1、2023年5月7日星期日第第9章光纤通信常用仪表章光纤通信常用仪表及测试及测试9.1 引引 言言 光纤测试的标准有三类：基础标准、器件测试标准和系统标准。基础标准用于测试和表征基本的物理参数，如损耗、带宽、单模光纤的模场直径和光功率等。在美国，负责制定基础标准的主要组织是国家标准和技术协会NIST(National Institute of Standards and Technology），它负责光纤和激光器标准的制定工作，并发起了一个光纤测试年会。其他相应的组织有英国国家物理实验室NPL(National Physical Laboratory）和德国的PTB（Physikalisch T
2、echnische Bundesanstalt）。器件测试标准定义了光纤器件性能的相关测试项目，并建立了设备校准程序。由几个不同的标准组织负责制定测试标准，其中最为活跃的有：电信工业协会TIA(Telecommunication Industries Association）、电气工业协会EIA(Electronic Industries Association）、国际电信联盟电信标准部ITU T(the Telecommunication Standardization Sector of the International Telecommunication Union）和国际电工委员会I
3、EC(International Electrotechnical Commission）。TIA有120多条光纤测试标准和说明，在一般情况下，使用TIA/EIA 455 XX YY进行标识，XX指特定的测试技术，YY指公布年份。这些标准也称为光纤测试程序（FOTP），所以TIA/EIA 455 XX YY就变成了FOTP-XX。这些标准中还包括大量推荐的测试方法，用来测试光纤、光缆、无源器件和光电器件对环境因素和工作条件的响应。例如，TIA/EIA 60 1997或者FOTP 60是测试光纤和光缆长度的方法，公布于1997年。系统标准是指链路和网络的测试方法。负责系统标准的主要组织是美国国家
4、标准协会（ANSI）、电子电气工程师协会（IEEE）和ITU T。对光纤系统的测试应特别注重的是来自ITU T的测试标准和建议。目前已公布的和即将公布的ITU T建议适合于光网络的各个方面，包括以下内容：(1)G.ons建议：“光传送网的网络节点接口”，包括光层功能开销的定义，例如传输波长的管理等。(2)G.872建议:“光传送网的结构”，公布于1999年2月。(3)G.798建议:给出光网络单元的功能特性。(4)G.onc建议:“光网络器件和子系统”，提出了器件和子系统传输方面的问题，例如分插复用器和光交叉连接。(5)G.983建议:“基于无源光网络的高速光接入系统”，公布于1998年10月
5、。(6)G.959.1建议:“光网络物理层”，提出了点到点的WDM系统，以优化长距离传送。(7)G.onm建议:主要处理“光网络单元管理”中的问题。(8)G.871建议:“光网络单元框架”，给出了各种建议与制定它们的理论基础之间的联系。9.2 光纤测试以及光时域反射仪光纤测试以及光时域反射仪OTDR 9.2.1 光纤测试参数 光纤的测试参数有很多，主要有：(1)几何特性参数:包括光纤的纤芯直径、包层直径、纤芯不圆度、包层不圆度、芯包同心误差。(2)光学特性参数:包括单模光纤的模场直径、截止波长等，多模光纤的折射率分布、数值孔径等。(3)传输特性参数:包括衰减系数、单模光纤的色散系数、多模光纤的
6、带宽。(4)机械特性参数:包括光纤的抗拉强度、疲劳因子等。(5)温度特性参数:包括衰减的温度附加损耗、时延温度等。光纤的每一种参数都有几种不同的测试或实验方法，本章只介绍其中的几种方法。9.2.2 光纤损耗和色散测试 1.光纤测试的注入条件 1)多模光纤的注入条件 光能耦合进多模光纤时会激励起很多模式，各个模式所携带的光能量是不同的，传输时的损耗也不同，模式之间还有能量转换，只有经过一个相当长的时间以后才能达到一种相对稳定的状态，此时称为稳态模式。对于多模光纤的测试，只有达到稳态模式分布以后才有意义。使多模光纤达到稳态分布的注入方式有两种，分别是满注入和限制注入。满注入就是要均匀地激励起所有的
7、传导模式；限制注入就是只激励起较低损耗的低阶模，而适当抑制损耗较大的高阶模。当测试光纤的损耗时，采用限制注入方式，因为损耗较大的高阶模的注入，会由于被测光纤长度的不同而使输出光功率不同，从而产生测试误差；当测试光纤色散时，则采用满注入方式，因为色散的测试是由光脉冲通过传输后的脉冲时间展宽来确定的，如果采用限制注入，会使功率在不同模式上的分布产生较大变化，致使光脉冲的展宽程度不同，测试结果就不准确。要达到稳态分布，需要借助以下几种设备：(1)扰模器，即采用强烈的几何扰动，使多模光纤不需要很长的距离就能迅速达到稳态分布。(2)滤模器，滤除不需要的瞬态模或其他不需要的传导模，这些模损耗较大，对光纤稍
8、加弯曲就可衰减掉。(3)包层模剥除器，即除去不需要的包层中的非传导辐射模。当涂敷层折射率比包层低时，辐射模会在包层与涂敷层之间反射，并在包层中传输。方法是把涂敷层去掉，把光纤浸在折射率比包层稍大的匹配液中。当光纤本身涂敷层的折射率大于包层折射率时就不会产生包层模，不需要去除。2.光纤损耗的测试 损耗测试一般有三种方法：截断法、插入法和后向散射法。1)截断法 截断法是一种破坏性的测试方法，需要在接入光纤的两端测试光功率，如图9.1所示。图9.1 截断法测试光纤 可以在一个或多个波长上测试损耗。如果要测试频谱响应，则需要在一个波段内进行。为了获得传输损耗，首先需要测试光纤输出端（或远端）的输出光功
9、率PF，然后在不破坏输入条件的情况下，在离光源几米的地方截断光纤，测试近端输出光功率PN。以dB/km为单位的平均损耗为其中，L是两个测试点之间的距离。2)插入法 插入法具有非破坏性的特点，但不如截断法精确。如图9.2所示，为了进行损耗测试，首先将带有一段发射光纤的连接器与接收系统的连接器相连，并记录下发射光功率电平P1（），然后将待测光缆接入发射和接收系统之间，并记录下接收光功率电平P2（），则以dB为单位的光缆损耗为（9.1)连接器质量会影响测试精度，上式给出的损耗值是成缆光纤的损耗与发射端连接器和光缆连接器的损耗之和。图9.2 插入法测试损耗 3)后向散射法 后向散射法是通过光纤中后向散
10、射光信号来提取光纤衰减及其他信息的，诸如光纤光缆的光学连续性、物理缺陷、接头损耗和光纤长度等，是一种间接测试均匀样品衰减的方法。假设输入光信号功率为P0，传输到距离输入端距离为z处发生散射，部分光向后反射回输入端。光纤的衰减系数是距离z的函数，假设正向传输时的衰减系数为i（z），反向传输时的衰减系数为S（z），则正向光功率为 反射后，向后反射光的功率和P（z）的比值成为后向散射系数，用S表示，它和光纤的结构参数（芯径、相对折射率差）有关。后向散射光的功率PS（z）可以表示为(9.2)(9.3)将式(9.2)代入式(9.3)，可得(9.4)如果光纤从0到z的平均衰减系数为（z），则有(9.5)则
11、任意两点z1、z2之间的平均衰减系数为(9.6)从这个式子可以看出，只要能测出z1、z2点散射光返回的光功率以及z1、z2两点之间的距离，就可以算出平均衰减系数。这种测试是由光时域反射计OTDR来完成的。3.光纤色散的测试 数字信号在光纤中传输时是由不同的频率成分或不同的模式成分来携带的。这些不同的频率成分或模式成分有不同的传输速度，当它们在光纤中传输一段距离后将互相散开，于是光脉冲被展宽，这种现象就是色散。色散特性可以从时域或频域两方面描述，光脉冲在时间上的展宽实际上是从时域特性来描述光纤的色散效应的，而光纤的频域特性则是指光纤中每个频率成分的失真。1)多模光纤的色散测试 假设光纤的输入/输
12、出脉冲波形都近似为高斯分布，如图9.3所示。图9.3（a）为输入脉冲，幅度为A1，则A1/2所对应的宽度1是这个脉冲的宽度。图9.3（b）为输出脉冲，假设幅度为A2，则A2/2所对应的宽度2是这个脉冲的宽度。经证明，经光纤传输后的脉冲展宽、1和2的关系是（9.7）图9.3 假设光纤的输入/输出脉冲波形都近似为高斯分布 所以只要测出1和2，就可以得到脉冲展宽。如果输入脉冲Pin（t）对应的频谱函数是Pin（f），输出脉冲Pout（t）对应的频谱函数为Pout（f），那么光纤的频率响应特性H（f）为（9.8）当输出频谱下降为输入频谱的一半时，对应的频率为光纤的带宽，用fc表示，即H（fc）=1/2
13、，有10 lgH（fc）=-3 dB。实际测试时，一般把光功率变为电信号处理，即I（f），则有即6 dB电带宽对应3 dB光带宽。由于输入/输出脉冲具有高斯波形，因此可得光纤的带宽B（即fc）和脉冲的展宽时间有如下关系：（9.9）所以如果测得光纤的脉冲时延，就可以求得带宽B。ITU T 规定的基准测试方法有两种：时域法和频域法。(1)时域法:测试框图如图9.4所示。测试步骤为：先用脉冲发生器调制光源，使光源发出窄脉冲信号，且使其波形尽量接近高斯分布，注入方式采用满注入方式；接着用一根短光纤将连接点1和2相连，此时在输出示波器中得到的是Pin（t），并测试它的宽度1；然后把待测光纤从接头1和2之
14、间接入，同样的输入条件下，在示波器中得到的波形相当于Pout（t），测试它的宽度2；将这两个值带入式（9.7），则得到此光纤的脉冲展宽；最后利用式（9.9）可计算光纤带宽B。图9.4 时域法测试色散原理框图 (2)频域法:读取的是频率信号的幅值变化。测试原理框图如图9.5所示。频谱仪读取的光纤电信号幅值下降6 dB所对应的频率就是光信号的3 dB带宽。图9.5 频域法测试光纤色散的原理框图 频域法的测试步骤为：扫频发生器输出一个幅度不变但频率连续可调的正弦信号，对光源进行强度调制，得到幅度相同而频率变化的光正弦信号，注入时依然采用满注入方式；接着将1、2 两点用短光纤相连，此时频谱仪读取的是随
15、频率变化的输入信号频谱 PIin（f）；再把被测光纤连在1、2两点之间，此时从频谱仪中得到的是随输入频率变化的频谱PIout（f），把它们绘制成频谱曲线，对应在6 dB上的频率即为光纤带宽。2)单模光纤的色散测试 单模光纤中没有模间色散，只有色度色散（频率色散），色散和光源谱宽密切相关，光源谱宽越窄，色散越小，带宽越大，通常用色散系数表示色散D的大小，即（9.10）D为单位长度上单位波长间隔内的光波在光纤上产生的平均时延差。此时光纤带宽与色散系数的关系为（9.11）其中,为光源谱宽。ITU T对不同的光纤色散系数和相关参数规定如下：(1)G.652光纤:零色散波长在1310 nm附近，工作波长
16、在12701340 nm范围，其单位长度的群时延与波长的关系可以近似表示为（9.12）其中：0为零色散波长0处的相对最小群时延;S0是0处的色散斜率值，其单位为 ps/（nm2km）。将（）对微分就可得到色散系数D（）：ps/（nmkm）（9.13）(2)G.653光纤:工作波长和零色散波长均在 1550 nm附近，单位长度光纤的群时延与波长的关系近似表示为（ps/km）（9.14）色散系数表示为D()=S0(-0)ps/（nmkm）（9.15）(3)G.654光纤：零色散波长在1310 nm附近，工作波长却在1550 nm波长区，其单位长度群时延与波长的关系近似表示为 （ps/km）（9.1
17、6）色散系数表示为 D()=S1550(-1550)+D1550 ps/（nmkm）（9.17）其中,1550、S1550、D1550分别是波长为1550 nm时这种光纤的相对群时延、色散斜率和色散系数。（1）相移法:本质是通过比较基带调制信号在不同波长下的相位来确定色散特性。假设光源的调制频率为f（MHz），经过长度为L（km）的光纤的传输后，波长i（i=1,2，,n）相对于参考频率f的传输时延差为ti，相移差为i，则i=2fti（ps）；于是每千米的平均时延差i=ti/L（ps/km）。这样，通过测试不同波长i下的i，再根据式(9.17)计算出相应的i，由上面给出的不同光纤的群时延公式（）
18、得到有关系数，就可进一步得到该光纤的色散系数D。测试的原理框图如图9.6所示。图9.6 单模光纤的色散测试原理框图 图中，光源可以是可调激光器、激光阵列或多个二极管；波长选择器可以是光开关、单色仪、滤光片或别的色散器件；探测器要满足要求的信噪比和时间分辨率；信号处理器是相移计。（2）脉冲时延法:通过测试经同一窄脉冲调制后的不同波长的光信号经光纤传输后产生的时延差，直接按定义计算出色散系数。被测信号的不同波长信号i（i=1，2，,n）经过长度为L的光纤后，和参考信号f的时延差为ti，则单位长度的平均时延差i=ti/L（ps/km），此后的方法和相移法一样，测试装置同图9.6所示。此时的信号处理器
19、为一个取样示波器，得到的是脉冲时延而不是相移。9.2.3 光时域反射仪OTDR OTDR（Optical Time Domain Reflectometer）的原理是光脉冲的瑞利散射。由于瑞利散射光具有和入射波长同样的波长，且功率与该点的入射光功率成正比，因此通过测试沿光纤返回的反向光功率就可以获得入射光沿光纤传输路径所受到的损耗特性，并且还可以通过分析返回光信号的时间来确定待测光纤中不完善点的位置以及待测光纤的总长度。OTDR的原理框图如图9.7所示。图中的主时钟产生标准时钟信号，脉冲发生器根据这个时钟产生符合要求的窄脉冲，并用它来调制光源；光定向耦合器将光源发出的光耦合到被测光纤，同时将散
20、射和反射信号耦合进光检测器，经放大及信号处理后送入示波器,显示输出波形及在数据输出系统输出的有关数据。要进行信号处理的原因是后向散射光非常微弱，淹没在噪声中，只有采用取样积分器对微弱散射光进行取样求和，随机噪声抵消，才能将散射信号取出。图9.7 OTDR的原理框图 图9.8 典型OTDR曲线 图9.8是一条典型的测试曲线。其中：a点为光纤的输入端，是由耦合设备和光纤输入端端面产生的菲涅尔（Fresnel）反射信号，并且此处的光信号最强；b点有一突降，说明此处有一接头或存在其他的缺陷所引起的高损耗；c点突然有一个上升，说明此处有光纤的断裂面，引起Fresnel反射；d点为光纤的终点，是由输出端引
21、起的Fresnel反射。在这个曲线中，由于eb段和bc段是逐渐降低的近似直线，说明这两段光纤是均匀的，而bc段曲线下降更平缓，说明这段光纤的衰减系数比前段要小。在cd段，曲线不是直线，说明这段光纤轴向结构不太均匀。如果在e点和b点测得的光功率为P1和P2（单位为dB，采用对数刻度），两点之间的长度为L，则这段光纤的衰减系数为（9.18）若光脉冲从起点到尾端再反射回到起点所经历的时间为t0，则可以得到光纤的长度L为（9.19）其中，c为真空中的光速，n（）为光纤中材料的群折射率。通过分析这条后向散射曲线，可以确定光纤线路中的缺陷、断裂点、接头位置以及被测光纤的长度。OTDR的两个主要参数是动态范
22、围和测试范围。动态范围是指初始后向散射光功率电平与在测试3分钟之后的噪声电平之差，它是以 dB为单位的光纤损耗的一种表示方法。动态范围提供了仪器能测试的光纤损耗最大值的信息，指出了测试给定的光纤损耗所需要的时间，所以它通常用于表示OTDR的测试能力。动态范围与分辨率之间的矛盾是制约OTDR的一个基本因素。要获得高的空间分辨率，脉冲宽度必须尽可能小，然而这样会降低信噪比，从而减小动态范围。测试范围表征了OTDR鉴别光纤链路发生故障的能力，如接头点、连接点和光纤断裂点。它的定义是使OTDR仍能进行准确测试的故障与OTDR之间所允许的最大损耗。9.3 光功率计与光端机的测试光功率计与光端机的测试 9
23、.3.1 光功率计 在光纤通信的测试中，许多重要参数的测试实际上都是对光功率的测试。测试光功率的方法有热学法和光电法。热学法在波长特性、测试精度等方面较好，但响应速度慢，灵敏度低，设备体积大。而光电法有较快的响应速度,良好的线性特性，并且灵敏度高，测试范围大，但其波长特性和测试精度不如热学法。在光通信中，光功率一般较弱，范围约为nW级到mW级，因此普遍采用灵敏度较高的光电法。光电法采用光检测器检测光功率，实际上是测试光检测器在受辐射后产生的微弱电流，该电流与入射到光敏面上的光功率成正比，因此实际上这种光功率计是一种半导体光电传感器与电子电路组成的放大和数据处理单元组合。光功率计的主要技术指标有
24、：(1)波长范围：不同的半导体材料响应的光波长范围不同，为了覆盖较大的波长范围，一个光功率计可以配备几个不同的探测头。(2)光功率测试范围：主要由光探测器的灵敏度和主机的动态范围决定。9.3.2 光端机的测试 在光纤通信系统中，光端机与光纤的连接点称为光接口；光端机与数字设备的连接点称为电接口，如图9.9所示。光接口有两个:一个称为“S”，光端机由此向光纤发送光信号；另一个称为“R”，光端机由此接收从光纤传来的光信号。电接口也有两个:一个为“A”，数字复用设备输出的PCM信号由此传给光端机；另一个为“B”，光端机由此向数字设备输出接收到的PCM信号。因此，光端机的测试指标也分为两大类：一类是光
25、接口指标，另一类是电接口指标。图9.9 光端机的光接口和电接口 1.光接口的指标与测试 光接口的指标主要有四个：平均发送光功率，消光比，光接收机灵敏度和光接收机动态范围。1)平均发送光功率 光端机的平均发送光功率是在正常工作条件下光端机输出的平均光功率，即光源尾纤输出的平均光功率。平均光功率的指标与实际的光纤线路有关。在长距离的光纤通信数字系统中，要求有较大的平均发送光功率;而在短距离的光纤通信系统中，则要求有较小的平均发送光功率。平均发送光功率的测试框图如图9.10所示。测试时要注意，各种指标的测试都要送入测试信号。自光端机A点送入PCM测试信号，不同码速的光纤数字通信系统要求送入不同的PC
26、M测试信号。例如，速率为2048 kb/s和8448 kb/s的光端机送入215-1的伪随机序列码，速率为34 368 kb/s和139 264 kb/s的光端机送入223-1伪随机序列码，并且2048 kb/s、8448 kb/s和34 368 kb/s的码型为HDB3，而139 264 kb/s的码型为CMI码。图9.10 平均发送光功率的测试 测试时送入正常工作时的工作信号，此时光功率计上读取的数值即为平均发送光功率。应当注意的是:平均光功率与PCM信号的码型有关，NRZ码和占空比为50%的RZ码相比，前者比后者平均光功率要大3 dB；另外，光源的平均输出光功率与注入它的电流大小有关，测
27、试时应在正常工作的注入电流条件下进行。2)消光比 消光比是光端机发送部分的质量指标之一，定义为 其中，P00是光端机输入信号脉冲为全“0”码时输出的平均光功率，P11为光端机输入信号脉冲为全“1”码时输出的平均光功率。从LD的P-I曲线知道，当输入信号为“0”时，输出并不为0，因为在一个偏置电流Ib的作用下，输出为荧光。我们希望Ib越小越好，这样就可以提高消光比及接收机的灵敏度。但另一方面，Ib减小，会使光源输出功率降低，谱线宽度增加，并产生对光源特性的其他不利影响。因此要全面考虑Ib影响，一般要求EXT0.1。当EXT=0.1时，使APD光接收机降低1.8 dB，使PIN光接收机灵敏度降低0
28、.9 dB。当光源是LED时，一般不考虑消光比，因为它不加偏置电流，所以无输入信号时输出也为零。LD消光比测试图也如图9.10所示，输入全“0”码即断掉输入信号(一般将编码盘拔出)时测得的光功率为P00。输入光端机的信号一般是伪随机码，它的“0”码和“1”码的出现概率是相等的，因此测试的伪随机序列信号的光功率PT是全“1”码时的光功率的一半，即P11=2PT。所以消光比为 3)接收机灵敏度 接收机灵敏度是指在满足给定误码率或信噪比的条件下，光端机能够接收到的最小平均光功率。灵敏度是光端机的重要性能指标，它表示了光端机接收微弱信号的能力，从而决定了系统的中继段距离，是系统设计的重要依据。在测试光
29、接收机灵敏度时，首先要确定系统所要求的误码率指标。对不同长度和不同应用的光纤数字通信系统，其误码率指标是不一样的。不同的误码率指标，要求的接收机灵敏度也不同。要求的误码率越小，灵敏度就越低，即要求接收的光功率就越大。此外，灵敏度还和系统的码速、接收端光电检测器的类型有关。接收机灵敏度的测试框图如图9.11所示。图9.11 接收机灵敏度测试原理框图 测试步骤如下：(1)按照测试框图连接线路。(2)由误码仪向光端机送入测试信号，对不同信号的选择和光功率测试时相同。(3)调节可变衰减器，逐步增大衰减，这时误码率会逐步增高，直到出现要求的误码率，例如110-11，并在一定的观察时间内保持稳定，表明已到
30、达系统要求的误码率临界状态。(4)在R点断开光端机的连接器，用光纤测试线连接R点和光功率计，此时测得的光功率值即为光接收机的最小可接收光功率。在测试时需要注意的是，误码率是一个统计平均值，只有当测试时间足够长时，测试结果才准确，并且测试时间与系统的码速和误码率有关，码速越高，误码率越大，测试时间越短。4)动态范围 接收机接收到的信号功率过小，会产生误码，但是如果接收的光信号过大，又会使接收机内部器件过载，同样产生误码。所以为了保证系统的误码特性，需要保证输入信号在一定的范围内变化，光接收机这种适应输入信号在一定范围内变化的能力称为光接收机的动态范围，它可以表示为式中，在满足误码条件下，Pmax
31、是允许接收到的最大光功率，Pmin是接收机灵敏度。测试框图如图9.12所示，它和接收机灵敏度测试框图略有不同，去除了光纤线路对误码的影响。图9.12 接收机动态范围测试原理框图 测试步骤如下：(1)按照框图将线路连好，送入所需的测试信号。(2)减小可变衰减器的衰减量，使接收光功率逐渐增大，出现误码后，增加光衰减量，直到误码率刚好回到规定值并稳定一定时间后，在R点接上光功率计读取的功率值即为Pmax。(3)继续增大衰减量，直到出现较大误码的临界状态并稳定一定时间后，测得的光功率为Pmin。根据公式计算可得动态范围D。需要注意的是，动态范围的测试也要考虑测试时间的长短，只有在较长时间内系统处于误码
32、要求指标以内的条件下测得的功率值才是正确的。2.电接口的指标测试 图9.9中的A点及B点均为电接口，通常A点称为输入口，B点称为输出口。在输入口和输出口都需要测试的指标(称为一般指标)有比特率及容差，发射损耗；在输入口测试的指标有输入口允许衰减和抗干扰能力、输入抖动容限；在输出口测试的指标有输出口脉冲波形、无输入抖动的输出抖动容限等。1)码速偏移 在ITU-T的建议中，对各种系统的码速或时钟频率给出了一定的容差，当输入信号的码速或时钟频率在该范围内变化时，系统能正常工作，不产生误码。容许偏差的范围如表9.1所示。表中的容许偏差用ppm表示，含义是百万分之一的意思。例如2048 kb/s的码速，
33、容许偏差为50 ppm，实际的码速偏移为（204810 35010-6）=102 b/s。ppm 值越大，并不表示容许的码速偏移越大，实际容许的码速偏移的大小要由计算结果来确定。码速越高，容许的ppm值应越小。表 9.1 电接口标称比特率及容差 输入口码速容许偏差的测试框图如图9.13所示。测试时，调高或调低码型发生器的比特率，直到在误码仪上出现误码，然后回调，读出使得刚好不出现误码的临界比特率，则码型发生器上的最高或最低码速之差即为正、负方向的最大容差。图9.13 输入口码速容许偏差的测试框图 测试输出口码速偏差时，需要先测得输出口的比特率。在图9.13的输出口处接一个数字测试仪及数字式频率
34、计，数字式频率计从接收信号中提取时钟，由频率计根据提取的时钟给出信号的比特率。它与标称比特率之间的差值应在表9.1所示的容差范围内。2)反射损耗 当光端机的输入阻抗ZX和传输电缆的特性阻抗ZC不相等时，就会在光端机接口处产生反射，反射信号和入射信号叠加，就会使光端机接口处的信号失真，造成误码。为了保证数字传输系统的指标要求，我们希望发射信号尽可能小，发射损耗尽可能大。用bp来表示反射损耗，定义为 一般ZC=75。如果ZX=ZC，则没有反射信号，即此时反射损耗最大。对于实际的光端机，电接口不可能完全阻抗匹配，为了保证系统正常工作，反射损耗应达到规定值。表9.2给出了对输入口的反射损耗要求。表 9
35、.2 电接口反射损耗指标 光端机输入口和输出口的反射损耗测试方法相同，图9.14为输入口测试框图。振荡器发出测试所需的电信号，75 电桥提供标准75 阻抗，选频表用于测试某一频率下的电信号功率值。测试时，首先断开ZX，调整振荡器输出，此时选频表的指示即为入射功率P1（dBm）；再将ZX接在反射电桥上，此时选频表的指示即为反射功率P2（dBm），那么反射损耗bp=P1-P2（dB）。图9.14 电接口输入端反射损耗测试框图 3)输入连线衰减 一般情况下，信号由电端机送到光端机时，需要经过一段电缆，电缆对电信号具有一定的衰减，这就要求光端机能容许输入口信号有一定的衰减和畸变，而系统此时不会发生误码
36、。这种光端机输入口能承受的传输衰减，叫做允许的连线衰减。不同码速下输入口容许的连线衰减测试指标要求如表9.3所示，测试框图如图9.15所示。表9.3 输入口允许的连线衰减和抗干扰能力图9.15 输入口容许的连线衰减测试 测试时按照图9.15连接线路。输入口的连接电缆对信号的衰减符合 衰减规律。接收机对端环回，这样测试的线路较长；也可以直接在接收端测试误码，但仪表使用分离，不太方便。码型发生器输入相应的测试信号，经过衰减送入光端机，使连接电缆的损耗在表9.3要求的范围内变化，以误码检测器检测不到误码时的衰减值为测试结果。4)输入口抗干扰能力 对光端机而言，由于数字配线架和上游设备输出口阻抗的不均
37、匀性，会在接口处产生信号反射，反射信号对有用信号是个干扰。通常把光端机在接收被干扰的有用信号后仍不会产生码的这种能力称为抗干扰能力。因此常用有用信号功率和干扰信号功率之比表示抗干扰能力的大小。测试框图如图9.16所示。测试时干扰信号和有用信号经过混合网络合并在一起，输入口衰减电缆按表9.3选取，信号功率与干扰信号功率的比值按表9.3取值，以误码检测器检测不到误码时的测试功率为准。图9.16 输入口抗干扰能力测试框图 5)输出波形测试 为了使各厂家生产的不同型号的设备能彼此相连，就要求这些设备的接口波形必须符合ITUT提出的要求，即符合G.703建议中的脉冲波形样板，其图形如图9.17所示。接口
38、码速不同，对脉冲波形的要求不同，每种波形的脉冲宽度与幅度、上升时间、下降时间、过冲过程都有严格规定。只要设备接口波形在样板斜线范围内，则同一码速的不同型号的设备就能互连。图9.17 部分脉冲波形样板 图9.17 部分脉冲波形样板 图9.17 部分脉冲波形样板 图9.18 输出口波形样板测试框图 9.4 光纤通信系统测试光纤通信系统测试 9.4.1 误码性能及测试 系统的误码特性是衡量系统优劣的一个非常重要的指标，它反映了数字信息在传输过程中受到损伤的程度，通常有以下几种衡量方式和指标。1.平均误码率（BER）、劣化分（DM）、严重误码秒（SES）和误码秒（ES）BER一般是指在一段较长时间内出
39、现误码的个数和传输的总码元数的比值。可以表示为 BER=误码个数 传输的总码元数 此处传输的总码元数等于系统传输码速率与测试时间的乘积。对于一个64 kb/s的数字电话，如果BER10-6，则话音十分清晰，感觉不到噪声和干扰；若BER达到10-5，则在低声说话时就会感到有干扰存在，即有个别的喀喀声存在；若BER高达10-3，则不仅感到严重的干扰，可懂度也会受到影响。从定义可以知道，BER反映的是一段测试时间内的平均误码结果，它无法反映误码的随机性和突发性。在较长的观察时间里（几天到一个月），设T（1分钟或1秒钟）为一个抽样观察时间，设定BER的某一门限值为M，记录下每一个T内的BER，其中BE
40、R超过门限值M的次数T和总观察时间内的可用时间之比，称为误码的时间百分数。在每1分钟内误码性能劣于110-6的分钟称为劣化分，用DM表示。通常把误码率劣于110-3的秒称为严重误码秒。在数字通信中，有一些重要的信息包，希望一个误码也没有。只要1秒内有误码发生，相应的数据就要重发，所以引入了误码秒（ES）来描述这种情况，即把有误码发生的秒称为误码秒（ES）。64 kb/s业务在全程网上需要满足的指标如表9.4所示。表9.4 64 kb/s业务的误码性能指标2.误码性能测试测试框图如图9.19所示。图9.19 误码性能测试框图 采用远端电接口环回，本端测试。本端的误码仪发送规定的测试信号，环回后在
41、本端接收口检测出有关误码的情况。一般测试时间在24小时以上。最后根据统计的误码结果计算出BER、DM、SES、ES等指标。这种测试方法所得的指标是实际光纤通信系统指标的2 倍。9.4.2 抖动性能及测试 数字信号（包括时钟信号）的各个有效瞬间对于标准时间位置的偏差称为抖动（或漂动）。这种信号边缘相位的向前向后变化给时钟恢复电路和先进先出（FIFO）缓存器的工作带来一系列的问题，是使信号判决偏离最佳判决时间、影响系统性能的重要因素。在光纤通信中，将10 Hz以上的长期相位变化称为漂动，而10 Hz以下的则称为抖动。数字信号的有效瞬间可以超前或滞后标准时间的位置，我们就把这种时间偏差的最大值称为抖
42、动峰-峰值，用它来衡量抖动大小。峰峰值用J P-P表示，单位为UI，表示单位时隙。当传输NRZ码时，1 UI就是1 bit信息所占用的时间，它在数值上等于传输速率的倒数。抖动在本质上相当于低频振荡的相位调制加载到了传输的数字信号上。产生抖动的原因主要有随机噪声、时钟提取回路中调谐频率偏移、接收机的码间干扰和振幅相位换算等。在多中继长途光纤通信中，抖动具有累积性。抖动在数字传输系统中最终表现为数字端机解调后的噪声，它使信噪比劣化，灵敏度降低。抖动难以完全消除，为了保证数字网的抖动要求，必须根据抖动的累积规律对光纤传输系统的抖动提出限制。衡量系统抖动性能的参数有三个：输入抖动容限、无输入抖动时的输
43、出抖动容限及抖动转移特性。1.输入抖动容限 光纤通信系统各次群的输入接口必须容许输入信号含有一定的抖动，系统容许的输入信号的最大抖动范围称为输入抖动容限，超过这个范围，系统将不再有正常的指标。根据ITUT建议，PDH各次群输入接口的输入抖动容限必须在图9.20所示的曲线之上。表9.5给出了图中各量的对应值。而对于SDH系统，STM N光接口输入抖动和漂移容限要求如图9.21和表9.6所示。图9.20 PDH输入抖动容限 表9.5 PDH输入抖动容限要求图9.21 STM N输入抖动和漂移下限（参照G.825）表9.6 STM N光接口输入抖动和漂移容限要求（参照G.825）2.输出抖动 当系统
44、无输入抖动时，输出口的信号抖动称为输出抖动。根据ITU-T建议和我国国标，在全程网（或一个数字段）用带通滤波器对PDH各次群的输出口进行测试，输出抖动不应超过表9.7给出的容限值，SDH设备的各STM N口的固有抖动不应超过表9.8给出的容限值。表9.7 PDH各次群的输出抖动容限表9.8 STM N接口抖动容限（参照G.813）3.抖动转移 抖动转移也称为抖动传递，定义为系统输出信号的抖动与输入信号中具有相应频率的抖动之比。抖动转移特性用来验证系统对高低频抖动的适应能力。图9.22给出了对SDH再生器抖动传递特性的要求。对于STM 16，f0=30 kHz，p=0.1 dB。图9.22 抖动
45、转移特性 4.抖动性能测试 抖动性能测试框图如图9.23所示。低频振荡发出的信号作为抖动信号，对误码仪发出的规定的测试信号进行干扰，误码仪与光端机之间的连接电缆符合 衰减规律。图9.23 抖动特性测试框图 （1）输入抖动测试。按照框图接好测试系统，用低频信号调制误码仪的发送端，向光端机输入口送入一定抖动幅度和抖动频率的测试信号。固定低频信号频率，加大信号幅度，即加大抖动幅度，直到误码仪刚好不出现误码时，稳定60 s，此时在A点接上抖动检测器，测出的抖动数值即为此频率下的输入抖动容限。然后改变频率，重复上述步骤，得到的值与图9.20和9.21的曲线比较，在曲线之上即为合格。（2）输出抖动测试。不
46、接低频信号发生器，从抖动检测器读出输出抖动，由于是环回测试，因此测得的抖动值的一半才是实际系统的输出抖动。对比输出抖动容限要求，其值小于表9.6表9.8的值即为合格。（3）抖动转移特性测试。输入低频调制的抖动信号，将抖动检测器与A点相连，读出抖动幅度Pin，再将抖动检测器与B点相连，读出输出幅度Pout，抖动增益G为Pout-Pin。由于是环回测试，实际系统的抖动增益是该值的一半。改变抖动频率，重复上述步骤，可以得到不同抖动频率下的G值，与图9.22对比，在该曲线之下的即为合格。9.5 误码测试仪与其他常用仪表误码测试仪与其他常用仪表 在前面的测试中频繁地用到误码仪，下面就简单地介绍一下误码仪
47、的原理。误码测试仪由三大部分组成：发码发生器、误码检测器和指示器，如图9.24所示。发码发生器可以产生测试所需的各种不同序列长度的伪随机码（27-1223-1），接口电路可以实现输出CMI码、HDB3码、NRZ码、RZ码等码型。误码检测器包括本地码发生器，同步电路和误码检测部分。本地码发生器的构成和发码发生器相同，可以产生和发码发生器完全相同的码序列，并通过同步设备与接收到的码序列同步。误码检测电路将本地码和接收码进行比较，检测出误码信息送入计数器显示。图9.24 误码仪框图 误码分析仪的基本结构和误码测试仪相同，但是其内部具有CPU，可以对测试结果进行分析，给出BER、ES、SES、DM等信
48、息。有的还可以自动计算出被测设备或系统的“利用率”和“可靠度”等。数字传输分析仪除了具有误码分析的全部功能外，还包括抖动发生器，能产生测试所需要的各种幅度可调的低频信号，并将其调制到发码上，产生带有抖动的数字序列。数字传输分析仪的接收部分，除具有误码检测设备外，还能测试抖动量，因此该设备能测试全部的误码性能和抖动性能。9.6 波长计、波长计、光谱分析仪光谱分析仪OSA及应用及应用 9.6.1 波长计 对以SDH终端设备为基础的多波长密集光波分复用系统和单波长SDH系统的测试要求差别很大。首先，单波长光通信系统的精确波长测试是不重要的，只需用普通的光功率计测试光功率值就可判断光系统是否正常了。设
49、置光功率计到一个特定的波长值，例如1310 nm或1550nm，仅用作不同波长区光系统光源发光功率测试的较准与修正，因为对宽光谱的功率计而言，光源波长差几十纳米时测出的光功率值的差别也不大。可是，对DWDM系统就完全不同了，系统有很多波长，很多光路，要分别测出系统中每个光路的波长值与光功率大小，才能共同判断出是哪个波长、哪个光路系统出了问题。由于各个光路的波长间隔通常是1.6 nm（200 GHz）、0.8 nm（100 GHz），甚至0.4 nm（50 GHz），故必须要用有波长选择性的光功率计，即用波长计或光谱分析仪（OSA）才能测出系统的各个光路的波长值和光功率的大小，因此，用一般的光功
50、率计测出系统的总光功率值是不解决问题的。其次，为了平滑地增加波长，扩大DWDM系统容量，或为了灵活地调度、调整电路和网络的容量，需要减少某个DWDM系统的波长数，即要求DWDM系统在增加或减少波长数时，总的输出光功率基本稳定。在这种情况下，当有某个光路、某个净负荷载体，即光波长或光载频失效时，用普通光功率计测试总光功率值是无法发现问题的，因为一两个光载频功率大大降低或失效，对总的光功率值影响很小。此时，必须对各个光载频的功率进行选择性测试，不仅测出光功率电平值，而且还要准确地测出具体的波长数值后，才能确切知道是哪个波长、哪条光路出了问题。这不仅在判断光路故障时非常必要，而且在系统安装、调测和日
