1、每次实验请注意每次实验请注意1 1 请按指定桌号就坐。请按指定桌号就坐。2 2 实验结束后请整理实验台实验结束后请整理实验台,恢复原样；关恢复原样；关 闭仪器电源及电源接插板开关；椅子推入闭仪器电源及电源接插板开关；椅子推入 实验桌面。实验桌面。3 3 实验结束时间一到，即刻拉闸结束实验。实验结束时间一到，即刻拉闸结束实验。实验目的 加深对与非门基本特性和主要参数的理解，掌握主要参数的测试方法。与非门电路的测试与非门电路的测试数字逻辑实验箱数码管（带译码）数码管（带译码）数码管（无译码）数码管（无译码）向上输出高电平向上输出高电平向下输出低电平向下输出低电平接高电平灯接高电平灯亮，接低电亮，接
2、低电平灯灭平灯灭按下是按下是“0”0”CD4011 四2输入与非门CD4011ABY 芯片74LS00 四2输入与非门ABY 芯片74LS00集成电路：引脚和电源引脚号排列：正读双列直插式集成电路型号，左下角引脚为1，按逆时针方向依次增加，左上角引脚号最大。把集成电路引脚垂直插入插座（到底）。VDD（或VCC）接5V电源，GND接地。输入不允许有负电压。不用的输入端应接确定电平，不得悬空。实验内容必必 做做：测量：测量CMOSCMOS与非门与非门CD4011CD4011的平均延迟时间的平均延迟时间 实验内容中的（实验内容中的（1 1）选做一：测量CMOS与非门CD4011的电压传输特性 实验内
3、容中的（2）注意注意：只要求测出电压传输特性曲线，VOFF、VON等具体值不要 求测量。选做二：测量TTL与非门74LS00的平均延迟时间和电压传输特性。实验内容中的（3）和（4）CMOSCMOS与非门与非门平均延迟时间的测量vI 1MHz方波方波 取自信号发生器的取自信号发生器的“TTL“输出端口输出端口vO 用示波器的用示波器的CH1和和CH2通道通道双踪显示输入、输出波形；双踪显示输入、输出波形；探头用探头用“x10”档。档。50%50%平均延迟时间的测量1 信号发生器的“TTL“输出端口，探头用“x10”档（注意：同时在示波器上要设置 探头衰减常数为10:1）2 调出频率为1MHz的方
4、波（调好后接到实验电路中）3 按下Auto Scale4 按测量Meas按键-在测量菜单里，按类型软键类型软键-选延迟时间选延迟时间；按设置软键设置软键，在测量设置菜单里，源1选1，选上升沿上升沿；源2选2，选下降沿下降沿-按 Back按钮 返回上一级测量菜单，按添加测量添加测量软键，即可得到tPHL5 按设置软键设置软键，在测量设置菜单里，源1选1，选下降沿下降沿；源2选2，选上升沿上升沿 -按Back按钮返回上一级测量菜单，按添加测量添加测量软键，即可得到tPLH 平均延迟时间平均延迟时间 tpd(tpHLtpLH)/2TTL与非门平均延迟时间的测量 输入输入 Vi 为为2MHz方波方波电
5、压传输特性的测量VOHVIVOHminVOLmaxVOLmaxVOFFVONVOHminVNLVNHVOVOL0 实际的曲线很陡，实际的曲线很陡，VOFF和和VON非常接近。非常接近。4.95V 0.05V高电平噪声容限电压高电平噪声容限电压 VNH=VOHmin-VON 低电平噪声容限电压低电平噪声容限电压 VNL=VOFF-VOLmax电压传输特性的测量vIvORL10K 100Hz，0-5V的三角波的三角波 取自信号发生器的取自信号发生器的”50“输出端口输出端口 探头用探头用“x1”档。档。信号发生器的波形选择按信号发生器的波形选择按 钮选择钮选择“三角波三角波”先用示波器监测输入信号
6、，通过先用示波器监测输入信号，通过调节信号发生器的调节信号发生器的APML和和OFFSET旋钮，保证输入没有负旋钮，保证输入没有负电压电压.所施加给电路信号的幅值都以示波器测量为准。所施加给电路信号的幅值都以示波器测量为准。.三角波信号未调好前，不能接入芯片。三角波信号未调好前，不能接入芯片。图图1 1 电压传输特性的测试电路电压传输特性的测试电路vIvORL10k CH1CH20V5VvI2.5V-2.5V0VvIt图图1图图2电压传输特性的测量vIvORL10K v vI I和和v vO O分别接示波器的分别接示波器的CH1CH1和和CH2CH2通道通道 把示波器切换到把示波器切换到XYX
7、Y显示方式显示方式（按按Horiz按键按键-按软键中的时基模式，选按软键中的时基模式，选XY），），即可得电压传输特性曲线。即可得电压传输特性曲线。示波器、信号发生器和被测电路共地。示波器、信号发生器和被测电路共地。CH1CH20101注意事项1.1.把集成电路引脚垂直插入插座（到底）把集成电路引脚垂直插入插座（到底）2.2.不要忘记给芯片接电源和地不要忘记给芯片接电源和地3.3.不许带电接插线及更换元件不许带电接插线及更换元件4.4.电路工作不正常时，首先测试芯片的电源和地引脚。电路工作不正常时，首先测试芯片的电源和地引脚。测测试点试点应是集成电路的管脚处应是集成电路的管脚处1.1.写入实验报告的思考题：写入实验报告的思考题：P82 4.1.8(3)2.2.提交实验报告时间：提交实验报告时间：网络学堂中指定的时间窗口，过期酌情网络学堂中指定的时间窗口，过期酌情减分。减分。实验完毕验收标准1 1 关闭仪器电源及电源接插板开关；关闭仪器电源及电源接插板开关；2 2 整理示波器探头；整理示波器探头；3 3 整理桌面杂物；整理桌面杂物；4 4 将仪器设备放整齐；将仪器设备放整齐；5 5 将椅子推入实验桌下面。将椅子推入实验桌下面。
