1、第4章 电子元器件与集成电路测量4.1 电阻电阻、电感和电容的测量电感和电容的测量4.2 半导体二极管、三极管与场效应管的测量半导体二极管、三极管与场效应管的测量4.3 集成电路的集成电路的测试测试4.1 电阻、电阻、电感和电容的测量电感和电容的测量4.1.1 阻抗的概念阻抗的概念如图4.1所示,在一个二端元件或一个无源网络的一对输入端施加一激励电压信号(直流或交流),将产生一个电流,这时我们将电压与电流之比称为阻抗。图4.1 阻抗的示意图电抗的特性一般随频率的变化而变化。在直流时,电感性器件的电抗为零,电容性器件的电抗为无限大。图4.2所示的是三种基本元件电阻、电感、电容的理想模型。实际的元
2、件是复杂的,每一种元器件在高频工作时都会在不同程度上显示所有三种特性。图4.3所示即为电阻、电感、电容的实际等效电路。图4.2 理想的电阻、电感、电容图4.3 电阻、电感、电容的实际等效电路为了讨论问题的方便,通常将阻抗元件等效为一个理想电阻与一个理想电感或理想电容相串联的形式,如图4.4所示。图4.4 感抗与容抗元件的等效同时定义:Q 用于表征元件存储与消耗能量之比,常称为品质因数。对于电感,有对于电容,有显然,R 越小,Q 值越大,电感和电容越接近理想电感和理想电容。4.1.2 电阻的特性与测量电阻的特性与测量1.电阻的参数和种类电阻的参数和种类电阻是电路中应用最多的元件之一,常应用于对电
3、流信号进行分流或对电压信号进行分压。电阻的最主要参数是标称阻值和额定功率。标称阻值是指电阻上标注的电阻值;额定功率是指电阻在一定条件下长期连续工作所允许承受的最大功率。电阻的种类繁多,按制作材料可分为碳膜电阻、金属膜电阻与线绕电阻;按外形可分为固定电阻和可调电阻;按精度可分为普通电阻与精密电阻;按用途可分为普通电阻、压敏电阻、温敏电阻和湿敏电阻等。此外,还有无感电阻、贴片电阻等,它们都有不同的用途。电阻的类别和主要技术参数可以直接标注在电阻的表面,这种标示法称为直标法。如图4.5(a)所示电阻为碳膜电阻,阻值为100,精度为1%。图4.5(b)所示为电阻额定功率的直接标示法。图4.5 电阻的标
4、注电阻的另一种标示法是色环法,即将电阻的类别和主要技术参数的数值用相应的颜色(色环)标注在电阻的表面上。如图4.5(c)所示。其中,第一、第二色环表示电阻倍乘的量值;第三环表示倍乘的幂值,将第一、第二、第三色环分别用x、y、z 表示,则电阻阻值为R=(10 x+y)10z,第四色环表示电阻的误差。色环法中各种颜色代表的量值如表4.1所示。表4.2列出了贴片电阻封装英制和公制的关系及详细的尺寸。0201、0402规格的贴片电阻由于其面积太小,通常上面都不印字;0603、0805、1206、1210、1812、2010、2512规格的贴片电阻上面印有3 位数或者4 位数,具体含义如下。2.电阻的测
5、量电阻的测量 对于阻值固定且在低频下工作的电阻,可根据欧姆定律对其进行测定。只要测得电阻两端的电压以及流过电阻的电流,即可由欧姆定律R=U/I 求出电阻的实际数值。图4.6给出了两种利用电流表和电压表测量电阻的方法。图4.6 电阻测量的基本电路当对电阻的测量精度要求很高时,可用直流电桥进行测量。一种叫惠斯登电桥的测量方法原理如图4.7所示,图中R1、R2 是固定电阻,R1/R2=K,RN 为标准电阻,Rx 为被测电阻,G 为检流计。测量时,通过调节RN,使电桥平衡,即检流计指示为零。此时有也即所以有图4.7 惠斯登电桥测电阻4.1.3 电感的特性与测量电感的特性与测量1.电感的种类与参数电感的
6、种类与参数电感的主要参数有三个,即电感量、品质因数和分布电容。(1)电感量。电感线圈的电感量L 表示线圈产生自感应的能力的大小。它的定义是,当线圈中及其周围不存在铁磁物质时,通过线圈的磁通量与流过线圈的电流成正比,这个比值称为线圈的电感量。(2)品质因数。电感的等效电路如图4.3所示。电感损耗电阻为R,在一定频率的交流电压下工作时,电感所呈现的感抗与损耗电阻R 之比,称为电感的品质因数Q,即R 越小,Q 值越高。较高的品质因数是高频电路对谐振线圈的基本要求。(3)分布电容。由于制作工艺的原因,电感线圈的匝与匝之间密切接触,存在着一定量的分布电容,在高频时会使线圈的稳定性变差,Q 值下降。分布电
7、容越小越好。2.电感的测量电感的测量1)利用通用仪器测量在低频工作时,若忽略电感的损耗,则电感成为理想电感,可以按照复数形式的欧姆定律进行测量。其方法是在交流电压工作条件下,利用电压表和电流表测出加于电感两端的电压U 和流过电感的电流I,则有L=U/I,如图4.8所示。图4.8 用通用仪器测量电感示意图2)交流电桥法测量在低频情况下,若电感的损耗不可忽略,则可以用交流电桥进行测量。测量电路如图4.9 所示。图4.9 交流电桥法测电感图4.9中,Lx 与Rx 是被测电感的串联模型。激励源u(t)是频率为50Hz至几百赫兹的正弦波。R1、R2、Cn 是可调电阻与可调电容。测量时反复调节R1、R2、
8、Cn,使电桥达到平衡,检流计中无电流通过。根据平衡方程有3)用谐振电路测量由电工学可知,电感与电容可以组成谐振电路,谐振时电路中的感抗与容抗相等,电抗为零。若已知激励源频率,且电感与电容中有一个为已知量,则可测出另一个量。测量电路如图 4.10 所示。图4.10 谐振法测电感图中 L为被测电感,C0 为电感分布电容,C 为标准电容。测量时,首先调节信号源的频率,使电压表的读数为最大值,记下此时频率f1,这时有由于式中C0 未知,因此需进行第二次测量,此时不接入电容C,对应的谐振频率为f2,因此有所以有4)用Q 表测量Q 表可以用来准确测量电感线圈的Q 值与电感量,其基本电路如图4.11所示。图
9、4.11 用Q 表测电感5)用电子仪表测量常用的 LCR测试仪器测量电感就采用了电感 电压转换法,如图4.12所示。图4.12 电感 电压转换法测量电感4.1.4 电容的特性与测量电容的特性与测量1.电容的参数、种类与标识方法电容的参数、种类与标识方法1)电容的参数电容的主要参数为电容量和额定工作电压。电容量表示在单位电压上电容器能存储多少电荷。电容量与电容器两极板的面积成正比,与两极板的距离成反比,还与两极板之间的介质有关。电容器的工作电压是指在规定的温度范围内,电容器能够长期可靠工作的最高电压。2)电容的种类电容器的种类很多。根据制作材料来分,有铝质电容、钽电容、云电容、独石电容、涤纶电容
10、、瓷片电容等;根据工作电压来分,有低压电容和高压电容;根据工作频率来分,有低频电容和高频电容。此外还有固定电容、可变电容、穿心电容等,可根据工作条件与要求加以选用。3)电容的标注方法和电阻的标注方法相类似,电容的标注方法有直标法和色标法两种。2.电容的测量电容的测量1)用谐振法测量电容测量电路如图4.13所示。图4.13 谐振法测电容图中Us 为激励信号源,L 为标 准 电 感,Cs 为 确 定 的 电 感 分 布 电容,R 为信号源内阻,Cx 为被测电容。测量时可反复调节信号源频率,使电压表读数最大,这时信号源的频率为f0,由电路谐振条件可知2)用Q 表测量Q 表常用于对在高频下工作的电容器
11、进行测量。这时被测电容器可等效为一个理想电容与一个较大的电阻相并联的模型。实际测量电路如图4.14所示。图4.14 用Q 表测电容具体的测量步骤是:首先选定合适的外接电感L0,将Q 表的调谐电容C 调至最大容量附近,调节振荡器频率使电路谐振,这时谐振频率为f0,电路Q 值为Q1;接着将被测电容Cx 跨接于外接电容上,重新调整调谐电容,使电路达到谐振,将新的调谐电容的值记为C2,新的Q 值为Q2,这时有3)用转化法测量现代电子测量技术中常用转换法来对电容进行更精确的测量。其基本思想是:将电容接入电子线路,通过测量由于电容的变化而引起的其他量的变化来确定电容的值。举例来说,多谐振荡器的频率与振荡电
12、容有着确定的关系,如果将被测电容作为振荡电容,则可以构成一个电容 频率转换电路,具体电路如图4.15所示。图4.15 电容 频率转换电路更为一般的是采用电容 电压转换电路对电容进行数字化测量,其原理类似于图 4.12所示的电感测量电路,具体电路如图4.16所示。图4.16 电容 电压转换电路4.1.5 LCR测试仪测试仪LCR测试仪又称 LCR表,是用于测量电感、电容、电阻、阻抗、Q 值等元器件参数的专用仪器,其基本原理是惠斯登电桥测量法,因而它又被称 LCR电桥。现代 LCR测试仪大都使用自动平衡电桥法,其原理如图4.17所示。图4.17 自动平衡电桥法阻抗测量原理4.2 半导体二极管、半导
13、体二极管、三极管与场效应管的测量三极管与场效应管的测量4.2.1 半导体二极管的测量半导体二极管的测量1.二极管的特性、种类与参数二极管的特性、种类与参数单向导电性是二极管的根本特性。由于制作材料和使用性能的差异,二极管的种类很多,典型的有开关二极管、整流二极管、检波二极管、稳压二极管、发光二极管、变容二极管等。决定二极管作用的主要参数如下:(1)最大整流电流IFM。在此电流下二极管可以长期正常工作;超过此电流时,二极管的 PN 结会发热并造成损坏。(2)最大反向工作电压URM。URM 是指二极管在电路中工作时容许承受的最大反向电压,超过此电压时二极管容易被击穿,造成永久性损坏。(3)反向电流
14、IR。IR 是指二极管处于正常的反向工作电压下产生的反向电流。(4)导通电阻。在二极管的两端施加合适的正向直流电压使其导通,这时该电压与流过二极管的电流之比称为导通电阻。(5)极间电容。二极管是点或面接触型器件,两极之间存在电容效应。2.二极管的测量二极管的测量1)用模拟万用表测量通常万用表的红表笔置于面板上“+”端口,黑表笔置于“-”端口。万用表在欧姆挡工作,由表内电池提供电源,“-”端对应电池正端,“+”端对应电池负端。内部电池这样设计,是为了保证在电阻测量时流入万用表的电流与进行电压或电流测量时相同。用模拟万用表测量二极管的等效电路如图4.18所示。图4.18 用模拟万用表测量二极管2)
15、用数字万用表测量一般的数字万用表(例如 VC9801A 等)都有二极管测试挡,与模拟万用表测量二极管不同,用数字万用表测量时,将二极管作为一个分压器来检测。当二极管的正、负极与数字万用表红、黑表笔相接时,二极管正向导通,万用表指示出二极管的正向导通电压。若将数字万用表的表笔对调,则二极管不导通,万用表上显示的电压值为2.8V。3)用通用仪表与适配电路测量对于二极管的一些重要属性,万用表是无法测量的,而专用测试仪表通常又很昂贵。因此可以设计一些适应性电路与通用仪表相结合,如图4.19所示,以解决二极管测量中的问题。4)用晶体管图示仪测量晶体管特性图示仪不仅可以测量二极管的大多数参数,而且能够以图
16、形的形式展示二极管的正向伏安特性曲线。图4.19 用通用仪表测二极管4.2.2 晶体三极管的测量晶体三极管的测量1.三极管的特征、类型与参数三极管的特征、类型与参数在满足一定的条件时,对小信号输入电流进行线性放大,或者控制大信号(开关信号)的传递,是三极管的基本特征。三极管有多种类型,按制作材料来分,有锗三极管和硅三极管;按 PN 结构来分,有PNP型管和 NPN 型管;按消耗功率来分,有小功率、中功率和大功率三极管;按工作频率来分,有低频三极管、高频三极管和超高频三极管;按工作电压来分,有低反压三极管和高反压三极管;按工作特性来分,有普通三极管与开关三极管等。2.三极管的测量三极管的测量三极
17、管的测量主要包括两部分:一部分是晶体管作为独立器件的重要参数的测定,另一部分是晶体管电路特性的测量。1)用万用表测量模拟万用表常用来判定三极管的引脚和好坏。例如,NPN 型三极管可按图4.20来判定三极管的集电极与发射极。图4.20 用万用表判定三极管的c、e极2)用晶体管特性图示仪测量晶体管特性图示仪是测量晶体管的专用仪器,可用来测量晶体管的多种直流参数和低频工作时的动态特性。晶体管特性图示仪的内部结构一般有电子管式、晶体管式和集成电路式三种类型,由基极阶梯信号发生器、集电极扫描电压发生器、测试转换与控制电路、显示单元(包括显示处理电路和显示器),如图4.21所示。图4.21 晶体管特性图示
18、仪基本组成原理图4.22所示是晶体管图示仪显示的小功率三极管9013的ce极输出特性曲线。图4.22 9013型三极管的c e极输出特性曲线4.2.3 场效应管的测量场效应管的测量场效应管是一种电压控制型半导体器件。与晶体三极管不同,场效应管具有极高的输入阻抗,故其在工作时的输入电流几乎为零,输出电压的变化取决于输入电压的变化。场效应管也有三个电极,分别为栅极、漏极和源极,分别用 G、S、D表示。场效应管可分为结型场效应管和绝缘栅型场效应管。场效应管的重要参数是饱和漏极电流IDSS、夹断电压UP 和转移跨导gM。场效应管的参数可以从半导体器件手册上查得,也可以用专用测量仪器测得。1.用晶体管特
19、性图示仪测量用晶体管特性图示仪测量用晶体管特性图示仪测量场效应管的方法类同于晶体三极管的测量。2.用通用仪表与适配电路测量用通用仪表与适配电路测量图4.23(a)中的电流表直接指示出被测场效应管的I。图4.23(b)是测量场效应管夹断电压的简易电路。当UGG为零时,电路同图4.23(a)一致。图4.23 用电流表和适配电路测量场效应管4.3 集成电路的测试集成电路的测试4.3.1 中小规模集成电路的一般测试中小规模集成电路的一般测试1.模拟集成电路的测试模拟集成电路的测试模拟集成电路是相对于数字逻辑电路的另一大类集成电路,其特点是处理的主要是模拟信号。1)线性芯片测试线性集成电路在其工作范围内
20、,仅对输入信号作一定比例的放大,不丢失原来的频率分量或产生新的频率分量。运算放大器是最常用的一种线性集成电路芯片。掌握了运算放大器特性的测量原理与方法,即掌握了一般线性集成电路的测试方法。理想的运算放大电路如图4.24所示,该电路具有如下特性:输入阻抗Rin=;输出阻抗Ro=0;电压增益Av=;带宽为;当Uin-Uin+=0时,Uo=0。图4.24 基本的运算放大电路(1)运算放大器开环输入阻抗的测量。运算放大器的输入阻抗由两输入端之间和每个输入端与地之间的阻抗组成,如图4.25所示。Rin称为差分输入阻抗,Rc 称为共模输入阻抗。当运算放大器作为反相放大器使用时,同相输入端接,RcRin,可
21、以近似认为差分输入阻抗即为其输入阻抗。图4.25 运算放大器输入阻抗测量运算放大器开环输入阻抗的电路如图4.26所示。为了避免运算放大器在开环状态下由于输入失调电压的影响而处于饱和状态,首先调节电位器 Rw,使得运算放大器输出直流电压为00.1V,然后调节信号发生器的输出电压Us,使得运算放大器输出交流电压Uo 的值在1V 附近,记为Uo1。再将图中两个1k 电阻换成2个Rx,测得运算放大器的输出交流电压为Uo2,从而有图4.26 运算放大器开环输入阻抗测量电路(2)运算放大器开环增益Av 的测量。Av 的测量仍采用图4.26所示的测量电路。因为Av=Uo/Ui,且所以(3)运算放大器转换速率
22、(Sr)的测量。运算放大器能够将正弦信号转化为矩形波,这种大信号的工作特性一般用Sr 来表征,可以用示波器来测量。具体测量电路如图4.27所示。U(t)为低频(100Hz)方波,Sr=U/t。图4.27 运算放大器转换速率的测量2)一般模拟集成芯片的测试(1)性能指标测量。可以采用与测量运算放大器的特性参数相类似的方法,设计测量一般模拟集成芯片的电路。图4.28是单片集成锁相环CD4046的测试电路。图4.28 CD4046性能测试电路(2)集成芯片的在线测试。在调试和维修工作中,常常对已焊接在电子线路板上的集成芯片是否正常产生疑问。这时采用在线测试的方法,可以解决大多数问题。在线测试一般有以
23、下几种方法:电阻测量法:在不加电的情况下,测量功能引脚对地电阻和一些引脚之间的电阻。电压测量法:测量多引脚的直流电压(对地)。信号注入法:从某个引脚注入外部信号,观察芯片的输出状态。与正常芯片的状态进行对照,这是在线测试法的理论核心。用方法与测试时,如发现某个引脚的电阻或电压与正常电路该引脚的电阻或电压的差异较大,则对引脚外围元件加以检查。必要时甚至断开引脚检查。如确认外围无误,则可认定芯片有损。用方法测试时,将集成电路内部分成几部分则可以压缩故障范围。以调频信号解调芯片PC1353为例,该芯片内部有调频/调幅信号转换电路、检波电路和高频功率放大电路,如图4.29所示,正常时PC1353各引脚
24、对地电压如表4.5所示。图4.29 PC1353应用电路2.数字集成电路的测试数字集成电路的测试数字集成电路处理的都是以0、1为特征的数字电压。数字集成电路的电特性主要是数字电路的电特性,最主要的有输入电平、输出电平、输入电流、输出电流、转换时间、延迟时间、功率消耗等。对于这些电特性的测试完全可以参照模拟集成电路的测试方法,按照技术要求设置电路工作条件,选用合适的测试仪表来完成。数字集成电路的功能,主要体现在逻辑关系与时序关系上。4.3.2 集成电路测试仪集成电路测试仪集成电路测试仪(或测试系统)是用于集成电路设计、验证、生产测试的专用仪器(系统),按测试门类可分为数字集成电路测试仪、存储器测
25、试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。由于这些测试仪的测试对象、测试方法以及测试内容都存在差异,因此各系统的结构、配置和技术性能差别较大。集成电路测试系统的发展水平是集成电路产业的重要标志,高水平的集成电路测试系统主要集中在集成电路生产大国(美国和日本)。4.3.3 大规模数字集成电路的大规模数字集成电路的JTAG测试测试IEEE1149.1标准支持以下三种测试功能:(1)内部测试IC内部的逻辑测试;(2)外部测试IC间相互连接的测试;(3)取样测试IC正常运行时的数据取样测试。为了使集成电路达到可扫描的要求,需要对它进行改造。JTAG 标准定义了一个串行的移位寄存器,寄存
26、器的每一个单元分配给IC 芯片的相应引脚,每一个独立的单元称为边界扫描单元(Boundary-ScanCell,BSC),它位于输入引脚和内部逻辑之间,以及内部逻辑与输出引脚之间。BSC起着把输入输出信号与内部逻辑隔离或连通的作用,所有的 BSC在IC内部构成JTAG 串联回路,如图4.30所示。图4.30 可扫描设计增加了 BSC和相应的控制部分后,器件也要相应增加四个或五个引脚,即如下几个JTAG 引脚(如图4.31所示):TCK:测试时钟输入;TDI:测试数据输入,数据通过 TDI输入JTAG 接口;TDO:测试数据输出,数据通过 TDO 从JTAG 接口输出;TMS:测试模式选择,TMS用来设置JTAG 接口处于某种特定的测试模式;TRST:测试复位,输入引脚,低电平有效。(为可选引脚,并非每个JTAG 接口都需要)。图4.31 具有JTAG接口的IC内部 BSR单元与引脚关系图4.32是一个板级JTAG 芯片的互连测试示意图。从图中我们可以看出,各器件的BSC单元串联组成了一个可扫描的网(Net)。这个 Net的互连性都能被正确地检测出来。图4.32 板级JTAG芯片的互连测试
