的tan换算到同一温度，并与出厂、交接、历年数值进行比较；与同型设备、同一设备相间比较。比较结果均不应有明显差异。10t1t2121.3tantan变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试7 7 判断标准判断标准l 绕组连同套管的tan和电容值 20时tan不大于下列数值 500kV：
9、0.6%；110220kV：0.8%；35kV：1.5%变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试7 7 判断标准判断标准l 电容型套管的tan和电容值 20时的tan值不应大于下表数值：电压等级（kV）2035110220500交接时充油型2.51.01.0油纸电容型0.70.70.5胶纸电容型1.51.01.0大修后充油型3.01.51.5油纸电容型1.01.00.8胶纸电容型2.01.51.0运行中充油型3.51.51.5油纸电容型1.01.00.8胶纸电容型3.01.51.0变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试7 7 判断标准判断标准l 电容型套管的tan和电容值 电容型套管的电容值与出厂值或上一次试验值的差别超出5时，应查明原因。套管末屏对地的介损不应大于2%。变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试8 8 影响影响tantan的因素的因素l 试验电压的影响 良好绝缘的tan不随电压的升高而明显增加。若绝缘内部有缺陷，则其tan将随试验电压的升高而明显增加。变压器介损及电容量测试变压器介损及电容量测试9 9 介损异常处理介损异常处理l 检查试验接线是否正确、接触是否良好；l 排除干扰影响；l 将瓷套表面擦干净；l 调整试验引线与试品的夹角，尽量接近90度；l 采用不同试验方法。
