1、2022-10-7数字电路实验()集成逻辑门电路逻辑功能的测试集成逻辑门电路逻辑功能的测试2022-10-7数字电路实验()一、实验目的一、实验目的认识数字电子技术实验的仪器、设备及使用方法。认识数字电子技术实验的仪器、设备及使用方法。逐步熟悉常用的集成电路芯片。逐步熟悉常用的集成电路芯片。了解逻辑代数的物理意义。了解逻辑代数的物理意义。2022-10-7数字电路实验()二、实验仪器及设备二、实验仪器及设备1.数字逻辑实验台数字逻辑实验台 1台台2.元器件：元器件：74LS08（二输入端四与门）（二输入端四与门）1片片 74LS32（二输入端四或门）（二输入端四或门）1片片 74LS04（六反
2、相器）（六反相器）1片片 74LS00（二输入端四与非门）（二输入端四与非门）1片片 74LS02（二输入端四或非门）（二输入端四或非门）1片片2022-10-7数字电路实验()三、实验内容三、实验内容1测试测试74LS08（二输入端四与门）逻辑功能（二输入端四与门）逻辑功能2测试测试74LS32（二输入端四或门）逻辑功能（二输入端四或门）逻辑功能3测试测试74LS04（六反相器）逻辑功能（六反相器）逻辑功能4测试测试74LS00（二输入端四与非门）逻辑功能（二输入端四与非门）逻辑功能5测试测试74LS02（四输入端二与非门）逻辑功能（四输入端二与非门）逻辑功能2022-10-7数字电路实验(
3、)集成块实物图集成块实物图2022-10-7数字电路实验()2022-10-7数字电路实验()1测试测试74LS08的逻辑功能的逻辑功能 将将74LS08芯片正确插入面包板，并注意识别第芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。2022-10-7数字电路实验()实物接线图实物接线图2022-10-7数字电路实验()2测试测试74LS32的逻辑功能的逻辑功能 将将74LS32正确插入面包板，并
4、注意识别第正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。2022-10-7数字电路实验()3测试测试74LS04的逻辑功能的逻辑功能 将将74LS04正确插入面包板，并注意识别第正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。求输入高、低电平信号，测出
5、相应的输出逻辑电平。2022-10-7数字电路实验()4测试测试74LS00的逻辑功能的逻辑功能 将将74LS00芯片正确插入面包板，并注意识别第芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。2022-10-7数字电路实验()2022-10-7数字电路实验()5测试测试74LS02的逻辑功能的逻辑功能 将将74LS02芯片正确插入面包板，并注意识别第芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位脚位置（
6、集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。2022-10-7数字电路实验()6测试测试74LS86的逻辑功能的逻辑功能 将将74LS86芯片正确插入面包板，并注意识别第芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。2022-10-7数字电路实验()四、实验记录四、实验记录2022-10-7数字电路实验()五、实验结果分析五、实验结果分析总结与门、或门、非门、与非、或非门、异或的逻辑规律。总结与门、或门、非门、与非、或非门、异或的逻辑规律。
